钻孔式无损检测:钻孔式无损检测是一种通过钻孔方式对物体进行非破坏性检测的技术。这种技术主要适用于大型工件或复杂结构的内部缺陷检测。在检测过程中,检测人员会在物体上钻取小孔,并通过这些小孔插入检测探头进...
水浸式无损检测是一种在水下环境中对物体进行非破坏性检测的技术。这种技术主要利用超声波在水中的传播特性,对水下结构、管道、船舶等进行全方面检测。水浸式无损检测具有检测范围广、准确度高、对物体无损伤等优点...
复合材料内部脱粘是航空领域常见缺陷,C-Scan模式通过平面投影成像可快速定位脱粘区域。某案例中,国产设备采用100MHz探头对碳纤维层压板进行检测,发现0.3mm宽脱粘带,通过彩色C-Scan功能区...
异物无损检测是一种用于检测物体内部或表面异物缺陷的非破坏性技术。在制造过程中,由于原材料不纯、加工设备污染等原因,可能会在物体内部或表面残留异物。这些异物会影响物体的性能和使用寿命,甚至导致产品失效。...
无损检测标准与工程实践:无损检测标准是确保检测结果准确性和可靠性的重要依据。在无损检测领域,国内外制定了一系列相关的标准和规范,对检测方法、仪器、人员等方面进行了详细规定。这些标准的实施,为无损检测工...
焊缝无损检测是确保焊接结构安全性和可靠性的关键环节。在制造业,尤其是航空航天、桥梁建设、压力容器等领域,焊缝的质量直接关系到整个结构的承载能力和使用寿命。焊缝无损检测技术通过非破坏性的方式,如超声波检...
断层是地质结构中常见的现象,它对工程建设和地震的预测具有重要影响。断层无损检测技术通过地震波、电磁波等方法,对地下断层进行探测和分析,能够准确判断断层的位置、走向和活动性。这种技术的应用,为工程建设提...
空洞超声显微镜内置的缺陷数据库与自动合规性报告生成功能,大幅提升了检测结果的分析效率与标准化程度,满足行业质量管控需求。该设备的缺陷数据库包含不同类型半导体产品(如 IC 芯片、功率器件)的典型空洞缺...
异物超声显微镜的样品固定设计对检测准确性至关重要,需搭配专门样品载台,通过负压吸附方式固定样品,避免检测过程中样品移位导致异物位置偏移,影响缺陷判断。电子元件样品(如芯片、电容)尺寸通常较小(从几毫米...
SAM 超声显微镜(即扫描声学显微镜)凭借高频声波(5-300MHz)的高穿透性与分辨率,成为半导体封装检测的主要设备,其主要应用场景聚焦于 Die 与基板接合面的分层缺陷分析。在半导体封装流程中,D...
锂电池密封失效会导致电解液泄漏,C-Scan模式通过声阻抗差异可检测封口处微小孔隙。某企业采用国产设备对软包电池进行检测,发现0.02mm²孔隙,通过定量分析功能计算泄漏风险等级。其检测灵敏度较氦质谱...
超声显微镜的工作原理可拆解为三个主要环节,每个环节环环相扣实现缺陷检测。首先是声波发射环节,设备中的压电换能器在高频电信号激励下产生机械振动,将电能转化为声能,形成高频超声波(频率通常在 5MHz 以...
芯片超声显微镜支持 A 扫描、B 扫描、C 扫描等多种成像模式切换,其中 C 扫描模式因能生成芯片表面的 2D 缺陷分布图,成为批量芯片筛查的主要工具,大幅提升检测效率。在芯片量产检测中,需对大量芯片...
Wafer 晶圆是半导体芯片制造的主要原材料,其表面平整度、内部电路结构完整性直接决定芯片的性能和良率。Wafer 晶圆显微镜整合了高倍率光学成像与超声成像技术,实现对晶圆的各个方面检测。在晶圆表面检...
纯水作为超声显微镜的标准耦合介质,其声阻抗(1.5 MRayl)与半导体材料匹配度高,可减少声波能量损失。某研究通过在水中添加纳米颗粒,将声波穿透深度提升15%,同时降低检测噪声。国产设备采用SEMI...
芯片超声显微镜的主要技术要求是 μm 级扫描精度,这一特性使其能精细检测芯片内部的微观结构完整性,重点检测对象包括金线键合与焊盘连接。在芯片制造中,金线键合是实现芯片与外部引脚电气连接的关键工艺,若键...
电磁式无损检测是一种利用电磁原理对物体进行非破坏性检测的技术。该技术通过向被检物体施加电磁场,并测量其产生的电磁响应,从而判断物体内部是否存在缺陷。电磁式无损检测具有检测速度快、准确度高、适用范围广等...
半导体制造环境中存在大量高频电磁信号(如光刻机、等离子刻蚀机产生的信号),这些信号若干扰超声显微镜的检测系统,会导致检测数据失真,因此抗电磁干扰能力是半导体超声显微镜的关键性能指标。为实现抗干扰,设备...
焊缝无损检测是确保焊接结构安全性和可靠性的关键环节。在桥梁、建筑、船舶、压力容器等工程中,焊缝的质量直接关系到整个结构的承载能力和使用寿命。焊缝无损检测技术通过利用超声波、射线、磁粉等方法,对焊缝进行...
裂缝无损检测的技术与挑战:裂缝是无损检测中常见的一类缺陷,它可能出现在金属、混凝土、陶瓷等多种材料中。裂缝的存在会严重削弱材料的强度和韧性,降低结构的承载能力。裂缝无损检测技术通过声发射、超声波、红外...
芯片超声显微镜支持 A 扫描、B 扫描、C 扫描等多种成像模式切换,其中 C 扫描模式因能生成芯片表面的 2D 缺陷分布图,成为批量芯片筛查的主要工具,大幅提升检测效率。在芯片量产检测中,需对大量芯片...
气泡、断层与相控阵无损检测是三种重要的非破坏性检测技术。气泡无损检测主要用于检测液体或固体中的气泡分布和大小,判断气泡对材料性能的影响。断层无损检测则通过模拟地震波的传播过程,对地下结构或物体进行断层...
裂缝无损检测的技术与挑战:裂缝是无损检测中常见的一类缺陷,它可能出现在金属、混凝土、陶瓷等多种材料中。裂缝的存在会严重削弱材料的强度和韧性,降低结构的承载能力。裂缝无损检测技术通过声发射、超声波、红外...
无损检测技术作为一种非破坏性的检测手段,在现代工业生产中发挥着越来越重要的作用。随着科技的不断发展,无损检测技术也在不断进步和完善。从传统的超声波检测、X射线检测到现在的相控阵检测、红外热成像检测等,...
头部超声显微镜厂凭借技术积累与资源整合能力,已突破单一设备销售的局限,形成 “设备 + 检测方案” 一体化服务模式,这一模式尤其适用于产线自动化程度高的客户。在服务流程上,厂家会先深入客户产线进行需求...
全自动超声扫描显微镜的维护成本高吗?解答1:维护成本主要取决于设备耐用性与易损件价格。**型号采用模块化设计,换能器、声学透镜等**部件可单独更换,单件价格在5000-2万元之间,使用寿命达3-5年。...
芯片作为现代电子设备的中心组件,其质量和可靠性直接关系到整个设备的性能和使用寿命。芯片无损检测是一种在不破坏芯片结构的前提下,对其内部和外部进行全方面检测的技术。该技术通过运用先进的检测仪器和方法,如...
相控阵超声显微镜区别于传统设备的主要在于多元素阵列换能器与电控波束技术,其换能器由多个自主压电单元组成,可通过调节各单元的激励相位与频率,实现超声波束的电子扫描、偏转与聚焦。这种技术特性使其无需机械移...
空洞、孔洞无损检测是针对材料内部空洞、孔洞等缺陷进行的一种非破坏性检测技术。这些缺陷可能严重影响材料的力学性能和使用寿命。因此,对材料进行空洞、孔洞无损检测具有重要意义。该技术通常采用超声波检测、X射...
随着全球化的深入发展,无损检测标准也在逐渐与国际接轨。国际标准化组织(ISO)等机构制定了一系列无损检测国际标准,为各国之间的贸易和技术交流提供了统一的标准和规范。遵守国际无损检测标准,不只可以提高我...