去胶速率是衡量等离子去胶机工作效率的**指标，指单位时间内设备能去除的光刻胶厚度，通常以“nm/min”或“μm/h”为单位。其速率高低受工作气体种类、射频功率、腔体内压力、处理温度等多因素影响，例如...

预处理完成后进入工艺参数设置与启动阶段，操作人员需根据基材类型、胶层厚度和处理要求，在设备控制系统中设置关键参数。**参数包括工作气体种类及流量（如氧气流量200sccm）、射频功率（如300W）、腔...

TFT-LCD（薄膜晶体管液晶显示器）的像素层制造过程中，需在玻璃基板上形成精细的像素电路，光刻胶作为掩膜使用后，需通过等离子去胶机去除。像素层的电路线宽通常在几微米到几十微米，胶层残留会导致电路短路...

终点检测是设备的关键功能，通过实时监测刻蚀过程中的信号（如光学发射光谱、激光干涉信号），判断刻蚀是否达到目标深度或完全去除目标材料。精细的终点检测可避免过刻蚀或欠刻蚀。随着半导体制造绿色化需求提升，设...

等离子去胶机在处理效果上，等离子去胶机优势***。洁净度方面，湿法去胶易残留试剂与胶屑，尤其在细微结构内，而等离子去胶通过气体反应实现“零残留”，洁净度达0.05mg/cm²以下；在均匀性方面，湿法受...

等离子去胶机在半导体晶圆制造中的蚀刻后去胶应用蚀刻完成后，光刻胶因高温烘烤与等离子体轰击已交联硬化，需**度处理。等离子去胶机设备会提升射频功率（300-500W），延长处理时间（5-10分钟），并根...

等离子去胶机并非传统意义上的“物理擦拭”设备，而是利用低温等离子体的物理化学双重作用，实现材料表面光刻胶及有机杂质精细去除的精密工业装备。其技术本质是通过射频或微波电源激发工作气体（如氧气、氩气），使...

在半导体芯片制造的晶圆光刻环节，完成光刻图案曝光显影后，需使用等离子去胶机去除晶圆边缘及背面的光刻胶（Edge Bead Removal，EBR）。晶圆边缘的胶层若残留，会在后续蚀刻、镀膜工艺中导致边...

在印制电路板和IC载板的多层互连结构中，进行孔金属化前需去除孔内因钻孔而产生的环氧树脂胶渣。等离子体通过化学反应能选择性地、均匀地去除这些残留物，确保孔壁清洁，为后续的化学镀铜提供完美基础，保证电气互...

等离子去胶机与传统湿法去胶的对比（二）——环保与成本从环保和成本角度对比，等离子去胶机相比传统湿法去胶具有明显优势。在环保方面，湿法去胶需使用大量化学试剂（如硫酸、双氧水、有机溶剂），产生的废液需专业...