南通应力双折射测量成像式应力仪研发

应力分布测试是评估光学元件内应力状况的重要手段。常用的测试方法有偏光应力仪法，其基于光弹性原理，通过观测镜片在偏振光下的干涉条纹，分析应力的大小和分布，能够直观呈现应力集中区域；数字图像相关法（DIC）则利用高精度相机采集元件表面变形图像，通过对比变形前后的图像，计算出应力分布情况，这种方法可实现全场应力测量，精度高且对元件无损伤。玻璃制品内应力是影响其强度和稳定性的关键因素，我们的内应力测量设备采用先进的偏光技术与高精度传感器，可快速、准确地检测玻璃制品中的应力分布。结合算法，成像式应力仪可自动识别应力异常区域，实现智能化品控。南通应力双折射测量成像式应力仪研发

在热应力管理领域，成像应力仪是分析和管理热应力的利器。在TGV制程中，从高温沉积或烧结后的冷却阶段，到产品服役期间的温度波动，热应力无处不在。该设备能够精确测量出因不同材料间热膨胀系数失配而导致的热应力大小与分布。例如，在评估不同阻挡层/种子层材料组合对热应力的影响时，成像应力仪提供的定量数据可以作为筛选低应力方案的黄金标准。这直接指导了材料选择与工艺设计，有效避免了因热应力过大导致的界面剥离或基板翘曲。厦门光弹效应测量成像式应力仪价格支持新材料应力性能分析。

成像式内应力测量技术是一种先进的光学检测方法，主要用于评估透明材料内部的应力分布状况。该技术基于光弹性原理，通过偏振光学系统和高分辨率成像设备的组合，能够快速、准确地获取样品全场的应力分布图像。系统工作时，偏振光穿过被测样品后，材料内部的应力会导致光的偏振状态发生改变，这种变化被CCD相机捕获并转化为可视化的应力分布图。相比传统点式测量方法，成像式测量具有非接触、全场测量、高空间分辨率等***优势，测量精度通常可达1nm/cm量级。

现代应力测量技术已经能够实现低相位差材料的全场自动化检测。先进的数字偏光应力仪配备高分辨率CCD和图像处理系统，可快速扫描整个样品表面，生成详细的应力分布云图。系统通过分析干涉条纹的密度和走向，自动计算出各区域的应力值，并以彩色编码方式直观显示。这种检测方式特别适用于大尺寸光学元件的应力分析，如天文望远镜的镜坯检测。测量数据可直接导入生产管理系统，为工艺优化提供依据。偏光应力仪是专门用于检测玻璃制品、塑料制品等透明材料内部应力的光学仪器。它利用偏振光通过应力材料时产生的双折射效应，通过观察干涉条纹的形态和密度来评估应力大小和分布，材料内部的微区残余应力集中，往往是疲劳裂纹萌生的起源。

在TGV的铜填充过程中，成像应力仪充当了关键的监控角色。电镀填充的铜在结晶过程中会产生本征应力，而其与玻璃基板巨大的热膨胀系数差异更会在后续冷却中引入巨大的热失配应力。该仪器能够在填充及后退火工艺后，立即对TGV结构进行扫描，量化铜柱内部的平均张应力或压应力水平。通过关联不同电镀参数（如电流密度、添加剂浓度）与**终测得的应力值，工艺工程师可以精确地“调谐”电镀配方，实现更为均匀、低应力的铜填充，从而提升互连的电学可靠性。成像式应力仪对标应力双折射仪wpa-200！南京光学膜成像式应力仪供应商

具备广延迟测量范围，适应不同场景。南通应力双折射测量成像式应力仪研发

在光学玻璃制品和镜片制造领域，内应力测量是确保产品质量的重要环节。低相位差材料对内部应力极为敏感，微小的应力分布不均就会导致光程差，影响光学性能。目前主要采用偏光应力仪进行检测，通过观察材料在偏振光场中产生的干涉条纹，可以直观判断应力大小和分布。这种方法对普通光学玻璃的检测精度可达2nm/cm，完全满足常规光学元件的质量控制需求。特别是在相机镜头、显微镜物镜等成像系统的生产中，应力检测帮助制造商将产品的波前畸变控制在设计允许范围内，保证了光学系统的成像质量。南通应力双折射测量成像式应力仪研发

千宇光学专注于偏振光学应用、光学解析、光电探测器和光学检测仪器的研发与制造。主要事业涵盖光电材料、光学显示、半导体、薄膜橡塑、印刷涂料等行业。 产品覆盖LCD、OLED、VR、AR等上中下游各段光学测试需求，并于国内率先研发相位差测试仪打破国外设备垄断，目前已广泛应用于全国光学头部品牌及其制造商

千宇光学研发中心由光学博士团队组成，掌握自主的光学检测技术, 测试结果可溯源至国家计量标准。与国家计量院、华中科技大学、东南大学、同济大学等高校建立产学研深度合作。千宇以提供高价值产品及服务为发展原动力， 通过持续输出高速度、高精度、高稳定的光学检测技术，优化产品品质，成为精密光学产业有价值的合作伙伴。