在国际市场提供的典型面源黑体(包括Inframet提供的TCB/MTB黑体)被优化,以模拟在常用的红外辐射光谱带中的黑体目标:约1μm至约15μm。这种黑体的发射面的高发射率是通过温度受控的金属板,与其涂覆的高吸收性涂料薄层来实现。由于这种黑体的发射率在波长约0.1mm处开始下降,并且在波长超过约1mm变得非常低,所以典型的面源黑体不能用于模拟THz带(0.1mm至1mm)和亚THz带(1mm至10mm的波长)的黑体目标温度。在典型的红外黑体中使用的高辐射率涂层对于太赫兹光学辐射而言变得部分半透明,特别是在长波处大约0.5mm。专业校准,热成像基数参数优化,让夜间监控更智能高效!德国进口热成像校准系统制造商

MRW-8电动靶轮是用于测试EO成像系统的模块之一,能够在平行光管的焦平面上自动交换有效靶标,采用8孔靶轮(支持其他靶孔数量),其表面涂有黑色高发射率涂层(发射率至少为0.97),一侧连接到CDT平行光管,另一侧连接到辐射源(TCB黑体、DCB多色黑体、DAL/SAL光源)。标准旋转靶轮的定位不确定度低于0.15mm,还可定制不确定度为0.05mm的靶轮。MRW-8提供多种版本。主要标准是:控制方法、定位精度、圆孔数量。型号中的三个字母用于描述MRW-8靶轮的版本。MRW-8BBB:通过外部控制器使用PC软件控制,有8个圆孔。德国进口热成像校准系统制造商明策电子热成像校准系统支持多用户权限管理,保障数据安全性与隐私性。

MTB系列黑体是精密的面源黑体,旨在模拟中温目标。使用一个薄的面加热元件来控制散热器温度。 黑体散热器的温度可以调节在约50摄氏度到550摄氏度之间。发射器面积可以从50x50mm到500x500 mm,具体取决于型号。
应用MTB黑体可用于一系列可能的应用:1、在中温范围内测量热像仪的精度(已知温度的面源)。
2、监控系统SWIR成像仪
3、用于测试SWIR/MWIRFPAs的系统
蕞高温度:典型的蕞高温度为550℃。如果不需要这样的温度,则最高温度可以降低到350℃,并且提供更好的热均匀性。
由于以下几个原因,太赫兹区域黑体的设计是一个技术挑战:a)需要THz/短波频谱带中高吸收率涂层的发射体以确保高发射率;b)由于THz/微波成像仪的低分辨率,所以需要大面积的黑体;c)需要很高的温度均匀性、温度稳定性和准确度,以便能够对THz/微波传感器进行准确校准。这些黑体的设计基于针对THz范围优化的特殊浇注材料吸收体涂层,大面积均匀发射面板和控制电子元件。MAB黑体具有不同发射器面积,不同温度范围的一系列版本,并针对不同的光谱带进行了优化。MAB黑体的特征在于具有良好的温度分辨率、温度稳定性、温度均匀性、温度不确定性和高发射率。所有这些功能使得MAB黑体被用作测试/校准太赫兹/亚太赫兹成像仪或其他这种辐射仪系统中的参考源的理想选择。热成像新体验,基数参数智能校准,细节尽在眼前!

InframetLS-SAL多通道宽波段可见光-短波红外光源适用于VIS-SWIR相机,有五种工作模式:1)色温是2856K的卤素,适用于VIS-SWIR波段;2)色温超过5000K的白色宽带LED,适用于可见光;3)混合模式,卤素灯和白色宽带LED按照一定光强比例工作;4)校准单色1550nm光源;5)校准短波红外光源。其次,LS-SAL光源配备一套滤波片,当工作在卤素灯模式时,可用于选择所需的波段。
基础工作模式①卤素灯-无滤光片②可见光LED③混合模式,卤素灯和白色宽带LED④带1550nm窄带滤光片的卤素灯⑤只带短波红外滤光片的卤素灯 高效校准,Inframet TAIM热瞄准镜和热像仪夹测试系统更稳定,基数参数调整,让监控更智能!德国进口热成像校准系统制造商
Inframet OPO 望远瞄准测试系统新突破,基数参数精细调整,夜视能力再攀高峰!德国进口热成像校准系统制造商
TAIM热瞄准镜和热像仪夹测试系统是DT系统的一个特殊版本,为测试典型的热瞄准镜或热像仪夹而优化,可以快速、多功能和准确地测试。TAIM由DT120测试系统(用作图像投影模块和图像分析模块),附加一组模块:用于瞄准具测试的Picatinny导轨,两个HEC相机用于捕捉图像,AHEC适配环固定HEC相机的位置,YNAS10平台可以调整相机与被测样品之间的夹角,DPM屈光度量度计,AT720光学平台,可选配其他分析软件和HEC相机和可选DICAN距离调整装置。德国进口热成像校准系统制造商