杭州国磊绝缘电阻测试系统行价

国磊（Guolei）的SoC测试机（如GT600）虽然主要面向高性能系统级芯片（SoC）的数字、模拟及混合信号测试，但其技术能力与MEMS（微机电系统）领域存在多维度、深层次的联系。尽管MEMS器件本身结构特殊（包含机械微结构、传感器/执行器等），但在实际应用中，绝大多数MEMS芯片都需与**ASIC或SoC集成封装（如惯性测量单元IMU、麦克风、压力传感器等），而这些配套电路的测试正是国磊SoC测试机的**应用场景。MEMS-ASIC协同封装的测试需求，现代MEMS产品极少以“裸传感器”形式存在，通常采用MEMS+ASIC的异质集成方案。例如，加速度计/陀螺仪中的MEMS结构负责感知物理量，而配套的ASIC则完成信号调理、模数转换、温度补偿和数字接口输出。这类ASIC往往具备高精度模拟前端（如低噪声放大器、Σ-Δ ADC）、可编程增益控制和I²C/SPI数字接口，属于典型的混合信号SoC。 国磊GT600配备24位高精度AWG/Digitizer板卡、PPMU每引脚参数测量单元及TMU时间测量功能，可***验证此类MEMS配套ASIC的线性度、噪声性能、时序响应和电源抑制比，确保传感器整体精度与可靠性。国磊GT600虽不是专为Chiplet设计，但其“模块化、高性能多物理场集成”的架构具备服务Chiplet测试的能力。杭州国磊绝缘电阻测试系统行价

AI眼镜SoC普遍采用40nm以下工艺，集成高精度ADC、DAC、PLL、LDO等模拟模块，用于麦克风阵列信号采集、骨传导音频输出与电源稳压。国磊GT600测试机支持可选配GT-AWGLP02任意波形发生器（THD-122dB，SNR110dB）与20/24bit分辨率Digitizer，可用于语音前端信号链的INL、DNL、THD、SNR等参数测试，确保AI语音识别输入的准确性。其高精度浮动SMU板卡支持宽电压范围输出，可用于LDO负载调整率、PSRR及上电时序验证，保障音频与传感模块的电源稳定性。GT600的模块化16插槽架构支持数字、模拟、混合信号板卡混插，实现从NPU到传感器接口的一站式测试，避免多设备切换带来的数据割裂。杭州国磊绝缘电阻测试系统行价监测参数齐全，包括电阻、电流、电压、温湿度等，一目了然。

GT600每通道集成PPMU，支持nA级电流分辨率，可精确测量被电源门控关闭的模块在“关断状态”下的漏电流。通过对比门控开启与关闭时的电流差异，评估电源开关的隔离能力，确保未**模块不会产生异常功耗。2.GT600支持可选配高精度浮动SMU板卡，可为SoC的不同电源域提供**的电压施加与电流监测。在电源门控测试中，可通过SMU分别控制主电源与门控电源的开启/关闭时序，验证电源域之间的依赖关系与上电顺序，防止闩锁或电压倒灌。3.GT600配备GT-TMUHA04时间测量单元，提供10ps时间分辨率，用于测量从门控信号有效到目标模块恢复供电的时间、模块唤醒后功能恢复的响应延迟、确保电源门控机制在满足低功耗要求的同时，不影响系统实时性。4.通过GTFY软件系统与C++编程，工程师可编写脚本实现循环执行“上电→功能测试→门控关断→延时→唤醒”流程；扫描不同关断时长对唤醒成功率的影响；监测多次开关操作后的电流一致性，评估可靠性。5.GT600支持高采样率的动态电流监测，可捕获电源门控开启瞬间的浪涌电流，避免因瞬时电流过大导致电压塌陷或系统复位。结合Digitizer功能，记录电压/电流波形，用于分析电源稳定性与去耦电容设计有效性。

在HBM技术快速迭代的背景下，芯片企业亟需灵活、开放的测试平台，以快速响应设计变更与测试需求升级。国磊GT600测试机搭载开放式GTFY软件系统，支持VisualStudio与C++开发环境，让工程师能够自由定制测试流程，快速开发复杂测试程序。系统兼容Access、Excel、CSV、STDF等主流数据格式，无缝对接现有数据分析平台。同时，GT600提供测试向量转换工具，可轻松迁移其他平台的测试方案，大幅缩短导入周期。对于正在布局HBM产品的国产AI芯片公司而言，GT600不**是一台测试机，更是一个灵活、高效、可扩展的测试生态，助力客户在激烈的市场竞争中抢占先机。国磊GT600支持C++编程与自定义测试流程，便于实现复杂模拟参数的闭环扫描与数据分析。

可穿戴设备的“微功耗**” AI眼镜、智能手表等可穿戴设备依赖电池供电，对SoC功耗极其敏感。一颗芯片若待机漏电超标，可能导致设备“一天三充”。杭州国磊GT600的PPMU可精确测量nA级静态电流（Iddq），相当于每秒流过数亿个电子的微小电流，能识别芯片内部的“隐形漏电点”。通过FVMI模式，杭州国磊GT600可在不同电压下测试芯片功耗，验证其电源门控（Power Gating）与休眠唤醒机制是否有效。其高精度测量能力确保只有“省电体质”的芯片进入量产。同时，杭州国磊GT600支持混合信号测试，可验证传感器融合、语音唤醒等低功耗功能。在追求“轻薄长续航”的可穿戴市场，杭州国磊GT600以“微电流级”检测能力，为国产芯片的用户体验提供底层保障。国磊GT600SoC测试机兼容STDF、CSV等标准数据格式，便于HBM相关测试数据的SPC分析与良率追踪。杭州国磊绝缘电阻测试系统行价

国磊GT600可使用AWG生成模拟输入信号，Digitizer捕获输出，计算INL、DNL、SNR、THD等指标。杭州国磊绝缘电阻测试系统行价

低温CMOS芯片的常温预筛与参数表征。许多用于量子计算的控制芯片需在毫开尔文温度下工作，但其制造仍基于标准CMOS工艺。在封装并送入稀释制冷机前，必须通过常温下的严格电性测试进行预筛选。国磊（Guolei）GT600支持每引脚PPMU（参数测量单元）和可编程浮动电源（-2.5V~7V），能精确测量微弱电流、漏电及阈值电压漂移等关键参数，有效剔除早期失效器件，避免昂贵的低温测试资源浪费。量子测控SoC的量产验证平台 随着量子计算机向百比特以上规模演进，集成化“量子测控SoC”成为趋势（如Intel的Horse Ridge芯片）。这类芯片集成了多通道微波信号调制、频率合成、反馈控制等功能，结构复杂度接近**AI或通信SoC。GT600的512~2048通道并行测试能力、128M向量深度及400MHz测试速率，完全可满足此类**SoC在工程验证与小批量量产阶段的功能覆盖与性能分bin需求。杭州国磊绝缘电阻测试系统行价