告别毫欧级电流测量误差! 业展电子合金采样电阻+开尔文四线法

工程师朋友们，您是否在测量低阻值(如<500mΩ) 合金采样电阻(锰铜、卡玛等)的电流时，常遇到这些困扰?

· 毫伏级压降测不准? 低阻值电阻(例如1mΩ)在10A电流下压降*10mV, 微小误差即导致电流计算偏差。

· 导线电阻与接触电阻干扰大?  传统两线法将导线电阻、接触点电阻统统计入测量结果，引入***误差。

· 结果漂移不稳定? 温度变化、连接松动导致的导线/接触电阻变化，让测量值难以信赖。

这些痛点，直接影响系统控制精度、电池管理、过流保护等关键功能的可靠性!

业展电子推荐：开尔文四线连接法——高精度电流测量的标准答案

开尔文四线法(四端测量)通过物理分离电流激励与电压测量路径，从根本上消除导线电阻和接触电阻对测量精度 的影响，是测量低阻值电阻压降(进而计算电流)的理想选择。

**优势：分离路径，消除干扰

图1:开尔文四线连接原理图- 电流回路(标红色)与电压检测回路(标蓝色)物理分离，确保测量电压*反映电阻本身压降

为何选择业展电子合金采样电阻?专业解决方案，助力开尔文四线法，发挥***效能

开尔文四线法消除了外部连接误差，而电阻本身的设计、制造与贴装精度同样至关重要。业展电子专为高精度电流 检测设计的四端子合金采样电阻系列，是您的理想搭档：

业展电子四端子采样电阻系列产品图

图2:业展电子专业四端子合金采样电阻系列 (YLRF,SBB,SBBP,USR,FHRP),    独特四端子结构设计，有效应对高精度测量挑战

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