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    常规测试方案中，数字IO通道、可编程PPMU电源、VPP高压激励、DPS功率源需要分开选用多款**板卡，系统布线复杂，通道同步调试难度大。杭州国磊GI-DMUMS32集成型数字测试板卡创新性整合32路DIO、PPMU可编程供电、2路DPS功率源、16路VPP高压激励，单卡集成数字逻辑、内核供电、存储擦写高压三大功能，大幅简化数模混合芯片测试架构。针对MCU、电源管理芯片、触控IC，单块板卡即可完成数字信号交互、内核电源轨供电、Flash擦写电压施加，减少机箱插槽占用，降低多板卡之间时序同步调试难度。PPMU通道具备高精度电压电流测量能力，可同步监测芯片IO端口功耗。可灵活搭配GI-SMUBV04、GI-SMUMV04源测量模块拓展更多电源轨测试通道。大量消费电子MCU、工业PMIC量产测试场景可以依托这块集成板卡精简整套测试系统。相比采用多张分立数字板卡的方案，硬件采购数量减少，故障率降低，调试周期缩短，非常适合中小通道规模量产工位与研发实验室平台搭建。 杭州国磊半导体PXIe板卡DMUMS32对标NI，适用于教育实验室的数字电路教学与实验平台。pxie机箱

    车载电源PMIC、升降压芯片、BMS采集芯片市场需求持续走高，车规AEC-Q100标准对多通道电压电流同步测试、数字IO电源复用、多路PPMU并行供电提出硬性要求，传统单通道测试设备并行效率不足，难以匹配车规产线高吞吐需求。杭州国磊GI-SMUMV044路精密浮动±60V源测量模块，四路**隔离通道可同步测试多路电源轨，覆盖车载48V、24V、12V全电压域，微安级静态功耗、待机电流高精度采集，完美适配电源芯片轻载、重载、短路保护全参数测试。配套GI-DMUMS3232路DIO(PPMU)+2路DPS+16路VPP数字测试板卡，集成可编程电源、高压VPP激励、通用数字输入输出，单块板卡即可实现芯片控制信号、存储擦写电压、数字逻辑同步测试，省去多块功能板卡堆叠成本。2026年国内车规芯片产能扩张，第三方封测厂、电源设计企业普遍存在进口ATE通道溢价、定制改造受限痛点，国磊模块化板卡支持自由组合通道数量，无需整套更换主机，产线扩容成本降低45%。针对车规芯片高低温循环、老化可靠性测试场景，板卡宽温元器件选型，-40℃至150℃测量误差波动控制在，支持多站点并行量产测试，有效提升良率筛查效率，助力本土车载电源芯片企业快速完成车规认证，摆脱海外测试硬件依赖。 国产替代控制板卡精选厂家杭州国磊半导体PXIe板卡为信创芯片从流片到量产提供全链条测试保障，提升国产芯片的可靠性与良率。

    不少头部IDM、芯片设计公司计划打造自主ATE测试系统，但商用进口ATE整机普遍封闭，底层指令不开放，测试流程、数据格式被厂商限制，后续功能扩展、算法自定义、产线MES对接处处受限，长期持续收取软件年费。自研ATE是破局关键，而高性能自研测试板卡是硬件根基。杭州国磊半导体全系列GI测试板卡全部开放底层驱动、标准API通讯协议，无软件锁定、无强制配套上位机软件，企业能够基于Python、C#、LabVIEW自主开发测试程序，自由对接工厂MES系统、数据溯源平台、探针台、三温分选机。从GI-SMUHV01高压源测量模块、GI-DMUMS32集成数字板卡，到GI-WRTHF04高速波形发生器、GI-TMUHA04时序测试模块，所有硬件参数、采集指令完全对外开放。企业可根据产品路线规划通道数量，按需选配模块，避免商用ATE内置大量闲置功能，减少无效投入。面向功率半导体、混合信号SoC、先进封装Chiplet测试场景，国磊可配合客户完成硬件时序联调、信号链路优化。搭建自研ATE系统，不*一次性摆脱海外整机厂商生态捆绑，长期运维、功能迭代自主可控，同时满足企业知识产权保护需求，契合半导体设备自主可控战略方向，是大中型芯片企业长期布局推荐方案。

    不少企业计划从进口台式仪器、老旧ATE设备迁移至国产化模块化测试平台，比较大顾虑是原有大量成熟测试程序重写工作量巨大，切换周期长，影响正常研发与量产。杭州国磊充分考虑平台迁移痛点，GI系列测试板卡提供通用标准化指令集，函数接口对标主流模块化仪器编程规范，比较大限度减少程序改动量。原有基于源表、AWG、数字IO的测试代码，只需少量适配即可直接迁移至国磊硬件，无需从零开发整套测试程序。GI-SMU系列源测量模块、GI-WRTLF/GI-WRTHF波形板卡、GI-DMUMS32数字板卡均提供丰富编程示例，支持Python、C#、LabVIEW主流开发环境。同时技术团队可以提供程序迁移技术支持，协助企业快速完成平台切换。功率器件I-V扫描、PMIC电源轨测试、MCU功能测试、模拟芯片参数校准等成熟测试流程均可快速移植。企业可以采取渐进式切换方案，新样品先使用国磊平台验证，成熟产品线逐步过渡，避免产线通用切换带来的生产中断风险，平稳实现测试硬件国产化替代。 杭州国磊半导体PXIe板卡SMU系列对标NI，四线开尔文连接，抵消引线压降，确保低阻值测量精度。

    一套完整自动化半导体测试系统，离不开可靠的信号回路切换单元，继电器板卡作为硬件枢纽，连通测试板卡、夹具、待测芯片。市面上进口继电器模块通道密度低，同等通道数量需要多张板卡，占用大量插槽。杭州国磊GI-CBIT120单卡集成120路**继电器驱动通道，微秒级切换响应，支持信号回路、功率回路切换，可适配低压模拟信号、*功率电源回路搭配隔离设计。能够联动GI全系SMU、AWG、数字IO板卡，实现多颗DUT自动轮换、多种测试回路切换、探针通道选通。无论是晶圆探针台多路芯粒切换，量产分选多夹具轮换，还是可靠性老化多路器件循环应力加载，都可以依托该板卡实现自动化。多块GI-CBIT120级联可轻松扩展数百路切换通道。高密度单卡设计大幅节约机箱插槽，留出更多空间配置测量功能板卡。继电器回路具备过流保护，避免待测器件异常损坏测试硬件。对于计划搭建全自动无人值守研发测试平台、量产FT、老化系统的企业，GI-CBIT120是自动化系统不可或缺的主要枢纽模块，以高通道密度降低整套系统硬件投入。 杭州国磊半导体PXIe板卡SMU系列，对标NI系列：高精度、高稳定、高并行，助力“芯片”测试腾飞！杭州国磊控制板卡精选厂家

杭州国磊半导体PXIe板卡SMU系列对标NI， SMUHV01可输出1000V，满足MOSFET、IGBT等器件的击穿测试需求。pxie机箱

    AI服务器HBM、GDDR显存配套接口逻辑芯片，高速差分LVDS数据、纳秒级时序、海量并行通道测试，是当前半导体测试主要难点，海外设备垄断高精存储接口测试硬件，国产高速时序、高速数字板卡供给稀缺。杭州国磊GI-RIOMS3264路高速LVDS数字板卡提供海量高速差分通道，高带宽信号收发，复现HBM高速数据读写工况；配套GI-TMUHA04四路高精度时间测试板卡，皮秒级抖动、建立保持时间测量，精细捕捉存储接口时序失效缺陷，提前筛除良率损耗芯片。可联动GI-WRTHF04高速AWG生成高速读写脉冲激励，搭配GI系列多通道SMU同步测试存储芯片多组电源轨静态功耗，实现存储接口芯片高速信号、时序、电源全参数一体化测试。2026年国内AI算力产业爆发，HBM先进封装测试产能紧缺，头部封测厂加速国产测试硬件验证，进口高速存储测试设备交付周期超8个月，设备投入成本较高，国磊高速数字与时序板卡现货交付，支持与探针台、三温分选机无缝联调。模块化架构可无限扩展通道，适配千通道并行存储测试产线，硬件底层协议完全开放，支持封测企业自主开发存储测试程序，摆脱海外设备软件锁死，大幅降低HBM存储芯片测试环节设备采购成本，加速高精存储测试国产化替代。 pxie机箱