HBM接口动辄上千个高速信号引脚,数据速率高达Gbps级别,对测试设备的通道密度、测试速率与时序精度提出极限挑战。国磊GT600测试机以400MHz测试速率和**2048个数字通道的强大配置,从容应对HBM接口的高并发、高速逻辑测试需求。其128M向量存储深度可完整运行复杂协议测试Pattern,确保功能覆盖无遗漏。更关键的是,GT600支持512Sites高并行测试,大幅提升测试吞吐量,**降低AI芯片的单颗测试成本。在HBM驱动的算力**中,GT600不**是测试工具,更是提升国产AI芯片量产效率与市场竞争力的**引擎。国磊GT600SoC测试机可以进行电源抑制比(PSRR)测试即在电源上叠加交流信号,测量输出端的噪声响应。湘潭CAF测试系统精选厂家

杭州国磊GT600提供高达128M的向量存储深度,相当于可存储1.28亿个测试步骤,这是保障复杂芯片测试完整性的关键。现代SoC的测试程序极为庞大,如AI芯片运行ResNet-50模型推理、手机SoC执行多任务调度、通信芯片处理完整5G协议栈,这些测试序列动辄数百万甚至上千万向量。若向量深度不足,测试机需频繁从硬盘加载数据,导致测试中断、效率骤降。杭州国磊GT600的128M深度可将整个测试程序一次性载入内存,实现“全速连续运行”,避免性能瓶颈。在工程调试阶段,长向量也便于复现偶发性失效。对于需要长时间稳定性测试的车规芯片,128M空间可容纳老化测试的完整循环序列。这一参数确保杭州国磊GT600能应对未来更复杂的芯片验证需求。国磊PCB测试系统批发您正在为寻找可靠的高阻测试方案而烦恼吗?看这里就购了。

国磊GT600测试机的100ps边沿精度与10ps分辨率TMU,可精确测量低功耗状态切换延迟与唤醒时间,确保实时响应性能。此外,GT600支持20/24bitAWG与Digitizer,可用于集成在低功耗SoC中的高精度ADC/DAC、传感器接口电路的动态参数测试(如SNR、THD)。其32/64/128M向量存储深度支持复杂低功耗状态机的序列测试,而512Sites高并行测试能力则**降低单位测试成本,满足物联网、可穿戴设备等高量产场景的需求。综上所述,现代工艺节点与充足资金确实使低功耗SoC能够覆盖更**的用例,但其设计复杂度的提升也对测试设备提出了更高要求。国磊GT600测试机凭借其高精度模拟测量能力、灵活的混合信号支持、高并行架构与开放软件平台,不**能够验证低功耗SoC的功能正确性,更能深入评估其在先进工艺下的功耗行为与可靠性,成为支撑低功耗SoC从设计到量产落地的关键测试基础设施。
医疗成像芯片 CT、MRI、内窥镜等设备的图像传感器(CIS)和图像信号处理器(ISP)对图像质量要求极高。国磊GT600可通过高速数字通道测试ISP的图像处理算法(如降噪、边缘增强),并通过AWG注入模拟图像信号,验证成像链路的完整性与色彩还原度。 4. 植入式医疗设备芯片 心脏起搏器、神经刺激器等植入设备的芯片必须**功耗、超高可靠。国磊GT600的FVMI模式可精确测量uA级静态电流,筛选出“省电体质”芯片;其支持长时间老化测试,可模拟10年以上使用寿命,确保植入后万无一失。 综上,国磊GT600以“高精度、高可靠、全功能”测试能力,为国产**医疗芯片的上市提供了坚实的质量保障。国磊GT600SoC测试机兼容STDF、CSV等标准数据格式,便于HBM相关测试数据的SPC分析与良率追踪。

杭州国磊GT600SoC测试机之所以特别适用于高校科研场景,**在于其开放性、灵活性、多功能性与高性价比,完美契合高校在芯片教学、科研探索与原型验证中的独特需求。首先,高度开放的软件生态是科研创新的基础。GT600搭载GTFY软件系统,支持C++编程语言,并兼容VisualStudio等主流开发环境。这意味着高校师生无需依赖封闭的“黑盒子”软件,可自主编写、调试和优化测试程序,灵活实现各类新型芯片架构(如RISC-V、存算一体、类脑计算)的功能验证。这种开放性极大激发了学生的工程实践能力与教师的科研创造力。其次,模块化硬件架构支持多样化实验需求。GT600提供16个通用插槽,可自由混插数字、模拟(AWG/TMU)、电源(SMU/DPS)等板卡,构建从纯数字逻辑到混合信号的完整测试平台。无论是验证一颗自研MCU的GPIO功能,还是测试新型传感器接口的模拟性能,亦或是表征先进工艺下的漏电特性,GT600都能“一机多用”,避免高校重复采购多台**设备,***提升设备利用率。第三,高精度测量能力支撑前沿研究。GT600的PPMU可测nA级电流,TMU时间分辨率达10ps,适用于FinFET、GAA等先进工艺下低功耗器件的特性表征。 支持远程监控,让您随时随地掌握测试进程。湘潭CAF测试系统精选厂家
操作界面友好,即使新手也能快速上手操作。湘潭CAF测试系统精选厂家
高速数字接口验证保障系统集成,**MEMSIMU(如用于AR/VR或自动驾驶)常集成SPI/QSPI接口,速率可达50MHz以上。国磊(Guolei)GT600支持400MHz测试速率和100ps边沿精度,不仅能验证数字协议合规性,还可进行眼图分析、抖动测试和建立/保持时间检查,确保MEMS模块在高速数据交互中不失效,避免因接口时序问题导致系统崩溃。并行测试提升MEMS量产效率 消费级MEMS芯片(如手机中的六轴传感器)年出货量达数亿颗,对测试成本极其敏感。国磊(Guolei)GT600支持比较高512 Sites并行测试,可在单次测试中同时验证数百颗MEMS-ASIC芯片,大幅降低单颗测试时间与成本。结合其向量存储深度(比较高128M)和ALPG(自动逻辑图形生成)功能,可高效覆盖复杂校准算法(如六点温度补偿)的测试流程。湘潭CAF测试系统精选厂家