针对物联网、智能家居、小家电等大批量MCU应用场景,国磊ATE创新性集成固件烧录与功能测试一体化流程,彻底解决传统产线“先烧录、后测试”分步操作效率低、工序繁琐、人工误差大的行业痛点。设备可一次性完成MCU芯片OTP一次性存储器、SPIFlash的固件编程、数据校验、密钥写入,同步完成芯片全功能、全参数性能测试,实现单设备、单工序完成烧录+测试全流程作业。一体化流程大幅精简产线工序,减少设备投入与人工成本,明显提升量产流转效率。同时支持自动化批量作业,可对接全自动分选机、探针台,实现晶圆、封装成品芯片无人值守式烧录测试一体化生产。设备内置烧录数据备份、校验纠错、不良标记功能,可有效规避烧录失败、数据错乱等问题,保障每颗MCU芯片固件完整性与功能可靠性。完美适配MCU芯片大批量、标准化、低成本的量产需求,大幅提升企业量产产能与产品良率。 针对工业数模混合芯片,国磊 ATE 可模拟多路传感器模拟输入与数字控制输出,验证芯片长时间连续工作稳定性。福州导电阳极丝测试系统供应商

国磊全系列ATE设备深度适配半导体量产自动化产线生态,预留标准化通用对接接口,可直接兼容各类品牌晶圆探针台、芯片分选机、高低温测试腔体、自动上下料设备,无需额外改造工装、无需二次开发,即可实现全自动无人值守量产测试作业。设备支持晶圆CP阶段探针测试、封装后FT成品测试、高低温可靠性测试全流程自动化流转,可自动完成芯片上料、测试、分拣、下料、数据记录、不良标记全工序,大幅减少人工干预,规避人工操作带来的误差与效率损耗。设备搭载智能产线调度系统,可适配大批量、高节奏量产生产需求,支持24小时不间断稳定运行,设备稳定性、连续工作性完全满足规模化产线标准。自动化适配能力大幅提升芯片量产产能、降低人工成本、提升产品一致性,是芯片企业规模化、标准化、智能化量产的主要配套装备。 高性能SIR测试设备国磊G97-X200高速并行测试能力,大幅提升量产吞吐效率。

国磊ATE设备创新性打通芯片研发验证与量产测试全流程闭环,单台设备支持研发调试、量产自动化两种工作模式无缝切换,彻底解决传统设备“研发机不能量产、量产机不便调试”的行业痛点。在实验室研发阶段,设备可实现芯片流片前仿真对标、流片后性能表征、参数精细化调试、缺陷精细定位,帮助研发团队快速优化电路设计、修正性能偏差、缩短芯片研发迭代周期。在量产阶段,设备可一键切换自动化量产模式,适配晶圆CP探针测试、封装成品FT测试全流程,对接自动化产线实现批量测试、不良筛选、数据归档。两套模式共用同一套硬件主要与软件算法,保证研发测试参数与量产测试标准完全统一,避免模式切换带来的测试偏差与标准脱节,大幅降低企业设备投入、产线转换与人员培训成本,实现芯片从研发到量产的无缝衔接、高效流转。
国磊G97-S桌面紧凑型ATE专为芯片设计实验室研发验证、芯片性能对标测试场景打造,轻量化机身集成全套高精度模拟测试资源,兼顾便携性与专业级测试精度,完美适配中小规模设计公司、实验室的芯片研发需求。设备搭载与高精量产机型同源的高精度SMU、AWG、采集单元,可精细完成各类通用模拟芯片、小型信号链芯片的参数表征、性能调试、缺陷定位工作,覆盖失调、增益、噪声、线性度、功耗等全主要参数测试。主要优势在于支持国产模拟芯片与TI、ADI等海外进口同类芯片的横向对标测试,可输出量化、精细的性能对比数据,助力研发人员精细定位国产芯片性能差距,针对性优化电路设计、迭代产品方案,大幅缩短国产模拟芯片研发迭代周期。设备操作简洁、部署灵活,无需复杂产线配套,开机即可测试,同时支持测试方案快速迭代,可灵活适配各类新型模拟芯片的研发测试需求,是国产模拟芯片技术突破、进口替代的轻量化主要装备。 国磊ATE 同步校验通道一致性、失真度、建立时间,解决音频、雷达、工业传感 DAC 量产良率筛选痛点。

国磊半导体实现ATE设备整机硬件、主要测试板卡、操作软件、测试算法多角度自研自产,区别于行业组装式设备,具备更强的产品稳定性、定制化能力与售后保障能力,可为芯片设计企业、封测厂商、终端整机企业提供一站式测试解决方案。企业可享受设备整机一体化交付、测试方案定制开发、产线适配调试、员工技术培训、设备运维升级的全链条本地化服务。针对客户个性化芯片测试需求,可快速完成硬件改造、软件定制、方案优化,灵活适配各类新型芯片、特殊工况、专属产线的测试要求。本地化售后团队可实现快速响应、现场调试、故障排查、定期维保,彻底解决进口设备售后响应慢、运维成本高、定制难度大的痛点。从前期方案对接、中期设备落地、后期运维迭代,多角度为客户解决芯片测试落地难题,助力客户快速实现芯片研发迭代与规模化量产。 国磊G97-ADC 是G97 通用 PXIe 模块化平台下的 ADC / 混合信号测试系统,专为模数转换芯片打造。吉安PCB测试系统研发
国磊G97-ADC -122dBc AWG 信号源,解决高精度 ADC 失真测试痛点。福州导电阳极丝测试系统供应商
电源类混合信号芯片是现代电子系统的能源心脏和控制神经,他们构成了数字世界的底层基石,也构筑着一个国家在技术**和产业安全方面的生命线。从通信到汽车行业,它们都担当着产业升级的关键赋能者和能源效率**的推动者这样的双重角色。其中,PMIC和BMS芯片通常是系统里能源转换和分配的**担当,起到了不可或缺的作用。PMIC芯片的作用在于为SoC、CPU、内存等关键器件提供精细、高效的供电方案,直接影响整个系统的性能和续航时间;而BMS芯片,作为电动汽车或者储能系统的“电池大脑”,管理着系统的充放电安全、系统寿命和续航时间。另一方面,驱动类芯片和Charger芯片构成了系统里智能化控制的执行枢纽。驱动类芯片构建起了数字世界和真实物理世界之间的接口,将数字化的指令转化为实际的物理动作;而Charger芯片通过实现快充协议握手和电能高效传输,日益成为用户体验的关键环节。虽然电源类混合信号芯片的应用场景不同,但在ATE测试中,它们面临着一系列高度重叠的**挑战:高精度、高动态范围的模拟参数测试,包括电压、电流、功率、效率等。因而,它们对ATE的精密测量单元和电源模块的精度、稳定性和噪声水平提出了较高的要求。 福州导电阳极丝测试系统供应商