电路信号放大模块连接太赫兹时域光谱仪探测晶体与工控机采集端口，探测晶体输出的原始电压信号幅值偏低，放大模块将微弱电信号提升至采集卡可识别的数值区间，放大倍数参数在软件界面可调，放大倍数设置过高会同步放大电路噪声，光谱曲线毛刺增多，倍数设置偏低则样品微弱吸收特征被背景噪声掩盖。放大模块长期运行内部电路元件升温，模块侧面散热孔保持通畅，不堆叠实验耗材遮挡散热通道，定期清理散热孔积累灰尘，避免元件过热造成放大倍数不稳定。切换透射、反射光路后，探测信号基础幅值出现变化，需要重新调整放大倍数，不能沿用前一组光路的放大参数，调整完成后采集空白参考光谱，确认基线平稳无大幅波动再放置待测样品。锁相放大模块处理...

多层薄膜叠合样品使用太赫兹时域光谱仪透射模式检测，每层薄膜界面都会产生反射型次级太赫兹脉冲，时域波形上会出现多组间隔分布的脉冲峰值，峰值间隔对应每层薄膜厚度与折射率参数，逐层剥离薄膜后重复采集光谱，次级脉冲数量同步减少，能够对应区分每层薄膜带来的脉冲信号。叠合薄膜夹持时层间无气泡，气泡夹层会产生额外散射脉冲，新增无规律波形杂峰，组装多层薄膜时缓慢贴合各层，排出层间空气再固定至样品架。处理多层薄膜时域数据时，软件可拆分各脉冲峰值对应的时间区间，分别换算每层薄膜光学参数，无需单独剥离单层薄膜逐一测试，减少制样与扫描操作步骤，多层薄膜整体厚度偏大时适当调高信号平均次数，弱化多层界面散射带来的噪声干扰...

太赫兹时域光谱仪的数据采集过程分为时域信号扫描与频域转换两个基础环节，设备配套的位移台会按照设定步长匀速移动，以此改变泵浦光与探测光之间的光程差值，每一组光程差对应一组时域信号采样点，大量采样点拼接形成完整的太赫兹时域波形曲线。未放置样品时设备会先完成参考信号采集，将无样品遮挡状态下的太赫兹脉冲波形作为基准数据，再放入待测样品采集含样品衰减与相位偏移的样品信号，两组波形数据同步存储至设备内置存储单元。完成时域波形记录后，软件通过傅里叶变换算法将时域信号转换为频域光谱，转换过程中可调整频谱采样区间，筛选目标太赫兹频段区间开展针对性分析。不同材质样品会对不同频率的太赫兹电磁波产生差异化的吸收与折射...

搭建太赫兹时域光谱仪光路系统时，各类光学镜片、晶体元件的摆放角度需要借助微调支架进行精细调节，泵浦光路与探测光路的光斑需要在探测晶体表面完成完全重合，光斑错位会造成时域信号信噪比持续降低。分束元件会依据固定分光比例拆分入射飞秒激光，分光比例的数值由选用的分束片光学参数决定，更换不同分光比例的分束片会改变泵浦光、探测光的能量分配，进而影响太赫兹脉冲发射强度与探测信号灵敏程度。延迟线模块依靠电动位移平台实现光程的连续调节，位移平台的移动精度决定时域波形的时间分辨率，平台移动步长设置数值越小，单位时间内采集到的时域采样点数量越多，较终生成的波形曲线平滑度会有所提升。设备配套的光学晶体分为发射晶体与探...

搭建太赫兹时域光谱仪光路系统时，各类光学镜片、晶体元件的摆放角度需要借助微调支架进行精细调节，泵浦光路与探测光路的光斑需要在探测晶体表面完成完全重合，光斑错位会造成时域信号信噪比持续降低。分束元件会依据固定分光比例拆分入射飞秒激光，分光比例的数值由选用的分束片光学参数决定，更换不同分光比例的分束片会改变泵浦光、探测光的能量分配，进而影响太赫兹脉冲发射强度与探测信号灵敏程度。延迟线模块依靠电动位移平台实现光程的连续调节，位移平台的移动精度决定时域波形的时间分辨率，平台移动步长设置数值越小，单位时间内采集到的时域采样点数量越多，较终生成的波形曲线平滑度会有所提升。设备配套的光学晶体分为发射晶体与探...

太赫兹时域光谱仪配套样品定位刻度板贴合样品架底面安装，板面刻有微米级刻度标线，用于标定太赫兹光斑照射点位，适配同批次多点位取样检测实验。均质材料样品单点采集光谱即可满足实验需求，组分分布不均的复合材料、天然矿物板材，需要依托刻度板移动样品，选取板面不同坐标点位分别采集光谱，整合多点位数据还原材料整体光学响应特点。刻度板表层做哑光防反光处理，避免飞秒杂散光、太赫兹散射光反射至探测晶体，衍生额外杂散信号，刻度板表面沾染样品碎屑后，使用无尘软毛刷顺着刻度纹路清扫，禁止硬质刮刀刮擦板面，防止刻度磨损、板面划痕改变光路底面反光条件。每次更换不同尺寸样品，可依托刻度快速居中摆放样品，缩减光路二次微调时长，...

太赫兹时域光谱仪输出的频域光谱数据可用于对比不同加工工艺制备的同种材料，同一类高分子材料经过不同温度塑形、不同填料配比加工后，分子排列结构出现改变，对应的太赫兹吸收曲线会出现偏移或是吸收峰强弱变化。仪器的飞秒激光输出脉冲宽度维持在飞秒量级，短脉冲激光激发生成的太赫兹脉冲包含连续频率区间，能够覆盖多数材料特征响应对应的太赫兹波段，无需更换多种单一频率辐射源即可完成宽波段同步测试。测试环境的湿度数值需要维持在较低区间，水分子在太赫兹波段存在多处强吸收带，空气中水分子会消耗太赫兹脉冲能量，导致有效信号幅值下降，实验室会搭配干燥空气循环装置持续置换光路内部空间空气，稳定环境湿度数值，降低水汽对测试结果...

搭建太赫兹时域光谱仪光路系统时，各类光学镜片、晶体元件的摆放角度需要借助微调支架进行精细调节，泵浦光路与探测光路的光斑需要在探测晶体表面完成完全重合，光斑错位会造成时域信号信噪比持续降低。分束元件会依据固定分光比例拆分入射飞秒激光，分光比例的数值由选用的分束片光学参数决定，更换不同分光比例的分束片会改变泵浦光、探测光的能量分配，进而影响太赫兹脉冲发射强度与探测信号灵敏程度。延迟线模块依靠电动位移平台实现光程的连续调节，位移平台的移动精度决定时域波形的时间分辨率，平台移动步长设置数值越小，单位时间内采集到的时域采样点数量越多，较终生成的波形曲线平滑度会有所提升。设备配套的光学晶体分为发射晶体与探...

涂层类材料的厚度检测能够借助太赫兹时域光谱仪实现，基体表面多层涂层会对太赫兹脉冲形成多次反射，时域波形中会出现多个单独脉冲峰值，不同峰值之间的时间间隔对应单层涂层厚度，通过运算即可得到涂层实际厚度数值。测试过程不会对涂层表面产生划伤、腐蚀等损伤，可对成品涂层样品开展无损反复检测，同一样品能够多次放置测试，观察涂层经过环境放置后的结构变化。设备配套位移平台采用步进驱动结构，移动过程运行平稳，不会出现卡顿跳步情况，跳步会造成时域信号时间坐标错位，影响后续频域转换计算结果。存储测试数据的硬盘分区单独划分，区分原始时域数据与经过运算处理后的频域数据文件，分类存储便于后续调取比对多批次样品光谱曲线，软件...

维护太赫兹时域光谱仪的光学元件时，粉尘堆积是需要持续关注的问题，设备长期放置在无防尘措施的实验环境中，空气中悬浮粉尘会附着在透镜、分束片、晶体表面，激光穿过带粉尘的光学元件时发生散射，泵浦光、探测光能量出现损耗，较终太赫兹探测信号强度逐步降低。日常实验结束后，使用防尘罩遮盖整套光路腔体，减少粉尘进入光路内部，每周定期检查各光学元件表面粉尘积累情况，轻度粉尘可使用低压氮气气流吹扫去除，顽固污渍则搭配单用光学清洁试剂擦拭。擦拭晶体、超薄镜片时力度保持轻柔，硬质镜片夹持支架不可过度拧紧，挤压会造成镜片出现细微裂纹，裂纹会分割激光光斑，破坏光路重合状态。维护操作全程佩戴无尘手套，避免手部汗液、油脂接触...

飞秒激光脉冲重复频率会影响太赫兹时域光谱仪信号采集效率，激光器出厂设定固定重复频率，非专业人员不可自行改动频率参数，改动后会造成探测模块光电响应节奏不匹配，时域波形出现周期性杂波。重复频率数值决定单位时间内产生的太赫兹脉冲数量，脉冲数量充足时多次平均采集能够快速弱化随机噪声，脉冲数量偏少则需要增加平均次数才能达到同等平滑曲线效果。激光器运行时输出脉冲重复频率稳定不变，若出现频率波动，代理激光器内部泵浦源供电模块存在故障，暂停光谱采集流程，联系设备维护人员检修供电电路，持续在频率波动状态下采集的数据不具备对比分析价值，全部作废重新测试。光学镜片表面的镀膜层，可借助该仪器观测镀膜均匀程度与厚度分布...

石墨、碳纳米管等碳基填充复合材料放入太赫兹时域光谱仪检测，碳基填料对太赫兹电磁波存在较强散射与吸收作用，填料添加量升高，全频段吸收数值同步上升，不会出现单一频率特征峰，整体光谱呈现平缓上升的吸收基线。碳基粉末质地轻盈，研磨混合、压片过程中容易飘散在实验台面与光路周边，制样操作在封闭防尘操作台上完成，飘散粉末及时用低压氮气吹扫清理，防止粉末附着光学晶体、镜片表面。压片时降低单批次填料添加质量，避免样品整体吸收过强导致无有效透过信号，多组低梯度填料配比压片，逐步观察吸收基线随填料含量的变化趋势，每组压片统一总厚度与总质量，消除厚度差异带来的数据干扰。仪器配套采集软件可对时域波形做傅里叶变换，转化为...

维护太赫兹时域光谱仪的光学元件时，粉尘堆积是需要持续关注的问题，设备长期放置在无防尘措施的实验环境中，空气中悬浮粉尘会附着在透镜、分束片、晶体表面，激光穿过带粉尘的光学元件时发生散射，泵浦光、探测光能量出现损耗，较终太赫兹探测信号强度逐步降低。日常实验结束后，使用防尘罩遮盖整套光路腔体，减少粉尘进入光路内部，每周定期检查各光学元件表面粉尘积累情况，轻度粉尘可使用低压氮气气流吹扫去除，顽固污渍则搭配单用光学清洁试剂擦拭。擦拭晶体、超薄镜片时力度保持轻柔，硬质镜片夹持支架不可过度拧紧，挤压会造成镜片出现细微裂纹，裂纹会分割激光光斑，破坏光路重合状态。维护操作全程佩戴无尘手套，避免手部汗液、油脂接触...

生物薄层样品，比如干燥植物叶片薄膜、生物大分子薄膜，可放置在太赫兹时域光谱仪透射光路检测，生物材料内部多糖、蛋白质、脂质分子各自存在专属太赫兹吸收波形，生物样品脱水程度会改变分子间水分带来的吸收杂峰，完全脱水样品只保留生物分子自身吸收信号，未彻底脱水样品光谱会叠加大量水分子吸收峰。制备生物薄膜时控制薄膜厚度，过厚生物组织会完全阻挡太赫兹脉冲透过，无法采集有效信号，过薄薄膜容易破损，选用低吸收基底承载生物薄膜，基底自身光谱提前采集作为参考，后续数据处理时扣除基底带来的信号衰减。测试生物样品全程持续通入干燥氮气，减少空气中水汽与生物薄膜接触重新吸附水分，同一生物样品分不同脱水时长制备多组薄膜，对比...

太赫兹时域光谱仪信号采集卡负责将探测模块输出的模拟电压信号转化为数字数据，采集卡采样速率参数决定时域波形时间轴精细程度，采样速率偏低时波形关键拐点、脉冲峰值点位数据缺失，曲线轮廓失真；采样速率偏高会生成大容量数据文件，占用工控机存储空间，数据导出、运算速度下降。采集卡安装在工控机内部拓展卡槽，卡槽金属触点积累灰尘会造成信号传输中断、数据跳变，定期断电打开机箱清理触点粉尘，使用专属触点清洁液擦拭去除氧化层。采集卡配套驱动程序单独存储，备份至移动存储设备，系统重装后可快速安装驱动恢复信号采集功能，不依赖网络下载驱动文件，避免网络中断耽误实验进度。仪器内部光学镜片定期清洁，灰尘堆积会削弱太赫兹脉冲的...

太赫兹时域光谱仪时域波形扫描区间可根据实验需求手动设定，扫描区间对应泵浦光与探测光之间比较大光程差，光程差数值决定能够记录的太赫兹脉冲完整波形，扫描区间设置偏小时只能截取脉冲局部波形，无法完整提取脉冲相位、幅值全部信息，区间设置偏大则单次扫描时长成倍增加，多余光程差区间只记录噪声信号。操作人员提前估算待测太赫兹脉冲完整时间宽度，匹配对应的光程扫描范围，只保留包含完整脉冲波形的区间开展采样，平衡数据完整度与实验耗时。同一脉冲多次完整扫描后，软件可截取脉冲主峰区间单独放大查看，观测主峰两侧微弱次级震荡波形，次级震荡波形对应样品界面反射产生的二次太赫兹脉冲，能够用于分析样品上下表层界面的光学反射特性...

太赫兹时域光谱仪产生的脉冲太赫兹电磁波处于红外与微波波段中间区间，该波段电磁波能够穿透纸张、塑料、陶瓷等非极性材料，金属材质则会对信号形成完整反射，测试人员可根据这一特性调整样品放置模式，选择透射测试或是反射测试两种光路模式。透射模式下，发射端与探测端分别置于样品两侧，太赫兹脉冲完整穿过样品介质；反射模式下，发射光路与接收光路处于样品同一侧，采集介质表面反射后的信号，两种模式可通过手动调整镜片角度完成切换。设备配套的数据采集软件能够同步记录位移平台位置与对应信号幅值，数据文件以通用格式存储，可导入各类数据分析软件开展后续运算，软件界面具备波形实时显示功能，操作人员能够实时观察信号变化，及时调整...

太赫兹时域光谱仪输出的频域光谱数据可用于对比不同加工工艺制备的同种材料，同一类高分子材料经过不同温度塑形、不同填料配比加工后，分子排列结构出现改变，对应的太赫兹吸收曲线会出现偏移或是吸收峰强弱变化。仪器的飞秒激光输出脉冲宽度维持在飞秒量级，短脉冲激光激发生成的太赫兹脉冲包含连续频率区间，能够覆盖多数材料特征响应对应的太赫兹波段，无需更换多种单一频率辐射源即可完成宽波段同步测试。测试环境的湿度数值需要维持在较低区间，水分子在太赫兹波段存在多处强吸收带，空气中水分子会消耗太赫兹脉冲能量，导致有效信号幅值下降，实验室会搭配干燥空气循环装置持续置换光路内部空间空气，稳定环境湿度数值，降低水汽对测试结果...

多层薄膜叠合样品使用太赫兹时域光谱仪透射模式检测，每层薄膜界面都会产生反射型次级太赫兹脉冲，时域波形上会出现多组间隔分布的脉冲峰值，峰值间隔对应每层薄膜厚度与折射率参数，逐层剥离薄膜后重复采集光谱，次级脉冲数量同步减少，能够对应区分每层薄膜带来的脉冲信号。叠合薄膜夹持时层间无气泡，气泡夹层会产生额外散射脉冲，新增无规律波形杂峰，组装多层薄膜时缓慢贴合各层，排出层间空气再固定至样品架。处理多层薄膜时域数据时，软件可拆分各脉冲峰值对应的时间区间，分别换算每层薄膜光学参数，无需单独剥离单层薄膜逐一测试，减少制样与扫描操作步骤，多层薄膜整体厚度偏大时适当调高信号平均次数，弱化多层界面散射带来的噪声干扰...

太赫兹时域光谱仪配套样品定位刻度板贴合样品架底面安装，板面刻有微米级刻度标线，用于标定太赫兹光斑照射点位，适配同批次多点位取样检测实验。均质材料样品单点采集光谱即可满足实验需求，组分分布不均的复合材料、天然矿物板材，需要依托刻度板移动样品，选取板面不同坐标点位分别采集光谱，整合多点位数据还原材料整体光学响应特点。刻度板表层做哑光防反光处理，避免飞秒杂散光、太赫兹散射光反射至探测晶体，衍生额外杂散信号，刻度板表面沾染样品碎屑后，使用无尘软毛刷顺着刻度纹路清扫，禁止硬质刮刀刮擦板面，防止刻度磨损、板面划痕改变光路底面反光条件。每次更换不同尺寸样品，可依托刻度快速居中摆放样品，缩减光路二次微调时长，...

太赫兹时域光谱仪软件自带光谱基线扣除功能，将空白参考光谱作为基线模板，系统自动用样品光谱对应频率点数值减去基线数值，扣除空气、基底、光学元件带来的基础吸收损耗，只保留待测样品自身产生的吸收信号。基线扣除操作可选择局部频段或者全部频谱区间，只关注某一段太赫兹信号时，可限定扣除区间减少多余运算，扣除后的光谱曲线基线贴近零吸收位置，各类材料特征吸收峰能够直观区分。多批次实验使用同一套光路与氮气环境时，单次采集的空白参考光谱可短时间内重复用于多组样品基线扣除，环境湿度、光路出现偏移后必须重新采集参考基线，沿用旧基线会造成扣除后光谱基线大幅偏移，干扰吸收峰识别工作。光学延迟线可改变两路光束光程差，以此采...

电路信号放大模块连接太赫兹时域光谱仪探测晶体与工控机采集端口，探测晶体输出的原始电压信号幅值偏低，放大模块将微弱电信号提升至采集卡可识别的数值区间，放大倍数参数在软件界面可调，放大倍数设置过高会同步放大电路噪声，光谱曲线毛刺增多，倍数设置偏低则样品微弱吸收特征被背景噪声掩盖。放大模块长期运行内部电路元件升温，模块侧面散热孔保持通畅，不堆叠实验耗材遮挡散热通道，定期清理散热孔积累灰尘，避免元件过热造成放大倍数不稳定。切换透射、反射光路后，探测信号基础幅值出现变化，需要重新调整放大倍数，不能沿用前一组光路的放大参数，调整完成后采集空白参考光谱，确认基线平稳无大幅波动再放置待测样品。反射检测模式适配...

农业领域各类干燥农作物样本可使用太赫兹时域光谱仪完成组分检测，谷物、干果、草本作物切片放置于样品台后，太赫兹脉冲穿透作物组织，根据光谱信号区分内部糖分、纤维、水分占比情况。样品无需粉碎研磨，完整小块作物组织就能完成基础光谱采集，保留样本原始内部结构，避免粉碎过程破坏物质原有分子排布，保证采集信号贴合作物自然状态。光学系统内部透镜、反射镜片采用低损耗太赫兹透光材质制作，长期使用后镜片透光性能会出现轻微衰减，按照使用时长定期对镜片透光率进行检测，衰减明显的镜片可单独替换，无需拆解整套光路结构，降低设备维护难度。每次启动仪器后，预留半小时预热时间，让激光器、位移平台、探测组件各项运行参数趋于稳定，预...

电路信号放大模块连接太赫兹时域光谱仪探测晶体与工控机采集端口，探测晶体输出的原始电压信号幅值偏低，放大模块将微弱电信号提升至采集卡可识别的数值区间，放大倍数参数在软件界面可调，放大倍数设置过高会同步放大电路噪声，光谱曲线毛刺增多，倍数设置偏低则样品微弱吸收特征被背景噪声掩盖。放大模块长期运行内部电路元件升温，模块侧面散热孔保持通畅，不堆叠实验耗材遮挡散热通道，定期清理散热孔积累灰尘，避免元件过热造成放大倍数不稳定。切换透射、反射光路后，探测信号基础幅值出现变化，需要重新调整放大倍数，不能沿用前一组光路的放大参数，调整完成后采集空白参考光谱，确认基线平稳无大幅波动再放置待测样品。延迟线步进数值设...

矿石、陶瓷等无机非金属材料的内部孔隙结构可通过太赫兹时域光谱仪进行观测，孔隙内部空气与固体矿物的光学参数存在差异，太赫兹脉冲穿过带有孔隙的样品时，信号会出现规律性衰减，根据衰减程度能够推算材料内部孔隙占比。整套仪器光路组件全部固定在防震光学平台之上，地面震动会带动镜片、晶体产生微小位移，破坏光束耦合状态，放置仪器的实验室地面会增设减震垫层，日常操作过程中避免大力触碰光学平台边缘，减少人为震动带来的波形波动。数据采集速度可根据测试需求调整，单次快速采集适合初步筛查样品，多次慢速叠加采集适合需要高精度原始数据的分析工作，两种采集模式可在配套控制软件内自由切换，采集完成的数据文件自动标注采集时间、光...

粉末类固体样品在太赫兹时域光谱仪上检测前需要进行压片制样处理，取定量粉末原料放置于压片模具内部，施加均匀压力将粉末压制为厚度统一、表面平整的薄片，压片厚度需要控制在合适区间，厚度偏高会大幅削弱透过样品的太赫兹信号，厚度偏低则薄片易碎裂，无法完成完整光谱采集。压制薄片时可选用聚乙烯粉末作为稀释基底，聚乙烯材料在太赫兹频段几乎不存在特征吸收，不会对待测粉末自身的光谱信号产生遮盖，按照不同质量比例混合待测粉末与聚乙烯粉末，能够调节样品整体的信号衰减程度，适配设备的信号探测区间。压片成型后清理薄片边缘多余粉末碎屑，碎屑散落至光路镜片或晶体表面会污染光学元件，放置薄片时保持薄片与太赫兹脉冲传播路径垂直，...

电路信号放大模块连接太赫兹时域光谱仪探测晶体与工控机采集端口，探测晶体输出的原始电压信号幅值偏低，放大模块将微弱电信号提升至采集卡可识别的数值区间，放大倍数参数在软件界面可调，放大倍数设置过高会同步放大电路噪声，光谱曲线毛刺增多，倍数设置偏低则样品微弱吸收特征被背景噪声掩盖。放大模块长期运行内部电路元件升温，模块侧面散热孔保持通畅，不堆叠实验耗材遮挡散热通道，定期清理散热孔积累灰尘，避免元件过热造成放大倍数不稳定。切换透射、反射光路后，探测信号基础幅值出现变化，需要重新调整放大倍数，不能沿用前一组光路的放大参数，调整完成后采集空白参考光谱，确认基线平稳无大幅波动再放置待测样品。延迟线步进数值设...

太赫兹时域光谱仪产生的脉冲太赫兹电磁波处于红外与微波波段中间区间，该波段电磁波能够穿透纸张、塑料、陶瓷等非极性材料，金属材质则会对信号形成完整反射，测试人员可根据这一特性调整样品放置模式，选择透射测试或是反射测试两种光路模式。透射模式下，发射端与探测端分别置于样品两侧，太赫兹脉冲完整穿过样品介质；反射模式下，发射光路与接收光路处于样品同一侧，采集介质表面反射后的信号，两种模式可通过手动调整镜片角度完成切换。设备配套的数据采集软件能够同步记录位移平台位置与对应信号幅值，数据文件以通用格式存储，可导入各类数据分析软件开展后续运算，软件界面具备波形实时显示功能，操作人员能够实时观察信号变化，及时调整...

太赫兹时域光谱仪输出的频域光谱数据可用于对比不同加工工艺制备的同种材料，同一类高分子材料经过不同温度塑形、不同填料配比加工后，分子排列结构出现改变，对应的太赫兹吸收曲线会出现偏移或是吸收峰强弱变化。仪器的飞秒激光输出脉冲宽度维持在飞秒量级，短脉冲激光激发生成的太赫兹脉冲包含连续频率区间，能够覆盖多数材料特征响应对应的太赫兹波段，无需更换多种单一频率辐射源即可完成宽波段同步测试。测试环境的湿度数值需要维持在较低区间，水分子在太赫兹波段存在多处强吸收带，空气中水分子会消耗太赫兹脉冲能量，导致有效信号幅值下降，实验室会搭配干燥空气循环装置持续置换光路内部空间空气，稳定环境湿度数值，降低水汽对测试结果...

太赫兹时域光谱仪的数据采集过程分为时域信号扫描与频域转换两个基础环节，设备配套的位移台会按照设定步长匀速移动，以此改变泵浦光与探测光之间的光程差值，每一组光程差对应一组时域信号采样点，大量采样点拼接形成完整的太赫兹时域波形曲线。未放置样品时设备会先完成参考信号采集，将无样品遮挡状态下的太赫兹脉冲波形作为基准数据，再放入待测样品采集含样品衰减与相位偏移的样品信号，两组波形数据同步存储至设备内置存储单元。完成时域波形记录后，软件通过傅里叶变换算法将时域信号转换为频域光谱，转换过程中可调整频谱采样区间，筛选目标太赫兹频段区间开展针对性分析。不同材质样品会对不同频率的太赫兹电磁波产生差异化的吸收与折射...