您好,欢迎访问

商机详情 -

紫外高光谱成像仪源头厂家

来源: 发布时间:2026年02月03日

Co-Aligned HP全波段机载高光谱成像系统集成有VNIR和SWIR两套高光谱成像仪,其中,VNIR 相机(400-1000nm)的感光元件为低功耗,高灵敏度的CMOS传感器,像元尺寸为5.86μm,SWIR相机(900-2500nm)的感光元件为Stirling制冷型MCT传感器,像元尺寸为15μm。而系统的分光光路均基于Headwall公司专项技术——Offner像差校正型凸面全息反射光栅技术,不仅保证了极低杂散光和成像畸变,同时也具有极高的热稳定性和信噪比。Offner反射光栅技术与我国“高分5号”卫星为同源技术,能够为科研用户提供高质量的高光谱成像数据。Co-Aligned HP 的 SpectralView 软件支持反射率校正,数据可比性强。紫外高光谱成像仪源头厂家

紫外高光谱成像仪源头厂家,高光谱成像仪

Nano HP 的数据融合功能是其重要竞争力之一,通过配套软件能够实现高光谱数据与 EDM 数据的高效融合,将光谱特征信息与空间几何信息有机结合,拓展了数据的分析维度。高光谱数据擅长捕捉物质的化学成分与物理特性,而 EDM 数据(如激光雷达点云数据)则能精确反映空间三维结构,两者的融合能够实现 “光谱 + 空间” 的双重分析。在植被监测中,融合数据可同时反演植被的生理参数与三维冠层结构,为植被生长状况评估提供更全的依据;在地形测绘中,既能体现地表物质的光谱特征,又能精确呈现地形起伏与高程信息;在工程监测中,可实现建筑物、道路等设施的光谱特性与空间位置的综合分析。这种多维度的数据融合能力,让 Nano HP 的输出数据具备更丰富的信息价值,能够满足更复杂的分析需求,提升决策的科学性与准确性。北京Micro-Hyperspec 系列高光谱成像仪代理商Co-Aligned HP 的双探测器分别优化波段响应,确保全光谱范围数据质量。

紫外高光谱成像仪源头厂家,高光谱成像仪

Co-Aligned HP 的 VNIR 相机(400-1000nm)采用低功耗、高灵敏度的 CMOS 传感器,其 5.86μm 的像元尺寸经过精心优化,能够在低功耗前提下实现高质量的可见光 - 近红外光谱探测。CMOS 传感器具备响应速度快、噪声低、集成度高的优势,配合 5.86μm 的像元设计,能够有效捕捉弱光环境下的光谱信号,提升在清晨、傍晚等低光照条件下的作业能力。在植被监测中,可精确捕捉叶绿素在可见光波段的吸收特征与近红外波段的反射特征,为植被长势评估、病虫害识别提供清晰的光谱数据;在水体调查中,能有效区分水体与岸边地物的光谱差异,捕捉细微的水体污染特征。低功耗设计也让 VNIR 相机与 SWIR 相机协同工作时,整体系统功耗保持在合理范围,确保无人机的续航能力。这一技术配置让 Co-Aligned HP 的 VNIR 波段探测既具备高灵敏度,又兼顾低功耗,实现了性能与实用性的平衡。

Co-Aligned HP 全波段机载高光谱成像系统是广州星博谱光技术有限公司代理的美国专业高光谱设备制造商Headwall公司的主要产品之一。其光谱范围是400-2500nm,即一台设备直接覆盖可见光到短波红外的宽光谱范围。Co-Aligned HP可以应用在树种分类、高光谱探矿、地质灾害调查、矿物精细识别、高光谱找矿、矿物填图、火山监测等多个领域。星博谱光公司专门为Co-Aligned HP高光谱成像仪开发了拆装非常方便的三轴稳定云台,通电自动调平,可搭载于多款中小型旋翼无人机、固定翼无人机及无人直升飞机上进行作业。Co-Aligned HP 采用双探测器设计,VNIR 与 SWIR 协同实现全波段无缝覆盖。

紫外高光谱成像仪源头厂家,高光谱成像仪

Co-Aligned HP 支持上传 KML 文件,通过地理位置触发采集功能,大幅提升作业的精确性与自动化水平。KML 文件可预先设定采集区域的边界、重要监测点坐标等地理信息,设备在飞行过程中,通过 GNSS 定位实时匹配预设地理坐标,到达指定位置后自动启动采集,无需人工手动触发。这一功能在大规模、高精度的监测任务中优势尤为明显,例如在区域地质填图中,可预先设定多条平行采集线路,设备自动沿线路完成采集,确保覆盖的完整性与均匀性;在火山监测中,可精确定位火山口、断裂带等重要区域,实现重点区域的自动采集。地理位置触发采集不仅减少了人工操作的误差,更提升了作业的自动化程度,让用户能够同时管理多架无人机的作业任务,大幅提升大规模监测项目的效率。Nano HP 空间像素为 1020,结合几何校正功能,输出高分辨率影像产品。苏州机器视觉高光谱成像仪

Co-Aligned HP 全波段机载高光谱成像系统采用推扫式成像,可上传KML文件,基于地理位置触发采集。紫外高光谱成像仪源头厂家

Co-Aligned HP 的 SpectralView 后处理软件内置专业的反射率校正功能,能够将辐射亮度数据转化为标准化的反射率数据,大幅提升数据的可比性与科学性。反射率是物质的固有属性,不受光照强度、观测角度、距离等外界因素影响,是进行跨区域、跨时间对比分析的重要指标。在矿物填图中,反射率校正后的光谱数据可用于不同区域矿物类型的对比识别;在植被监测中,可通过不同时期的反射率变化分析生长趋势;在环境监测中,能精确对比不同区域的污染程度。Co-Aligned HP 的反射率校正功能基于 3*3m 三梯度反射率定标毯的参考数据,校正精度高、稳定性强,确保不同批次、不同场景下采集的数据具备统一的标准,能够直接进行对比分析。这一功能让高光谱数据的应用价值得到明显提升,为长期、大范围的监测项目提供了可靠的数据基础。紫外高光谱成像仪源头厂家

标签: 高光谱成像仪