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企业商机 - 苏州千宇光学科技有限公司
  • 相位补偿技术在低相位差材料应力测量中展现出独特优势。针对**应力光学元件,传统偏光法可能难以分辨微小的应力差异。采用相位补偿式应力仪,通过引入可调补偿器来抵消样品产生的相位延迟,可以实现更高精度的测量...

  • 光弹效应成像式应力仪研发 发布时间:2025.10.24

    在对微区残余应力在失效分析中的应用分析领域,成像式应力仪是追溯故障根源的“法医工具”。当TGV结构或玻璃基板出现开裂、 delamination等失效时,通过检测失效区域周边的微区残余应力分布,可以反...

  • 贴合角测试仪在AR/VR光学模组的组装工艺控制中不可或缺。相位差测量技术可以纳米级精度检测光学元件贴合界面的角度偏差。系统采用白光干涉原理,测量范围±5度,分辨率达0.001度。在Pancake模组的...

  • Pancake光轴测量方案需要解决超短焦光学系统的支持应用。相位差测量仪结合高精度旋转平台和CCD成像系统,可以重建折叠光路中的实际光轴走向。这种测量对保证VR设备的图像中心和边缘一致性至关重要。当前...

  • 南昌光轴相位差测试仪价格 发布时间:2025.10.22

    在液晶盒的生产制造过程中,相位差测量仪能够实现对预倾角的快速检测,成为质量控制体系中不可或缺的一环。取向层的涂覆、固化以及摩擦工艺中的任何微小偏差,都会导致预倾角偏离设计值,进而引发显示不均匀或响应迟...

  • 相位差测量仪在液晶盒盒厚的精密测试中展现出***的技术优势,成为现代液晶显示面板制造与质量控制环节不可或缺的高精度工具。其基于光波干涉或椭偏测量原理,能够非接触、无损伤地精确测定液晶盒内两基板之间的间...

  • 尽管显示屏视场角测量系统功能强大,但在实现高精度全空间测量时仍面临诸多挑战。首要挑战是测量效率与精度的平衡:高分辨率的全空间扫描会产生海量数据点,导致单次测量耗时长达数小时,难以满足产线快节奏需求。其...

  • 偏光度测量是评估AR/VR光学系统成像质量的重要指标。相位差测量仪采用穆勒矩阵椭偏技术,可以分析光学模组的偏振特性。这种测试对Pancake光学系统中的反射偏光膜尤为重要,测量范围覆盖380-780n...

  • 近眼显示测量系统在视场角测量中还实现了对视场质量的综合评估。除了测量视场角的大小,系统还能同步分析视场范围内的亮度均匀性、色彩一致性和图像畸变情况。通过高分辨率传感器和精密机械控制系统,系统可以生成详...

  • 在动态MTF测量方面,近眼显示测量系统展现出独特的技术优势。系统能够测量不同视场位置和眼动范围(Eyebox)内的MTF变化,评估光学系统的性能一致性。通过精密的角度调整装置,系统可以模拟人眼在不同视...

  • 超越亮度测量,显示屏视场角测量系统结合光谱辐射计,能对灰阶的色度表现进行深度视角分析。其操作是系统在每个预设的视角上,测量显示屏从黑到白各个灰阶所发出的光线,并记录其色度坐标(x, y)和光谱功率分布...

  • 显示屏视场角测量系统在亮度均匀性测试中,超越了传统的正面单一测量,提供了对整个屏幕表面在各视角下亮度分布的系统评估。该系统通过高精度机械臂或转台,将光学测量探头(如亮度计)定位到屏幕前的多个视角位置,...

  • 穆勒矩阵测试系统通过深入的偏振分析,可以完整表征光学元件的偏振特性。相位差测量作为其中的关键参数,反映了样品的双折射和旋光特性。这种测试对复杂光学系统尤为重要,如VR头显中的复合光学模组。当前的快照式...

  • 近眼显示测量系统在对比度测量中发挥着关键作用,这是评估显示设备图像质量的**指标之一。系统通过高精度成像亮度计,能够同时测量显示屏上**亮区域(白色)和**暗区域(黑色)的亮度值,从而准确计算静态对比...

  • 斯托克斯测试方法通过测量光的四个斯托克斯参数,可以完整描述光束的偏振状态。相位差信息隐含在斯托克斯参数的相互关系之中,反映了光学系统的偏振调制特性。这种测试对偏振相关器件的性能评估尤为重要,如液晶相位...

  • 相位差贴合角测试仪在偏光片行业中发挥着关键作用,主要用于测量偏光片的相位延迟量和贴合角度精度。偏光片是液晶显示器(LCD)的**组件之一,其光学性能直接影响屏幕的对比度、视角和色彩表现。该测试仪通过高...

  • 偏光应力仪的应用不仅局限于生产环节的质量检测,在镜片材料的研发领域同样发挥着重要作用。研究人员可以通过该设备对比不同配方材料在相同工艺条件下的应力表现,从而筛选出更质量的镜片基材。在镜片镀膜工艺中,偏...

  • 近眼显示测量解决方案之显示屏视场角测量系统:VAM-88,测试项目包括全空间视场角,色域,亮度和角度测试,相对色温,色度和角度分布,亮度均匀性,对比度和角度分布,色度均匀性,光谱功率分布,灰阶,色坐标...

  • 在功能特性方面,成像式应力测试仪具备非接触测量、全场扫描和实时成像三大技术优势。仪器支持自动对焦和图像拼接功能,定制选项封堵,可根据北侧样品的尺寸定制镜头和光源尺寸,以适应不同尺寸样品的检测需求,比较...

  • 相位差贴合角测试仪在偏光片行业中发挥着关键作用,主要用于测量偏光片的相位延迟量和贴合角度精度。偏光片是液晶显示器(LCD)的**组件之一,其光学性能直接影响屏幕的对比度、视角和色彩表现。该测试仪通过高...

  • 目视法偏光应力仪在检测过程中需要注意多项细节以确保结果准确。首先,样品的放置方向必须与偏振光方向一致,否则可能导致应力显示不真实。其次,对于厚度较大的材料,需要选择合适的光源波长以避免光线衰减过强。此...

  • 在解决热膨胀系数失配问题中的应用,成像应力仪为量化热膨胀系数失配所带来的工程挑战提供了**直接的解决方案。在由玻璃、铜、硅等多种材料构成的TGV封装体中,CTE失配是应力和翘曲的主要根源。该设备能够在...

  • 在光学元件制造过程中,成像式内应力测量技术已成为保证产品质量的**手段。这种技术通过高分辨率CCD相机捕获样品在偏振光场中的全场应力分布,相比传统点式测量具有***优势。以手机镜头模组为例,成像式测量...

  • PLM系列相位差测试仪在AR/VR光学模组的量产检测中具有独特优势。该系列整合了相位差、光轴、透过率等多项测试功能,实现一站式测量。系统采用模块化设计,可根据不同产品需求灵活配置测试项目。在Panca...

  • 光学膜配向角测试仪专门用于评估配向膜对液晶分子的取向控制能力。通过测量配向膜引起的偏振光相位变化,可以精确计算其配向特性。这种测试对各类液晶显示器的开发都至关重要,因为配向质量直接影响显示均匀性和响应...

  • 配向角测试仪利用相位差测量技术评估液晶盒中配向层的取向特性。通过分析偏振光经过配向层后的相位变化,可以精确计算液晶分子的预倾角。这种测量对TN、VA等液晶显示模式尤为重要,因为配向角的微小偏差都会导致...

  • 成像式应力测试仪是一种基于光学偏振原理的精密测量设备,主要用于透明材料内部应力分布的快速检测与分析。该仪器通过高精度偏振光学系统和CCD成像组件的协同工作,能够实现样品全区域的应力状态可视化测量,典型...

  • 目视法应力仪的校准和维护对其检测结果的可靠性至关重要。由于仪器的精度依赖于光学组件的对齐和偏振片的性能,定期校准是保证测量准确性的关键。校准通常使用标准应力片或已知应力分布的样品,通过调整光源强度和偏...

  • 目视法应力仪的使用需要结合材料科学和光学知识进行综合判断。不同类型的材料对应力的敏感度不同,例如玻璃的应力光学系数较高,容易产生明显的干涉条纹,而某些塑料的应力双折射效应较弱,需要调节仪器参数才能清晰...

  • 在光学产品的制造过程中,内应力会增加工艺难度和产品的不合格率。在镀膜、切割、抛光等后续加工工序中,残余应力可能重新分布或进一步加剧,导致产品出现变形甚至破裂。特别是在精密光学元件加工中,微米级的形变就...

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