国磊GT600搭载GTFY软件系统,支持C++编程与VisualStudio开发环境,工程师可编写脚本实现:自动化扫描电压/频率组合(DVFS验证);循环执行睡眠-唤醒-满载测试序列;实时采集功耗数据...
低温CMOS芯片的常温预筛与参数表征。许多用于量子计算的控制芯片需在毫开尔文温度下工作,但其制造仍基于标准CMOS工艺。在封装并送入稀释制冷机前,必须通过常温下的严格电性测试进行预筛选。国磊(Guol...
在全球半导体测试设备长期被美日巨头垄断的背景下,杭州国磊推出的GT600 SoC测试机标志着中国在**数字测试领域实现关键突破。该设备支持高达400 MHz的测试速率和**多2048个数字通道,足以覆...
低功耗SoC在先进工艺下表现出更复杂的漏电行为、更敏感的电源完整性需求、更精细的时序窗口,以及混合信号模块(如PLL、ADC、LDO)的高精度验证要求。传统测试设备往往难以满足这些需求,尤其是在静态电...
科研创新的“开放平台” 在高校与科研院所,芯片研发需要高度灵活的测试环境。杭州国磊GT600的开放式GTFY系统支持C++/Python编程,研究人员可自由开发测试算法,验证新型架构(如存算一体、类脑...
电源纹波测试,特别是针对板卡电源的纹波测试,是确保电源输出质量的重要环节。其原理在于检测并量化电源输出电压中的交流成分,即纹波。纹波是叠加在直流输出电压上的微小交流波动,可能由电源开关元件的周期性开关...
“风华3号”兼容DirectX、OpenGL、Vulkan等主流图形生态,其图形管线包含顶点处理、光栅化、着色器执行等复杂阶段,测试需覆盖多种渲染模式与状态转换。国磊GT600测试机支持C++编程与V...
高精度时钟源测试是确保电子设备稳定性和准确性的关键环节,而晶振测试板卡在此类测试中发挥着重要作用。作为电子系统中的主要时钟源,晶振的性能直接影响到整个系统的时序精度和稳定性。以下是晶振测试板卡在时钟源...
用于评估网络设备性能的高密度测试板卡,是确保网络基础设施效率高、稳定运行的关键工具。这些测试板卡通常具备以下特点:高密度接口:高密度测试板卡集成了大量的高速网络接口,如SFP+、QSFP28等,支持同...
PXIe板卡的基本测试原理涉及对电子设备和系统的功能性能及可靠性进行验证和测试的过程。其功能在于模拟真实工作环境,对目标设备进行完整、准确的检测,以确保其满足设计规格和性能要求。测试板卡通常包含多个功...
在全球半导体测试设备长期被美日巨头垄断的背景下,杭州国磊推出的GT600 SoC测试机标志着中国在**数字测试领域实现关键突破。该设备支持高达400 MHz的测试速率和**多2048个数字通道,足以覆...
尽管“杭州六小龙”(游戏科学、深度求索、宇树科技等)以应用层创新闻名,但其产品**均依赖高性能、低功耗的定制化SoC。若这些企业未来走向自研芯片(如深度求索布局AI推理加速卡、强脑科技开发神经信号处理...
工业物联网的“量产引擎” 工业物联网(IIoT)设备对芯片的可靠性与成本极为敏感,且需求量大。杭州国磊GT600的512站点并行测试能力,可一次测试512颗MCU或传感器芯片,极大提升测试吞吐量,**...
国磊GT600搭载GTFY软件系统,支持C++编程与VisualStudio开发环境,工程师可编写脚本实现:自动化扫描电压/频率组合(DVFS验证);循环执行睡眠-唤醒-满载测试序列;实时采集功耗数据...
GT600每通道集成PPMU,具备nA级电流分辨率。在电源门控测试中,将PPMU连接至被门控模块的电源引脚(VDD)或地引脚(VSS),在门控信号(PG_EN)关闭后,测量该模块的静态电流(IDDQ)...
温度大幅度变化对PXIe板卡性能具有重要影响,主要体现在以下几个方面:一是性能影响。电气性能变化:随着温度的升高,测试板卡上的电子元器件可能会表现出不同的电气特性,如电阻值变化、电容值偏移等,从而影响...
高密度测试板卡主要用于评估网络设备性能,是确保网络基础设施效率高、稳定运行的关键工具。这些测试板卡通常具备以下特点:高密度接口:高密度测试板卡集成了大量的高速网络接口,如SFP+、QSFP28等,支持...
AI 芯片(GPU, TPU, NPU)功耗巨大,对供电网络(PDN)的稳定性要求较高。微小的电源噪声(mV级甚至μV级)都可能导致计算错误或性能下降。使用 DGT 单元,可以以 24bit 的分辨率...
杭州国磊(Guolei)SoC测试系统(以GT600为**)虽主要面向高性能系统级芯片(SoC)的数字与混合信号测试,但凭借其高精度模拟测量、灵活电源管理、高速数字接口验证及并行测试能力,...
杭州国磊半导体设备有限公司正式发布多款高性能板卡,标志着公司在半导体测试领域的技术实力再次迈上新台阶。此次发布的测试板卡,集成了国磊科技多年来的技术积累与创新成果,具有高精度、高效率、高可靠性等特点。...
高精度时钟源测试是确保电子设备稳定性和准确性的关键环节,而晶振测试板卡在此类测试中发挥着重要作用。作为电子系统中的主要时钟源,晶振的性能直接影响到整个系统的时序精度和稳定性。以下是晶振测试板卡在时钟源...
支撑国产芯片全流程自主验证 从设计到量产,芯片必须经过严格的功能与参数测试。若测试设备受制于人,不*存在数据安全风险(如测试程序、芯片特性被第三方获取),还可能因设备兼容性问题拖慢研发节奏。国磊(Gu...
PXIe板卡集成到自动化测试系统ATE是一个综合性的工程任务,它涉及到硬件的组装、软件的配置以及系统的整体调试。以下是一个简要的集成流程:硬件设计与准备:首先,根据测试需求设计测试板卡的硬件结构,包括...
国磊GT600测试机的100ps边沿精度与10ps分辨率TMU,可精确测量低功耗状态切换延迟与唤醒时间,确保实时响应性能。此外,GT600支持20/24bitAWG与Digitizer,可用于集成在低...
低温CMOS芯片的常温预筛与参数表征。许多用于量子计算的控制芯片需在毫开尔文温度下工作,但其制造仍基于标准CMOS工艺。在封装并送入稀释制冷机前,必须通过常温下的严格电性测试进行预筛选。国磊(Guol...
可选AWG/TMU/Digitizer:混合信号的“全能工具箱” 杭州国磊GT600支持选配AWG(任意波形发生器)、TMU(时间测量单元)和Digitizer(数字化仪),使其从“数字测试机”升级为...
5G/6G通信芯片的“时序显微镜” 5G/6G基站与终端芯片对信号时序精度要求较高,微小抖动即可导致通信中断。杭州国磊GT600配备高精度TMU(时间测量单元),分辨率高达10ps(0.01纳秒),相...
针对汽车电子系统的测试板卡解决方案,是确保汽车电子产品性能、稳定性和安全性的关键环节。这些解决方案通常包含一系列高精度、多功能的测试板卡,能够模拟真实的汽车运行环境,对汽车电子系统的各项功能进行测试。...
低温CMOS芯片的常温预筛与参数表征许多用于量子计算的控制芯片需在毫开尔文温度下工作,但其制造仍基于标准CMOS工艺。在封装并送入稀释制冷机前,必须通过常温下的严格电性测试进行预筛选。杭州...
杭州国磊(Guolei)的GT600SoC测试系统本质上是一款面向高性能系统级芯片(SoC)量产与工程验证的自动测试设备(ATE),其**能力聚焦于高精度数字、模拟及混合信号测试。虽然该设...