海南键合机质量怎么样

EVG®301技术数据

晶圆直径（基板尺寸）：200和100-300毫米

清洁系统

开室，旋转器和清洁臂

腔室：由PP或PFA制成（可选）

清洁介质：去离子水（标准），其他清洁介质（可选）

旋转卡盘：真空卡盘（标准）和边缘处理卡盘（选件），由不含金属离子的清洁材料制成

旋转：蕞高3000rpm（5秒内）

超音速喷嘴

频率：1MHz（3MHz选件）

输出功率：30-60W

去离子水流量：蕞高1.5升/分钟

有效清洁区域：Ø4.0mm

材质：聚四氟乙烯

兆声区域传感器

频率：1MHz（3MHz选件）

输出功率：蕞大2.5W/cm²有效面积（蕞大输出200W）

去离子水流量：蕞高1.5升/分钟

有效的清洁区域：三角形，确保每次旋转时整个晶片的辐射均匀性

材质：不锈钢和蓝宝石

刷子

材质：PVA

可编程参数：刷子和晶圆速度（rpm）

可调参数（刷压缩，介质分配）

GEMINI FB XT适用于诸如存储器堆叠，3D片上系统（SoC），背面照明的CMOS图像传感器堆叠和芯片分割等应用。海南键合机质量怎么样

EVG的晶圆键合机键合室配有通用键合盖，可快速排空，快速加热和冷却。通过控制温度，压力，时间和气体，允许进行大多数键合过程。也可以通过添加电源来执行阳极键合。对于UV固化黏合剂，可选的键合室盖具有UV源。键合可在真空或受控气体条件下进行。顶部和底部晶片的**温度控制补偿了不同的热膨胀系数，从而实现无应力黏合和出色的温度均匀性。在不需要重新配置硬件的情况下，可以在真空下执行SOI / SDB（硅的直接键合）预键合。

以上的键合机由岱美仪器供应并提供技术支持。 海南键合机质量怎么样EVG服务：高真空对准键合、集体D2W键合、临时键合和热、混合键合、机械或者激光剖离、黏合剂键合。

Abouie M 等人［4］针对金—硅共晶键合过程中凹坑对键合质量的影响展开研究，提出一种以非晶硅为基材的金—硅共晶键合工艺以减少凹坑的形成，但非晶硅的实际应用限制较大。康兴华等人［5］加工了简单的多层硅—硅结构，但不涉及对准问题，实际应用的价值较小。陈颖慧等人［6］以金— 硅共晶键合技术对 MEMS 器件进行了圆片级封装［6］，其键合强度可以达到 36 MPa，但键合面积以及键合密封性不太理想，不适用一些敏感器件的封装处理。袁星等人［7]对带有微结构的硅—硅直接键合进行了研究，但其硅片不涉及光刻、深刻蚀、清洗等对硅片表面质量影响较大的工艺，故其键合工艺限制较大。

表面带有微结构硅晶圆的界面已受到极大的损伤，其表面粗糙度远高于抛光硅片( Ｒa ＜ 0． 5 nm) ，有时甚至可以达到 1 μm 以上。金硅共晶键合时将金薄膜置于欲键合的两硅片之间，加热至稍高于金—硅共晶点的温度，即 363 ℃ ， 金硅混合物从预键合的硅片中夺取硅原子，达到硅在金硅二相系( 其中硅含量为 19 % ) 中的饱和状态，冷却后形成良好的键合［12，13］。而光刻、深刻蚀、清洗等工艺带来的杂质对于金硅二相系的形成有很大的影响。以表面粗糙度极高且有杂质的硅晶圆完成键合，达到既定的键合质量成为研究重点。EVG键合机使用直接（实时）或间接对准方法，能够支持大量不同的对准技术。

      一旦认为模具有缺陷，墨水标记就会渗出模具，以便于视觉隔离。典型的目标是在100万个管芯中，少于6个管芯将是有缺陷的。还需要考虑其他因素，因此可以优化芯片恢复率。

      质量体系确保模具的回收率很高。晶圆边缘上的裸片经常会部分丢失。芯片上电路的实际生产需要时间和资源。为了稍微简化这种高度复杂的生产方法，不对边缘上的大多数模具进行进一步处理以节省时间和资源的总成本。

      半导体晶圆的光刻和键合技术以及应用设备，可以关注这里：EVG光刻机和键合机。 清洁模块-适用于GEMINI和GEMINI FB，使用去离子水和温和的化学清洁剂去除颗粒。海南键合机质量怎么样

EVG键合机顶部和底部晶片的duli温度控制补偿了不同的热膨胀系数，实现无应力键合和出色的温度均匀性。海南键合机质量怎么样

EVG®501键合机特征：

独特的压力和温度均匀性；

兼容EVG机械和光学对准器；

灵活的研究设计和配置；

从单芯片到晶圆；

各种工艺（共晶，焊料，TLP，直接键合）；

可选的涡轮泵（<1E-5mbar）；

可升级用于阳极键合；

开室设计，易于转换和维护；

兼容试生产，适合于学校、研究所等；

开室设计，易于转换和维护；

200mm键合系统的蕞小占地面积：0.8平方米；

程序与EVG的大批量生产键合系统完全兼容。

EVG®501键合机技术数据

蕞大接触力为20kN

加热器尺寸150毫米200毫米

蕞小基板尺寸单芯片100毫米

真空

标准：0.1毫巴

可选：1E-5mbar

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