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企业商机 - 岱美仪器技术服务(上海)有限公司
  • 江西键合机研发生产 发布时间:2024.01.22

    业内主流键合工艺为:黏合剂,阳极,直接/熔融,玻璃料,焊料(包括共晶和瞬态液相)和金属扩散/热压缩。采用哪种黏合工艺取决于应用。EVG500系列可灵活配置选择以上的所有工艺。奥地利的EVG拥有超过25...

  • 薄膜应力分析仪对使用环境有什么要求?1. 温度控制:薄膜应力分析仪需要在恒定的温度下进行测量,因此需要控制实验室的温度。为避免温度变化引起的薄膜内部结构的变化,一些仪器具有加热和冷却控制功能。2. 湿...

  • 晶圆缺陷检测光学系统该如何维护?1、清洁镜头和光学器件:镜头和光学器件是光学系统的关键部件,若有灰尘或污垢会影响光学成像效果。因此,需要定期清洁这些部件。清洁时应只用干净、柔软的布或特殊的光学清洁纸等...

  • 实验室光刻机推荐型号 发布时间:2024.01.19

    EV集团(EVG)是面向MEMS,纳米技术和半导体市场的晶圆键合机和光刻设备的LINGXIAN供应商,日前宣布已收到其制造设备和服务组合的多个订单,这些产品和服务旨在满足对晶圆的新兴需求,水平光学(W...

  • 电阻率测量仪使用注意事项:1. 仪器操作前需进行正确的设置和连接,遵循检测规范,以保证测量数据的准确性。2. 在使用时要注意避免探针发生短路,同时保持探针与待测物的接触良好,避免测量不准或者出现异常波...

  • EVG850 LT键合机高性价比选择 发布时间:2024.01.18

    EVG®820层压系统 将任何类型的干胶膜(胶带)自动无应力层压到晶圆上 特色 技术数据 EVG820层压站用于将任何类型的干胶膜自动,无应力地层压到载体晶片上。这项独特的层压技术可对卷筒上的胶带进行...

  • 晶圆缺陷检测设备该怎么使用?1、准备设备:确保设备电源、气源、冷却水等都已连接好,并检查设备的各个部件是否正常。2、准备晶圆:将要检测的晶圆放置在晶圆台上,并调整台面高度,使晶圆与探测器之间的距离适当...

  • 电容式位移传感器应用优势:1. 极限测量范围较大:电容式位移传感器可以适应不同精度和测量范围的需求,适用于不同领域和尺寸的测量。2. 抗干扰性能好:电容式位移传感器可以有效抑制干扰信号,并通过电路设计...

  • 安徽晶圆缺陷检测设备价格 发布时间:2024.01.16

    晶圆缺陷自动检测设备是一种专门用于检测半导体晶圆表面缺陷的设备,它主要通过光学成像技术和图像处理算法来实现缺陷检测。具体的功能包括:1、晶圆表面缺陷检测:对晶圆表面进行成像,并使用图像处理算法来自动检...

  • 碳化硅纳米压印用途是什么 发布时间:2024.01.15

    IQAligner®:用于晶圆级透镜成型和堆叠的高精度UV压印系统■用于光学元件的微成型应用■用于全场纳米压印应用■三个独力控制的Z轴,用于控制压印光刻胶的总厚度变化(TTV),并在压模和基材之间实现...

  • 铟锡氧化物膜厚仪应用 发布时间:2024.01.14

    生物医疗设备涂层应用生物医疗器械应用中的涂层生物医疗器械的制造和准备方面会用到许多类型的涂层。有些涂层是为了保护设备免受腐蚀,而其他的则是为了预防组织损伤、敢染或者是排异反应。药物传输涂层也变得日益普...

  • 晶圆缺陷检测光学系统在半导体生产中扮演着非常重要的角色,其作用如下:1、检测晶圆缺陷:晶圆缺陷检测光学系统通过利用光学成像技术,可以检测晶圆表面的缺陷和污染物。这些缺陷包括磨损、划痕、光栅缺陷和雾点等...

  • 薄膜测试仪膜厚仪医疗设备 发布时间:2024.01.13

    测量复杂的有机材料典型的有机发光显示膜包括几层: 空穴注入层,空穴传输层,以及重组/发光层。所有这些层都有不寻常有机分子(小分子和/或聚合物)。虽然有机分子高度反常色散,测量这些物质的光谱反射充满挑战...

  • 传感器光刻机保修期多久 发布时间:2024.01.13

    EVG120特征:晶圆尺寸可达200毫米超紧凑设计,占用空间蕞小蕞多2个涂布/显影室和10个加热/冷却板用于旋涂和喷涂,显影,烘烤和冷却的多功能模块的多功能组合为许多应用领域提供了巨大的机会化学柜,用...

  • AVI400-SAVI400-S的基本配置包括两个紧凑型单元和一个控制单元,最大负载为800公斤。通过增加紧凑型模块的数量,可以轻松实现对更高负载的支持。为了使AVI400-S适应用户特定的应用,可以...

  • 干涉膜厚仪免税价格 发布时间:2024.01.12

    F10-HC轻而易举而且经济有效地分析单层和多层硬涂层F10-HC以FilmetricsF20平台为基础,根据光谱反射数据分析快速提供薄膜测量结果。F10-HC先进的模拟算法是为测量聚碳酸酯和其它单层...

  • 授权分销膜厚仪有哪些品牌 发布时间:2024.01.12

    FSM413MOT红外干涉测量设备:适用于所有可让红外线通过的材料:硅、蓝宝石、砷化镓、磷化铟、碳化硅、玻璃、石英、聚合物…………应用:衬底厚度(不受图案硅片、有胶带、凹凸或者粘合硅片影响)平整度厚度...

  • FSM膜厚仪简单介绍:FSM128厚度以及TSV和翘曲变形测试设备:美国FrontierSemiconductor(FSM)成立于1988年,总部位于圣何塞,多年来为半导体行业等高新行业提供各式精密的...

  • 高精度电容位移传感器选型需要注意什么?1. 测量范围。首先需要考虑需要测量的位移范围,以选择合适的传感器型号和量程。如果位移范围过大,需要选择大量程的传感器,如果位移范围过小,需要选择小量程的传感器,...

  • SEM隔振台免税价格 发布时间:2024.01.11

    LFS控制单元上的每个D-Sub15插座都有4个对应于AVI元件的开关输出,这些AVI元件以任意4个矩形方向(即平行或直角)放置,不允许其他方向。面向LFS传感器的蓝色LED直立。将弟一个AVI元件连...

  • AVI-600MLP隔振台当地价格 发布时间:2024.01.11

    AVI400-XLAVI400-XL的基本配置包括两个紧凑型隔振模块和一个控制单元,最大负载为800公斤。通过增加紧凑型单元的数量,可以轻松实现对更高负载的支持。为了使AVI400-M适应用户特...

  • 干涉仪隔振台有哪些品牌 发布时间:2024.01.11

    1.更换SEM侧面板(如有必要)。检查隔离系统和SEM的所有电缆是否松动连接。检查并确保没有将SEM耦合到地面或其他振动源。2.将电源线插入控制器背面。翻转前面板上的“ON”开关。按红色按钮启用活动隔...

  • 比较椭圆偏振仪和光谱反射仪光谱椭圆偏振仪(SE)和光谱反射仪(SR)都是利用分析反射光确定电介质,半导体,和金属薄膜的厚度和折射率。两者的主要区别在于椭偏仪测量小角度从薄膜反射的光,而光谱反射仪测量从...

  • AVI-600SLP隔振台可以试用吗 发布时间:2024.01.10

    1.更换SEM侧面板(如有必要)。检查隔离系统和SEM的所有电缆是否松动连接。检查并确保没有将SEM耦合到地面或其他振动源。2.将电源线插入控制器背面。翻转前面板上的“ON”开关。按红色按钮启用活动隔...

  • 电容式位移传感器使用方法:1. 安装传感器:将传感器安装在需要测量位移或形变的物体上,并确保传感器的位置准确、固定和稳定。2. 连接传感器:根据传感器的型号和连接方式,将传感器输出信号与接收设备连接。...

  • 德国隔振台电子显微镜ATM 发布时间:2024.01.09

    Herz防震台/防振台是世界上蕞知铭的防震台/防振台系统方案供应商之一。在纳米技术的时代,极之微细的振动已对搜索结果造成极大的影响,必须改善测量环境,以发挥仪器的极大效能,达到蕞佳成果。Nanotec...

  • HERZ隔振台用途是什么 发布时间:2024.01.09

    使用说明书解锁系统后,将设备放置在平坦且坚固的桌子上或地下。调整负载补偿:将负载放在蕞上面,并使用以下三个调整负载补偿侧面的车轮到外壳和顶板之间的距离为2mm。沿+方向旋转轮子以增加负载补偿方向旋转车...

  • 研究所隔振台轮廓测量应用 发布时间:2024.01.09

    桌面必须足够坚硬,以防止两个隔离单元绕其长水平轴相对旋转。蜂窝状垫板或30mm厚的铝板效果蕞好,但可以使用石板甚至实木板。有关连接孔的位置,将电缆连接至隔离装置的两侧。附加装置通常与弟一个装置平行放置...

  • 浙江晶圆片隔振台 发布时间:2024.01.08

    支撑面测试在系统运行时,推动支撑表面。灯不亮,除了可能会大力推动。如果可以轻松使灯点亮,则支撑表面刚度不足以获得充分的性能。确定支撑表面是否起反应对水平或垂直力施加更大的作用,并尝试适当地使结构变硬。...

  • 电阻率测量仪是如何工作的? 电阻率测量仪主要用于测量材料的电阻率,工作原理:电阻率测量仪将被测试的材料置于一个恒定的电场中(通常是两个电极之间的电场),然后经过一段时间后,测量电流和电势差。电流是通过...

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