药物结晶粉末经过压片处理后在太赫兹时域光谱仪中完成光谱采集，不同晶型药物分子空间排布存在区别，分子间作用力强度出现差异，频域光谱上各吸收峰的位置、相对高度形成专属图谱，同一药物不同工艺制备的晶型样品光谱能够清晰区分。药物压片全程避光操作，部分药物晶体受光照会发生晶型转变，制样使用红色遮光操作台，压片模具、样品架提前擦拭干净，避免不同药物粉末交叉混杂，混合杂质会在光谱上新增无关吸收峰，混淆药物自身晶型特征。采集完成后导出全部光谱数据，标注药物制备工艺、结晶温度、压片配比参数，汇总数据后对比不同工艺对药物太赫兹吸收波形产生的改变，为晶型辨别提供光谱参照依据。多层复合材料的反射波形会出现多个回波峰，...

太赫兹时域光谱仪后端信号传输线缆分为屏蔽信号线、供电线缆两类，两类线缆排布路径相互分离，捆绑固定于设备柜体走线卡槽内，避免线缆缠绕挤压造成线芯磨损。屏蔽信号线外层金属编织层完整包裹线芯，阻隔柜体内部电源模块、电机模块产生的交变电场耦合干扰，线缆接头处绝缘护套脱落会削弱屏蔽效果，时域波形会出现周期性细碎波动，影响微弱吸收信号识别。日常整理线缆时避免弯折角度过小，线缆长期锐角弯折会断裂内部屏蔽层，定期打开设备侧柜检查线缆外皮老化、接头松动情况，松动接头使用绝缘工具轻拧加固，老化线缆直接更换同规格适配线材。设备摆放走线时，信号线远离大功率供电主线，拉大电场干扰距离，无需额外加装外置屏蔽设备，即可维持...

太赫兹时域光谱仪传输飞秒激光的光路管道内部保持封闭状态，管道两端密封垫圈阻隔外部粉尘、潮湿空气进入光路，垫圈老化开裂后管道密封效果消失，水汽粉尘持续侵入管道污染内部镜片。定期拆开光路管道侧面检修窗口，查看内部镜片粉尘积累情况，检修操作全程通入干燥氮气，维持管道内部低水汽环境，检修完毕更换全新密封垫圈再封闭管道窗口。光路管道支架固定在实验台台面，支架底部加装减震软垫，隔绝地面走动、周边仪器运行产生的机械振动，振动传导至管道内部会造成镜片轻微晃动，时域脉冲信号持续抖动，软垫出现硬化、破损时及时更换，持续维持光路减震效果。光电导天线接收飞秒激光激发后，能够向外释放频段区间稳定的太赫兹脉冲。片上太赫兹...

实验日志记录工作配合太赫兹时域光谱仪检测同步开展，每一组样品测试都记录样品名称、制样厚度、混合配比、测试模式、氮气流量、环境温湿度、扫描区间、信号平均次数、放大倍数等全部实验参数，配套对应光谱数据文件编号，实现参数与数据一一对应。日志可采用电子表格格式存储，每条记录单独一行，区分不同实验日期、样品类别，后续调取历史光谱数据时，同步查阅日志记录的配套实验条件，判断两组光谱曲线差异来源于样品自身属性还是测试环境、设备参数变化。日志定期备份至移动硬盘，防止工控机故障丢失全部实验记录，每次修改设备光路、更换光学元件、更换氮气过滤芯后，额外在日志中记录维护操作内容与操作时间，形成完整设备使用与实验追溯记...

飞秒激光脉冲重复频率会影响太赫兹时域光谱仪信号采集效率，激光器出厂设定固定重复频率，非专业人员不可自行改动频率参数，改动后会造成探测模块光电响应节奏不匹配，时域波形出现周期性杂波。重复频率数值决定单位时间内产生的太赫兹脉冲数量，脉冲数量充足时多次平均采集能够快速弱化随机噪声，脉冲数量偏少则需要增加平均次数才能达到同等平滑曲线效果。激光器运行时输出脉冲重复频率稳定不变，若出现频率波动，代理激光器内部泵浦源供电模块存在故障，暂停光谱采集流程，联系设备维护人员检修供电电路，持续在频率波动状态下采集的数据不具备对比分析价值，全部作废重新测试。仪器光谱采集区间覆盖零点一至五太赫兹，适配多数常见材料的基础...

太赫兹时域光谱仪依托脉冲太赫兹辐射完成样品物性信息采集，整套设备由飞秒激光器、分束光路、延迟调节模块、探测接收单元以及信号处理组件构成，各结构依照固定光路路径完成光束传输与能量转化。飞秒激光经过分光处理后分为两路光束，一路光束照射至发射晶体激发产生瞬态太赫兹脉冲，脉冲信号穿过放置在样品台的待测物质，另一路光束作为探测光，借助光学延迟线路调整传播光程，与透射或是反射后的太赫兹信号在探测晶体处发生耦合。耦合生成的光电信号会被转换为电信号传输至数据采集设备，设备按照设定时间间隔记录不同延迟位置对应的信号强度，以此形成完整的时域波形曲线。操作人员可通过更换不同材质的晶体、调整光路间距适配固态、液态、气...

太赫兹时域光谱仪依托飞秒激光脉冲完成整套信号激发与采集流程，整套设备内部包含飞秒激光器、分束棱镜、延迟光路组件、探测晶体以及信号接收模块等多个结构单元，各部件按照既定光路排布形成完整测试链路。飞秒激光经过分束处理后分为泵浦光与探测光两路光束，泵浦光照射至发射晶体表面后能够激发出太赫兹辐射脉冲，探测光则通过可调延迟光路调整光程差，随后与穿过待测样品的太赫兹脉冲共同抵达探测晶体处完成信号耦合。设备运行过程中，光路内部会维持稳定的干燥低水汽环境，空气中的水分子会对太赫兹波段信号产生吸收作用，环境湿度波动会改变采集到的时域波形形态，因此测试腔体内部会持续通入干燥氮气以削弱水汽带来的信号干扰。操作人员放...

维护太赫兹时域光谱仪的光学元件时，粉尘堆积是需要持续关注的问题，设备长期放置在无防尘措施的实验环境中，空气中悬浮粉尘会附着在透镜、分束片、晶体表面，激光穿过带粉尘的光学元件时发生散射，泵浦光、探测光能量出现损耗，较终太赫兹探测信号强度逐步降低。日常实验结束后，使用防尘罩遮盖整套光路腔体，减少粉尘进入光路内部，每周定期检查各光学元件表面粉尘积累情况，轻度粉尘可使用低压氮气气流吹扫去除，顽固污渍则搭配单用光学清洁试剂擦拭。擦拭晶体、超薄镜片时力度保持轻柔，硬质镜片夹持支架不可过度拧紧，挤压会造成镜片出现细微裂纹，裂纹会分割激光光斑，破坏光路重合状态。维护操作全程佩戴无尘手套，避免手部汗液、油脂接触...

陶瓷基固态材料在太赫兹时域光谱仪透射模式下检测，陶瓷内部晶粒边界、孔隙结构会散射太赫兹电磁波，孔隙占比提升时透过样品的脉冲能量持续下降，频域光谱整体基线向上偏移，晶粒边界散射不会生成明显特征吸收峰，只改变信号整体衰减程度。制备陶瓷薄片时控制烧结温度与保温时长，不同烧结工艺得到孔隙含量存在区分的陶瓷样品，统一薄片厚度采集光谱，记录各组样品孔隙率与光谱基线吸收数值，梳理两者之间的对应变化规律。陶瓷薄片硬度较高，可直接放置样品架中心，薄片表面打磨平整，打磨残留细微粉末擦拭干净，粉末附着表层会额外散射太赫兹脉冲，造成基线吸收数值出现虚高情况，干扰孔隙率相关数据对比。便携款光谱仪简化光路结构，可转运至生...

太赫兹时域光谱仪的光路密封组件由氟胶垫圈、铝合金压框组合装配而成，整套密封结构包裹激光传输光路与太赫兹辐射传输腔体，隔绝实验室空气自由流通，从源头减少水汽、浮尘持续进入光路内部。氟胶材质适配设备长期恒温运行环境，耐激光微量热辐射，不易出现形变、开裂、析胶问题，若垫圈长期受压出现压缩回弹变差，光路缝隙会出现透气情况，腔体内部湿度会逐步回升，叠加水分子吸收效应，让采集的时域脉冲幅值持续走低。更换密封垫圈时需要匹配原厂尺寸规格，厚度、内径偏差会导致压框无法均匀压紧密封面，拆装压框时对角匀速拧动固定螺丝，避免有单侧用力挤压造成光路底板轻微形变，改变光学镜片基础倾角。更换密封配件后，密闭腔体通入氮气静置...

太赫兹时域光谱仪传输飞秒激光的光路管道内部保持封闭状态，管道两端密封垫圈阻隔外部粉尘、潮湿空气进入光路，垫圈老化开裂后管道密封效果消失，水汽粉尘持续侵入管道污染内部镜片。定期拆开光路管道侧面检修窗口，查看内部镜片粉尘积累情况，检修操作全程通入干燥氮气，维持管道内部低水汽环境，检修完毕更换全新密封垫圈再封闭管道窗口。光路管道支架固定在实验台台面，支架底部加装减震软垫，隔绝地面走动、周边仪器运行产生的机械振动，振动传导至管道内部会造成镜片轻微晃动，时域脉冲信号持续抖动，软垫出现硬化、破损时及时更换，持续维持光路减震效果。多层复合材料的反射波形会出现多个回波峰，对应各层材料的分界面位置。生物医药太赫...

太赫兹时域光谱仪内置温控辅件贴合激光发射基座安装，辅件不直接调控整机环境温度，只稳定发射晶体基座工作面温度，弱化局部温差带来的晶体折射率微动变化。晶体工作面温度小幅波动，会改变太赫兹脉冲发射时长与出射角度，进而让时域脉冲横轴时间坐标发生偏移，同一样品间隔复测波形无法重合。温控辅件依托热敏探头实时采集基座温度数值，自动微调散热与制热功率，将基座温度浮动范围控制在狭小区间，探头粘贴位置不可随意挪动，挪动后测温点位偏移，温控反馈数据出现偏差。设备开机后温控辅件优先启动，待基座温度数值恒定后，再启动激光发射程序，顺延开展光路对准、参考光谱采集工作，长期使用后擦拭探头表面积灰，保障测温感应灵敏度，维持晶...

太赫兹时域光谱仪的样品夹持支架分为通用平片支架、液体池特定支架、反射块状样品支架三类，不同支架卡槽尺寸、固定结构存在区分，不可混用，液体池支架带有限位卡槽，限制液体池左右滑动，平片支架依靠弹性压片固定固体薄片，反射支架配备多角度旋转转轴适配块状样品。更换支架时断电停止信号采集程序，避免拆装支架触碰光路镜片，支架金属表面定期擦拭去除粉尘、样品碎屑，碎屑堆积在卡槽内部会抬高样品放置高度，太赫兹脉冲无法垂直穿过样品中心，造成信号采集强度降低。备用支架分类收纳在干燥储物盒，防止金属支架氧化生锈，锈迹接触样品会污染待测材料，生锈支架使用除锈试剂清理干净并烘干后再投入实验使用。锁相放大模块处理微弱探测信号...

太赫兹时域光谱仪传输飞秒激光的光路管道内部保持封闭状态，管道两端密封垫圈阻隔外部粉尘、潮湿空气进入光路，垫圈老化开裂后管道密封效果消失，水汽粉尘持续侵入管道污染内部镜片。定期拆开光路管道侧面检修窗口，查看内部镜片粉尘积累情况，检修操作全程通入干燥氮气，维持管道内部低水汽环境，检修完毕更换全新密封垫圈再封闭管道窗口。光路管道支架固定在实验台台面，支架底部加装减震软垫，隔绝地面走动、周边仪器运行产生的机械振动，振动传导至管道内部会造成镜片轻微晃动，时域脉冲信号持续抖动，软垫出现硬化、破损时及时更换，持续维持光路减震效果。分体式光谱仪将激光器与探测主机分离，减少热源对光路元件的温度影响。生物医药太赫...

太赫兹时域光谱仪输出的频域光谱数据可用于对比不同加工工艺制备的同种材料，同一类高分子材料经过不同温度塑形、不同填料配比加工后，分子排列结构出现改变，对应的太赫兹吸收曲线会出现偏移或是吸收峰强弱变化。仪器的飞秒激光输出脉冲宽度维持在飞秒量级，短脉冲激光激发生成的太赫兹脉冲包含连续频率区间，能够覆盖多数材料特征响应对应的太赫兹波段，无需更换多种单一频率辐射源即可完成宽波段同步测试。测试环境的湿度数值需要维持在较低区间，水分子在太赫兹波段存在多处强吸收带，空气中水分子会消耗太赫兹脉冲能量，导致有效信号幅值下降，实验室会搭配干燥空气循环装置持续置换光路内部空间空气，稳定环境湿度数值，降低水汽对测试结果...

工业高分子材料的组分分析工作常会用到太赫兹时域光谱仪，橡胶、树脂、发泡塑料等材料内部填料分布、分子交联状态都会在太赫兹光谱中留下对应信号特征。测试时样品台可适配不同尺寸片状材料，厚度超过五毫米的固体样品更适合采用反射光路采集信号，薄层薄膜样品优先选用透射光路，减少介质厚度造成的信号过度衰减。光学延迟线路的调节范围决定仪器能够记录的时域信号时长，调节范围更大的设备可捕捉脉冲完整衰减过程，完整记录太赫兹脉冲穿过样品后的全部变化过程。仪器输出的原始时域数据只体现信号强度随时间的变化，经过傅里叶变换计算后，能够得到不同频率下样品的吸收系数与折射率数值，两组数值组合起来可以完整描述材料在太赫兹波段的光学...

环境温湿度条件会持续作用于太赫兹时域光谱仪的信号采集效果，温度变化会改变光路中光学元件、延迟位移台的物理尺寸，热胀冷缩效应造成光程出现细微改变，时域脉冲峰值位置随之发生偏移，同一组样品在温差较大的时段采集或许会得到形态存在差异的光谱曲线。湿度带来的影响主要来源于空气中水分子，水分子在多个太赫兹频率区间存在固有吸收带，未做干燥处理的测试腔体内部，水汽持续吸收太赫兹脉冲能量，采集到的信号整体强度下降，频域光谱上会叠加大量水汽吸收杂峰，掩盖待测材料自身的特征吸收信号。多数设备会配套氮气供气系统，干燥氮气持续填充样品测试腔体，将腔体内部水汽含量维持在较低水平，氮气通入流量可通过阀门手动调节，流量过低无...

涂层类材料的厚度检测能够借助太赫兹时域光谱仪实现，基体表面多层涂层会对太赫兹脉冲形成多次反射，时域波形中会出现多个单独脉冲峰值，不同峰值之间的时间间隔对应单层涂层厚度，通过运算即可得到涂层实际厚度数值。测试过程不会对涂层表面产生划伤、腐蚀等损伤，可对成品涂层样品开展无损反复检测，同一样品能够多次放置测试，观察涂层经过环境放置后的结构变化。设备配套位移平台采用步进驱动结构，移动过程运行平稳，不会出现卡顿跳步情况，跳步会造成时域信号时间坐标错位，影响后续频域转换计算结果。存储测试数据的硬盘分区单独划分，区分原始时域数据与经过运算处理后的频域数据文件，分类存储便于后续调取比对多批次样品光谱曲线，软件...

药物结晶粉末经过压片处理后在太赫兹时域光谱仪中完成光谱采集，不同晶型药物分子空间排布存在区别，分子间作用力强度出现差异，频域光谱上各吸收峰的位置、相对高度形成专属图谱，同一药物不同工艺制备的晶型样品光谱能够清晰区分。药物压片全程避光操作，部分药物晶体受光照会发生晶型转变，制样使用红色遮光操作台，压片模具、样品架提前擦拭干净，避免不同药物粉末交叉混杂，混合杂质会在光谱上新增无关吸收峰，混淆药物自身晶型特征。采集完成后导出全部光谱数据，标注药物制备工艺、结晶温度、压片配比参数，汇总数据后对比不同工艺对药物太赫兹吸收波形产生的改变，为晶型辨别提供光谱参照依据。仪器采集得到的电场信号包含振幅与相位两类...

飞秒激光脉冲重复频率会影响太赫兹时域光谱仪信号采集效率，激光器出厂设定固定重复频率，非专业人员不可自行改动频率参数，改动后会造成探测模块光电响应节奏不匹配，时域波形出现周期性杂波。重复频率数值决定单位时间内产生的太赫兹脉冲数量，脉冲数量充足时多次平均采集能够快速弱化随机噪声，脉冲数量偏少则需要增加平均次数才能达到同等平滑曲线效果。激光器运行时输出脉冲重复频率稳定不变，若出现频率波动，代理激光器内部泵浦源供电模块存在故障，暂停光谱采集流程，联系设备维护人员检修供电电路，持续在频率波动状态下采集的数据不具备对比分析价值，全部作废重新测试。多通道采集模块可同步记录多组延迟位置信号，缩短单次完整扫描的...

多组分混合粉末样品借助太赫兹时域光谱仪开展检测时，混合组分各自的太赫兹吸收特征会叠加在同一组频域光谱曲线之上，单一组分的特征吸收峰不会完全消失，只峰值高度随该组分质量占比改变。按照多组梯度质量配比制备混合压片，统一压片厚度与总质量，采集每组配比样品完整光谱，提取各特征峰对应的吸收数值，建立组分占比与吸收数值的对应数据表。混合粉末混合均匀程度会影响光谱重复性，粉末颗粒团聚、局部组分富集时，不同点位采集的光谱曲线存在明显差别，制样时充分研磨混合粉末，延长研磨时长缩小颗粒团聚规模，保证薄片内部组分分布均匀，同一薄片选取三个不同光斑点位重复采集光谱，三组曲线重合度较高代理混合均匀程度满足实验要求。新型...

工业高分子材料的组分分析工作常会用到太赫兹时域光谱仪，橡胶、树脂、发泡塑料等材料内部填料分布、分子交联状态都会在太赫兹光谱中留下对应信号特征。测试时样品台可适配不同尺寸片状材料，厚度超过五毫米的固体样品更适合采用反射光路采集信号，薄层薄膜样品优先选用透射光路，减少介质厚度造成的信号过度衰减。光学延迟线路的调节范围决定仪器能够记录的时域信号时长，调节范围更大的设备可捕捉脉冲完整衰减过程，完整记录太赫兹脉冲穿过样品后的全部变化过程。仪器输出的原始时域数据只体现信号强度随时间的变化，经过傅里叶变换计算后，能够得到不同频率下样品的吸收系数与折射率数值，两组数值组合起来可以完整描述材料在太赫兹波段的光学...

太赫兹时域光谱仪的数据采集过程分为时域信号扫描与频域转换两个基础环节，设备配套的位移台会按照设定步长匀速移动，以此改变泵浦光与探测光之间的光程差值，每一组光程差对应一组时域信号采样点，大量采样点拼接形成完整的太赫兹时域波形曲线。未放置样品时设备会先完成参考信号采集，将无样品遮挡状态下的太赫兹脉冲波形作为基准数据，再放入待测样品采集含样品衰减与相位偏移的样品信号，两组波形数据同步存储至设备内置存储单元。完成时域波形记录后，软件通过傅里叶变换算法将时域信号转换为频域光谱，转换过程中可调整频谱采样区间，筛选目标太赫兹频段区间开展针对性分析。不同材质样品会对不同频率的太赫兹电磁波产生差异化的吸收与折射...

太赫兹时域光谱仪内置温控辅件贴合激光发射基座安装，辅件不直接调控整机环境温度，只稳定发射晶体基座工作面温度，弱化局部温差带来的晶体折射率微动变化。晶体工作面温度小幅波动，会改变太赫兹脉冲发射时长与出射角度，进而让时域脉冲横轴时间坐标发生偏移，同一样品间隔复测波形无法重合。温控辅件依托热敏探头实时采集基座温度数值，自动微调散热与制热功率，将基座温度浮动范围控制在狭小区间，探头粘贴位置不可随意挪动，挪动后测温点位偏移，温控反馈数据出现偏差。设备开机后温控辅件优先启动，待基座温度数值恒定后，再启动激光发射程序，顺延开展光路对准、参考光谱采集工作，长期使用后擦拭探头表面积灰，保障测温感应灵敏度，维持晶...

太赫兹时域光谱仪的数据采集过程分为时域信号扫描与频域转换两个基础环节，设备配套的位移台会按照设定步长匀速移动，以此改变泵浦光与探测光之间的光程差值，每一组光程差对应一组时域信号采样点，大量采样点拼接形成完整的太赫兹时域波形曲线。未放置样品时设备会先完成参考信号采集，将无样品遮挡状态下的太赫兹脉冲波形作为基准数据，再放入待测样品采集含样品衰减与相位偏移的样品信号，两组波形数据同步存储至设备内置存储单元。完成时域波形记录后，软件通过傅里叶变换算法将时域信号转换为频域光谱，转换过程中可调整频谱采样区间，筛选目标太赫兹频段区间开展针对性分析。不同材质样品会对不同频率的太赫兹电磁波产生差异化的吸收与折射...

太赫兹时域光谱仪内置温控辅件贴合激光发射基座安装，辅件不直接调控整机环境温度，只稳定发射晶体基座工作面温度，弱化局部温差带来的晶体折射率微动变化。晶体工作面温度小幅波动，会改变太赫兹脉冲发射时长与出射角度，进而让时域脉冲横轴时间坐标发生偏移，同一样品间隔复测波形无法重合。温控辅件依托热敏探头实时采集基座温度数值，自动微调散热与制热功率，将基座温度浮动范围控制在狭小区间，探头粘贴位置不可随意挪动，挪动后测温点位偏移，温控反馈数据出现偏差。设备开机后温控辅件优先启动，待基座温度数值恒定后，再启动激光发射程序，顺延开展光路对准、参考光谱采集工作，长期使用后擦拭探头表面积灰，保障测温感应灵敏度，维持晶...

太赫兹时域光谱仪的光学聚焦镜片分为近红外聚焦镜片与太赫兹波段聚焦镜片，两类镜片材质不同，不可互换安装，近红外镜片只用于汇聚飞秒激光光束，太赫兹聚焦镜片负责收拢发射出的太赫兹脉冲，提升样品区域脉冲能量密度。镜片表面镀有适配对应波段的增透膜，增透膜磨损、脱落会增加光束反射损耗，脉冲能量下降，存放备用镜片时放置在密封防潮盒内部，避免潮湿空气腐蚀镀膜层。调整聚焦镜片位置依靠三轴微调支架，前后移动支架改变光束聚焦点位，左右上下微调让光斑完整落在样品中心区域，聚焦光斑尺寸越小，单位面积样品接收的太赫兹能量越高，薄微量样品的探测信号能够得到提升，光斑尺寸过大时脉冲分散，微弱吸收特征容易被噪声掩盖。晶体材料内...

太赫兹时域光谱仪软件自带光谱基线扣除功能，将空白参考光谱作为基线模板，系统自动用样品光谱对应频率点数值减去基线数值，扣除空气、基底、光学元件带来的基础吸收损耗，只保留待测样品自身产生的吸收信号。基线扣除操作可选择局部频段或者全部频谱区间，只关注某一段太赫兹信号时，可限定扣除区间减少多余运算，扣除后的光谱曲线基线贴近零吸收位置，各类材料特征吸收峰能够直观区分。多批次实验使用同一套光路与氮气环境时，单次采集的空白参考光谱可短时间内重复用于多组样品基线扣除，环境湿度、光路出现偏移后必须重新采集参考基线，沿用旧基线会造成扣除后光谱基线大幅偏移，干扰吸收峰识别工作。存储模块留存历次采集光谱数据，便于科研...

石墨、碳纳米管等碳基填充复合材料放入太赫兹时域光谱仪检测，碳基填料对太赫兹电磁波存在较强散射与吸收作用，填料添加量升高，全频段吸收数值同步上升，不会出现单一频率特征峰，整体光谱呈现平缓上升的吸收基线。碳基粉末质地轻盈，研磨混合、压片过程中容易飘散在实验台面与光路周边，制样操作在封闭防尘操作台上完成，飘散粉末及时用低压氮气吹扫清理，防止粉末附着光学晶体、镜片表面。压片时降低单批次填料添加质量，避免样品整体吸收过强导致无有效透过信号，多组低梯度填料配比压片，逐步观察吸收基线随填料含量的变化趋势，每组压片统一总厚度与总质量，消除厚度差异带来的数据干扰。分体式光谱仪将激光器与探测主机分离，减少热源对光...

反射式测试光路是太赫兹时域光谱仪可加装的拓展组件，常规透射光路只能收集穿过样品的太赫兹脉冲，反射光路用于无法透光的厚块材料、金属镀层、固体块状样品检测，组件包含多角度可调反射支架、辅助聚焦镜片，支架可调整样品放置倾角，采集不同入射角度下的反射时域信号。切换透射与反射光路时，需要拆卸原有透射样品架，安装反射组件，重新调整泵浦光、探测光光路重合位置，采集全新空白参考光谱，参考光谱为无样品时反射镜直接反射的太赫兹脉冲波形。块状岩石、金属镀层板材、厚陶瓷块等样品放置在反射支架上，样品表面需要保持清洁，表面氧化层、污渍会改变太赫兹反射信号强度，测试前使用无尘布清理样品表层杂质。多组不同倾角采集的反射光谱...