千宇光学专注于偏振光学应用、光学解析、光电探测器和光学检测仪器的研发与制造。事业涵盖光电材料、光学显示、半导体、薄膜透镜、印刷涂料等行业。 产品覆盖LCD、OLED、VR、AR等上中下游各段光学测试需求,并于国内率先研发相位差测试仪打破国外设备垄断,目前已广泛应用于全国光学头部品牌及其制造商。 千宇光学研发中心由光学博士团队组成,掌握自主研发的光学检测技术, 测试结果可溯源至国家计量标准。千宇以提供高价值产品及服务为发展原动力, 通过持续输出高速度、高精度、高稳定的光学检测技术,优化产品品质,成为精密光学产业有价值的合作伙伴。
对于偏光片生产企业,原材料(如 PVA 原膜、TAC 保护膜)的品质直接影响**终成品。吸收轴角度测量仪是原材料入厂检验(IQC)...
千宇光学相位差测试仪构建全链路计量溯源体系,确保检测结果的专业性与可比性,为客户提供合规计量检测报告。所有测试数据均可溯源至国家计...
相位差测量仪还可用于光学薄膜的相位延迟分析。光学薄膜广泛应用于增透膜、反射膜和滤光片等器件中,其相位延迟特可直接影响光学系统的性能...
从抽检到全检:构建零缺陷光学质量防线传统离线透过率测量采用实验室抽检方式,每卷或每批次*取样数个点位,难以捕捉生产过程中因温度波动...
显微分光测试仪采用先进的显微分光式技术,可对微小样品和微区区域进行高精度测色与反射率测量。仪器通过微光斑聚焦光路采集局部光信号,分...
在偏光片、光学膜等连续卷对卷生产中,传统离线抽检存在采样滞后、覆盖面窄的弊端,难以捕捉瞬时工艺波动。薄膜在线透过率检测系统通过集成...
QWP用于将线偏振光转换为圆偏振光,在OLED圆偏光片及3D显示光模块中至关重要。在线透过率测量不*要获取全波段积分透过率,还需分...
千宇光学相位差测试仪具备计量溯源性与稳定的检测性能,适配光学新材料研发的专业检测场景,为技术研发提供可靠的数据保障。设备的测试结果...
显微分光测试仪是一款高精度非接触式设备,可对微区样品进行分光测色、反射率及透射率测量,广泛应用于光学元件、电子零部件和高精密材料检...