什么是测试模式（Test Mode）？常见模式有哪些？

杭州国磊半导体设备有限公司2025-10-05

测试模式是芯片为测试设计的特殊工作状态，常见模式包括：扫描链模式：将时序逻辑转换为组合逻辑，便于故障注入；MBIST（内存内建自测）：通过算法生成测试图形检测SRAM/DRAM故障；LDO测试模式：单独控制电源域以测试低功耗设计。

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简介：高性能半导体/电子测试系统提供商，为芯片/新能源/LED/医疗等领域提供测试解决方案与产品

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