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    所述功能切换口3外部并联有高纯水输入管线1和沉淀剂输入管线2。所述二级过滤罐13的底部设有废液出口20。所述一级过滤罐16和二级过滤罐13内部均悬设有拦截固体成分的过滤筒。本实施例中，所述一级过滤罐16和二级过滤罐13的结构相同，以一级过滤罐16为例，由外壳1601、悬设于外壳1601内的过滤筒、扣装于过滤筒顶部的压盖1602组成。所述压盖1602中心设有对应进料管路15的通孔。所述过滤筒由均匀布设多孔1606的支撑筒体1605、设于支撑筒体1605内表面的金属滤网1604、设于金属滤网1604表面的纤维滤布1603组成。所述支撑筒体1605的上沿伸出外壳1601顶部并利用水平翻边支撑于外壳1601上表面，所述金属滤网1604的上沿设有与支撑筒体1605的水平翻边扣合的定位翻边。所述支撑筒体1605的底面为向筒体内侧凹陷的锥面1607，增加了过滤面积，提高了过滤效率。所述搅拌釜10设有ph计（图中省略），用于检测溶液ph值。搅拌釜10由釜体8、设于釜体8顶部的搅拌电机4、与搅拌电机4连接的搅拌杆11、设于搅拌杆11末端的搅拌桨12组成，所述搅拌桨12为u字形，釜体8外表面设有调温水套9。工作过程：1、先向搅拌釜10内投入光刻胶废剥离液，再向釜内输入高纯水，两者在搅拌釜10内搅拌均匀。剥离液的使用方法和条件；惠州ITO蚀刻液剥离液销售厂家

    高世代面板)表面上，或透入其表面，而把固体物料润湿，剥离液亲水性良好，能快速高效地剥离溶解光刻胶。因此，本申请中的高世代面板铜制程光刻胶剥离液由酰胺、醇醚、环胺与链胺、缓蚀剂、润湿剂组成。其中，酰胺可以为n-甲基甲酰胺、n-甲基乙酰胺、n，n-二甲基甲酰胺中的任意一种或多种，酰胺是用于溶解光刻胶；n-甲基甲酰胺下面简称″nmf″醇醚为二乙二醇丁醚、二乙二醇甲醚、乙二醇甲醚、乙二醇乙醚中的任意一种或多种，醇醚是用于润湿、膨润、溶解光刻胶的；二乙二醇丁醚下面简称″bdg″。环胺与链胺，用于渗透、断开光刻胶分子间弱结合力；链胺：分子量的大小决定瞬间溶解力，分子量过大瞬间溶解力小，光刻胶未被完全溶解；分子量过小，对金属的腐蚀性增强，影响产品质量。分子量一般在50g/mol-200g/mol，链胺为乙醇胺、二乙醇胺、三乙醇胺、二甘醇胺、异丙醇胺、甲基二乙醇胺、amp-95中的任意一种或多种；环胺：溶解光刻胶中环状结构的树脂，包括氨乙基哌嗪、羟乙基哌嗪、氨乙基吗啉中的任意一种或多种；上述链胺与环胺的比例在4∶1-1∶4之间。缓蚀剂，用于降低对金属的腐蚀速度，缓蚀剂为三唑类物质，具体为苯并三氮唑、甲基苯并三氮唑中的任意一种。润湿剂。东莞格林达剥离液哪里买哪家剥离液的的性价比好。

    可选择的，旋涂光刻胶厚度范围为1000埃～10000埃。s3，执行离子注入：可选择的，离子注入剂量范围为1×1013cm-2～1×1016cm-2。s4，采用氮氢混合气体执行等离子刻蚀，对光刻胶进行干法剥离；如背景技术中所述，经过高剂量或大分子量的源种注入后，会在光刻胶的外层形成一层硬壳即为主要光刻胶层，主要光刻胶层包裹在第二光刻胶层外。使氮氢混合气体与光刻胶反应生成含氨挥发性化合物气体，反应速率平稳，等离子体氮氢混合气体与主要光刻胶层、第二光刻胶层的反应速率相等。等离子体氮氢混合气体先剥离去除主要光刻胶层，参考图8所示。再逐步剥离去除第二光刻胶层，参考图9和图10所示。可选的，等离子刻蚀气体是氮氢混合气体，氢氮混合比例范围为4:96～30:70。s5，对衬底表面进行清洗。可选择的，对硅片执行单片排序清洗。单片清洗时，清洗液喷淋到硅片正面，单片清洗工艺结束后残液被回收，下一面硅片清洗时再重新喷淋清洗液，清洗工艺结束后残液再被回收，如此重复。现有的多片硅片同时放置在一个清洗槽里清洗的批处理清洗工艺，在清洗过程中同批次不同硅片的反应残余物可能会污染其他硅片，或者上一批次硅片留在清洗槽的反应残余物可能会污染下一批次硅片。相比而言。

    本发明下述示例性实施例可以多种不同的形式来实施，并且不应当被解释为只限于这里所阐述的具体实施例。应当理解的是，提供这些实施例是为了使得本发明的公开彻底且完整，并且将这些示例性具体实施例的技术方案充分传达给本领域技术人员。如图1所示，本发明提供的光刻胶剥离去除方法主要实施例，用于半导体制造工艺中，可应用于包括但不限于mos、finfet等所有现有技术中涉及光刻胶剥离去除的生产步骤，主要包括以下步骤:s1，在半导体衬底上淀积介质层；s2，旋涂光刻胶并曝光显影，形成光刻图形阻挡层；s3，执行离子注入：s4，采用氮氢混合气体执行等离子刻蚀，对光刻胶进行干法剥离；s5，对衬底表面进行清洗。本发明刻胶剥离去除方法主要实施例采用能与主要光刻胶层和第二光刻胶层反应生成含氨挥发性化合物气体，与主要光刻胶层和第二光刻胶层反应速率相等的等离子体氮氢混合气体能更高效的剥离去除光刻胶，有效降低光刻胶残留。进而避免由于光刻胶残留造成对后续工艺的影响，提高产品良率。参考图11和图12所示，在生产线上采用本发明的光刻胶剥离去除方法后，监控晶圆产品缺陷由585颗降低到32颗，证明本发明光刻胶剥离去除方法的的改善的产品缺陷，促进了产品良率的提升。什么制程中需要使用剥离液。

    但现有的回收装置普遍存在如下问题：剥离废液利用水洗装置水洗过滤出光刻胶树脂成分，回收率低。为了解决这一问题，现有技术通常再向剥离废液中加入沉淀剂继续反应，而后沉淀过滤出光刻胶树脂成分，但所得到的光刻胶树脂成分品质不宜再用于光刻胶原料，只能用于其他要求较低的树脂需求场所。技术实现要素：本实用新型的目的是为了提供一种结构设置更为合理、使用方便可靠的光刻胶废剥离液回收装置，从根本上解决现有回收装置回收率低的问题，同时分级回收输出线性酚醛树脂成分，分级储存，以用于不同场合，物尽其用。为达到上述目的，本实用新型采用的技术方案是：一种光刻胶废剥离液回收装置，包括搅拌釜和与搅拌釜连通的过滤罐，搅拌釜顶部设有废剥离液投料口，其技术要点是：所述过滤罐的数量为两个，由一级过滤罐和二级过滤罐组成，所述一级过滤罐和二级过滤罐在垂直方向上位于搅拌釜下方，一级过滤罐和二级过滤罐的进料管路分别与搅拌釜底部连通，且进料管路上分别设有电磁阀，所述一级过滤罐的底部出液口连接有提升泵，所述提升泵的出料管路末端与搅拌釜顶部的循环料口连通，所述搅拌釜顶部另设有功能切换口。剥离液的价格哪家比较优惠？广州哪家蚀刻液剥离液联系方式

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    图3是一现有技术光刻胶剥离去除示意图二，其离子注入步骤。图4是一现有技术光刻胶剥离去除示意图三，其显示离子注入后光刻胶形成了主要光刻胶层和第二光刻胶层。图5是一现有技术光刻胶剥离去除示意图四，其显示光刻胶膨胀。图6是一现有技术光刻胶剥离去除示意图五，其显示光刻胶炸裂到临近光刻胶。图7是一现有技术光刻胶剥离去除示意图六，其显示光刻胶去除残留。图8是本发明光刻胶剥离去除示意图一，其显示首先剥离去除主要光刻胶层。图9是本发明光刻胶剥离去除示意图二，其显示逐步剥离去除第二光刻胶层的中间过程。图10是本发明光刻胶剥离去除示意图三，其显示完全去除光刻胶后的衬底。图11是采用现有技术剥离去除光刻胶残留缺陷示意图。图12是采用本发明剥离去除光刻胶残留缺陷示意图。具体实施方式以下通过特定的具体实施例说明本发明的实施方式，本领域技术人员可由本说明书所公开的内容充分地了解本发明的其他优点与技术效果。本发明还可以通过不同的具体实施方式加以实施或应用，本说明书中的各项细节也可以基于不同观点加以应用，在没有背离发明总的设计思路下进行各种修饰或改变。需说明的是，在不的情况下，以下实施例及实施例中的特征可以相互组合。惠州ITO蚀刻液剥离液销售厂家