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FCom晶振的寿命、失效模式与可靠性评估有哪些标准?

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深圳市汇浩电子科技发展有限公司2025-05-29

FCom晶振通过85°C 1000小时寿命测试、冷热冲击、HALT、密封性氦检等验证。主要失效为频漂、起振失败、虚焊等。适用于工业、车规等高可靠性场景,稳定运行达10年以上。

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简介:富士晶振专注高精度工业/车规级晶振,低功耗、高可靠,适配电信/汽车/消费电子推进小型精密化与高性价比
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FCO-3P-LJ / 3.2*2.52
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