克劳德高速数字信号测试实验室眼图测试测量方法编辑 播报眼图测试是高速串行信号物理层测试的一个重要项目。眼图是由多个比特的波形叠加后的图形,从眼图中可以看到:数字信号1电平、0电平,信号是否存在过冲、振铃,抖动是否很大,眼图的信噪比,上升/下降时间是否对称(占空比)。眼图反映了大数据量时的信号质量,可以直观地描述高速数字信号的质量与性能。传统眼图测量方法用中文来理解是8个字:“同步触发+叠加显示”,现代眼图测量方法用中文来理解也是8个字:“同步切割+叠加显示”。两种方法的差别就4个字:触发、切割,传统的是用触发的方法,现代的是用切割的方法。“同步”是准确测量眼图的关键,传统方法和现代方法同步的方法是不一样的。“叠加显示”就是用模拟余辉的方法不断累积显示。传统的眼图方法就是同步触发一次,然后叠加一次。每触发一次,眼图上增加了一个UI,每个UI的数据是相对于触发点排列的,每触发一次眼图上只增加了一个比特位。 一种眼图测试方法,装置,电子设备系统测试。天津DDR测试眼图测试
眼图与性能的关系眼图的"眼睛"张开的大小反映着码间串扰的强弱。"眼睛"张的越大且眼图越端正表示码间串扰越小;反之表示码间串扰越大。当存在噪声时噪声将叠加在信号上观察到的眼图的线迹会变得模糊不清。若同时存在码间串扰"眼睛"将张开得更小。与间串扰时的眼图相比原来清晰端正的细线迹变成了比较模糊的带状线而且不很端正。噪声越大线迹越宽越模糊;码间串扰越大眼图越不端正。理论分析得到如下几条结论在实际应用中要以此为参考从眼图中对系统性能作一论述:(1)抽样时刻应在"眼睛"张开的时刻。(2)对定时误差的灵敏度可由眼图斜边的斜率决定。斜率越大对定时误差就越灵敏。(3)在抽样时刻上眼图上下两分支阴影区的垂直高度表示信号畸变。(4)眼图的横轴位置应对应判决门限电平。(5)在抽样时刻上下两分支离门限近的一根线迹至门限的距离表示各相应电平的噪声容限噪声瞬时值超过它就可能发生错误判决。(6)对于利用信号过零点取平均来得到定时信息的接收系统眼图倾斜分支与横轴相交的区域的大小表示零点位置的变动范围这个变动范围的大小对提取定时信息有重要的影响。广东数字信号眼图测试故障示波器眼图测试中的时基失真估计及修正?
USB眼图
USB眼图是用余辉方式累积叠加显示采集到串行信号的比特的结果,叠加后的图形形状看起来和眼睛很像,故名眼图。由于USB眼图是用一张图形就完整地表征了串行信号的比特信息,所以成为了衡量信号质量的重要工具,所以眼图测量也叫“信号质量测试”。
随着网络科技的完善人们逐渐无法满足于单调且静态的资讯,开始追求多媒体影音效果,为了达到身临其境的感受,影像或游戏的资料量越来越大。另一方面,为了维持视觉语音整体流畅度及即时性,各种产品间的传递效率和处理速度必须加快。整体而言,加快信号传输速度就会造成接收端辨识率降低。此外,现今电子产品体积越来越迷你化,电路板间的信号线间的距离也越来越近,造成信号线与信号线间的相互干扰已不得再忽略。那么该如何判定一个产品的传输质量的好坏?USB眼图就能够作为判定产品信号品质优劣的依据。
图测量中需要叠加的波形或比特的数量:在眼图测量中,叠加的波形或比特的数量不一样,可能得到的眼图结果会有细微的差异。由于随机噪声和随机抖动的存在,叠加的波形或比特数量越多,则眼的张开程度会越小,就越能测到恶劣的情况,但相应的测试时间也会变长。为了在测量结果的可靠性以及测量时间上做一个折衷,有些标准会规定眼图测量需要叠加的波形或比特数量,比如需要叠加1000个波形或者叠加1M个比特等。眼图位置的选择:当数字信号进行波形或者比特叠加后,形成的不只是一个眼图,而是一个个连续的眼图。如果叠加的波形或者比特数量足够,这些眼图都是很相似的,因此可以对其中任何一个眼图进行测量。下图显示的是叠加形成的多个连续的眼图,可以看到每个眼图都是很相似的。通常情况下,为了测量的方便,一般会调整时基刻度使得屏幕上只显示一个完整的眼图。 眼图测试(信号完整性测试)-LVDS物理层信号完整性?
眼图测量方法(传统眼图测量方法),眼图测量方法有两种:传统眼图测量方法用中文来理解是八个字:“同步触发+叠加显示”,现代眼图测量方法用中文来理解也是八个字:“同步切割+叠加显示”。两种方法的差别就四个字:传统的是用触发的方法,现代的是用切割的方法。“同步”是准确测量眼图的关键,传统方法和现代方法同步的方法是不一样的。“叠加显示”就是用模拟余辉的方法不断累积显示。传统的眼图方法就是同步触发一次,然后叠加一次。每触发一次,眼图上增加了一个UI,每个UI的数据是相对于触发点排列的,因此是每触发一次眼图上只增加了一个比特位。图一形象表示了这种方法形成眼图的过程。USB2.0接口眼图测试设备步骤?上海眼图测试系列
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DDR眼图测试1-5
,对于物理层无论是仿真还是一致性测试软件得到的数据,都可以通过数据分析工具 N8844A 导入到云端,通过可视化工具,生成统计分析表格,对比性分析高低温、高低电压等极端情况下不同的测试结果,比较不同被测件异同。为开发测试部门提供灵活和有效的大数据分析平台。
除了在物理层信号质量和基本时序参数之外,DDR 总线的状态机复杂时序特性,以及总线的命令操作解析需要通过逻辑分析仪辅助分析。是德科技的U4164A 逻辑分析仪,同步分析速率可以达到 4Gbps,采样窗口可以低至 100mv x 100ps,单路采集样本高达 400M,对于 DDR4 的测试是非常合适的,另外配合 B4661A memory 分析软件,可以解析 DDR4 会话操作,实现 DDR4 总线的命令解码,解析 MRS,命令,行列地址,并可以直接触发物理地址捕获特定信号,利用深存储的大量样本,可以对DDR 总线的性能进行分析,包括统计内存总线有效吞吐速率,统计各种命令操作以及总线利用率,分析对不同内存地址空间的访问效率。另外利用是德科技独有的逻辑分析仪内部眼图扫描功能,可以同时分析扫描总线各个比特位的眼图质量。 天津DDR测试眼图测试