杭州COP在线透过率测试仪研发

PC薄膜热成型后透过率监测——车载曲面盖板车载显示盖板常采用PC薄膜经高压热成型制成曲面形状。热成型过程中，PC材料在弯曲区域会受到拉伸与冷却收缩，导致分子链重新取向，产生局部双折射和透过率降低。在线透过率测试仪集成于热成型产线的脱模后检测工位，采用柔性探头阵列贴合曲面轮廓，测量可见光积分透过率。对于曲率半径小于100mm的部位，拉伸会使PC厚度减薄20%~30%，透过率可升高1%~2%（因吸收减少），但同时双折射增加会导致眩光。在线系统通过偏振分光测量，同时输出透过率与偏振度。当偏振度超过5%时，判定为光学畸变超标，自动剔除该片材。这一在线检测方案可实现对每片车载盖板的全检，替代传统的离线抽样，满足主机厂对零缺陷的交付要求。价格为进口同类产品的30%-50%，大幅降低企业采购门槛。杭州COP在线透过率测试仪研发

PMMA导光板（LGP）挤出片材——在线透过率与光耦合效率在PMMA厚板（0.3~3mm）挤出生产线中，在线透过率测量不仅评估材料本体吸收，还需模拟导光板的实际入光条件。系统采用准直光源以特定角度（如15°~30°）入射，并配备与光导结构匹配的接收角。当PMMA板材因冷却不均产生内应力时，透过率虽无明显变化，但光线在板内传播会发生偏折，导致边缘光耦合效率下降。在线系统通过测量不同角度下的透过率（0°、15°、30°），计算角度透过率分布曲线。若主峰偏离设计入射角超过2°，则提示内部残余应力过大。该数据可反馈至冷却辊温度分区控制，使PMMA导光板在后续激光打点或印刷网点后，亮度均匀性提升10%以上，广泛应用于大尺寸电视直下式背光模组。

赋能**应用：OLED、车载、AR/VR的精细化要求OLED显示对偏光片的圆偏光透过率、相位差膜的光轴角及透过率均匀性提出了亚微米级精度要求；车载显示薄膜需在-40℃~95℃及高湿环境下保持透过率漂移<0.5%；AR/VR光波导薄膜则对特定角度（如30°入射角）的透过率与反射率比值极度敏感。这些**应用无法*靠离线抽检满足，因为单点数据无法反映全区域、全环境的光学表现。在线透过率测量系统可配置多角度、多波长、变温模块，在生产过程中同步模拟终端使用条件，对每一卷薄膜进行“数字孪生”式验证。例如，在AR/VR用COP膜生产中，在线角度透过率数据可直接用于筛选符合眼盒范围的材料，大幅降低下游模组厂的装配不良率。可以说，在线透过率是**显示材料从“可用”迈向“***”的技术阶梯。

PVA膜是偏光片的功能**，通过碘或染料吸附并单轴延伸获得偏振特性。在线透过率监测在PVA延伸段尤为关键：延伸炉内，湿润的PVA膜在拉伸过程中厚度急剧减薄，透光率从初始约90%下降至40%~50%（取决于偏振度）。高精度在线透射计可实时捕捉延伸温度、拉伸倍率与含硼酸浓度波动导致的透过率漂移，并通过闭环控制稳定碘络合物的取向排列。针对超薄偏光片（PVA厚度<10μm），在线系统需具备亚微米级定位精度，避免因膜面颤动产生的测量噪声，从而保障PVA膜在宽幅（2.5m以上）生产中透过率均匀性≤±0.5%。

半导体芯片、手机IR油墨孔、微型光学元件等微小产品的透过率检测，一直是传统仪器难以企及的“盲区”。在线透过率测试仪通过增加显微光路和成像CCD，实现了对微小区域的精确定位测量，检测光斑可小至0.5mm甚至0.1mm，采用数字相机视频对焦更准确、测试速度更快-63-61。Mega ATS 30°自动检测系统可应用于手机面板、穿戴设备、车载中控面板及平板电脑面板上的IR孔透过率全检检测-3。无论是毫米级的透镜、微型滤光片，还是手机面板上1mm孔径的IR油墨孔，在线透过率测试仪都能准确获取其透过率数据，为精密制造领域提供了强有力的检测保障。供应周期短，无关税困扰，不受国际贸易波动影响。杭州COP在线透过率测试仪研发

实时检测光学材料透过率，数据精确，助力生产线质量管控。杭州COP在线透过率测试仪研发

应对新趋势：超大尺寸、超薄与柔性薄膜的必然选择随着显示面板向8K+超大尺寸演进，偏光片及光学膜的宽度已突破2.5米，厚度却向30μm以下探索。传统离线测量在如此宽幅超薄的场景下面临取样代表性差、薄膜易褶皱变形等问题。在线透过率测量通过非接触式、气浮导向或弧形支撑设计，可在无应力状态下连续扫描全幅宽透过率分布，精确识别边缘下垂、中间厚区或拉伸不均等缺陷。对于柔性显示用薄膜（如CPI或可折叠PET），其在弯曲状态下的透过率与平面状态存在差异，在线系统可集成变曲率工装，实时评估动态弯折中的光学稳定性。没有在线透过率监控，超大尺寸和柔性薄膜的工业化生产将如同“盲人摸象”，无法保证整卷材料的性能一致性。

千宇光学专注于偏振光学应用、光学解析、光电探测器和光学检测仪器的研发与制造。主要事业涵盖光电材料、光学显示、半导体、薄膜橡塑、印刷涂料等行业。 产品覆盖LCD、OLED、VR、AR等上中下游各段光学测试需求，并于国内率先研发相位差测试仪打破国外设备垄断，目前已广泛应用于全国光学头部品牌及其制造商

千宇光学研发中心由光学博士团队组成，掌握自主的光学检测技术, 测试结果可溯源至国家计量标准。与国家计量院、华中科技大学、东南大学、同济大学等高校建立产学研深度合作。千宇以提供高价值产品及服务为发展原动力， 通过持续输出高速度、高精度、高稳定的光学检测技术，优化产品品质，成为精密光学产业有价值的合作伙伴。