晶圆无损检测数据与半导体 MES(制造执行系统)的对接,是实现智能化质量管控的关键,能构建 “检测 - 分析 - 优化” 的工艺改进闭环。检测设备通过 OPC UA、MQTT 等工业通信协议,将每片晶...
芯片超声扫描仪:芯片超声扫描仪是专门针对集成电路芯片进行超声检测的设备。它利用超声波在芯片内部传播时遇到不同材质或结构变化会产生反射或散射的特性,来检测芯片内部的缺陷和损伤。芯片超声扫描仪具有非破坏性...
水浸式超声检测是一种非破坏性检测技术,它通过将被检测物体完全或部分浸入水中,利用超声波在水中的传播特性来进行检测。这种方法能够有效地消除空气对超声波传播的影响,提高检测的灵敏度和准确性。在水浸式超声检...
SAM 超声显微镜的透射模式是专为特定场景设计的检测方案,与主流的反射模式形成互补,其工作原理为在样品上下方分别设置发射与接收换能器,通过捕获穿透样品的声波能量实现检测。该模式尤其适用于半导体器件的批...
多层复合材料因具有重量轻、强度高、耐腐蚀等优异性能,被广泛应用于航空航天、汽车制造、电子设备等领域。然而,在材料制备或使用过程中,层间易出现剥离、气泡、杂质等缺陷,这些缺陷会严重影响材料的力学性能和使...
材料科学领域,超声显微镜通过声速测量与弹性模量计算,可量化金属疲劳裂纹扩展速率。例如,在航空复合材料检测中,某设备采用200MHz探头分析纤维-基体结合状态,发现声阻抗差异与裂纹长度呈线性相关。其检测...
相控阵超声显微镜的技术升级方向正朝着 “阵列化 + 智能化” 发展,其多元素换能器与全数字波束形成技术为 AI 算法的应用奠定了基础。在复合材料检测中,传统方法只能识别缺陷存在,而该设备可通过采集缺陷...
C-Scan模式通过逐点扫描生成平面投影图像,结合机械台的三维运动可重构缺陷立体模型。在晶圆键合质量检测中,C-Scan可量化键合界面空洞的等效面积与风险等级,符合IPC-A-610验收标准。某国产设...
头部超声显微镜厂凭借技术积累与资源整合能力,已突破单一设备销售的局限,形成 “设备 + 检测方案” 一体化服务模式,这一模式尤其适用于产线自动化程度高的客户。在服务流程上,厂家会先深入客户产线进行需求...
裂缝是材料或结构中常见的缺陷之一,它的存在会严重影响材料的力学性能和使用寿命。裂缝无损检测技术通过利用声波、电磁波等物理原理,对材料或结构进行全方面、细致的扫描,能够准确地判断出裂缝的位置、长度和深度...
无损检测技术作为一种非破坏性的检测手段,在工业生产、质量控制、科学研究等领域发挥着重要作用。随着科技的进步和发展,无损检测技术也在不断创新和完善。从传统的超声波检测、射线检测到现在的相控阵检测、红外热...
空耦式无损检测是一种无需接触被检物体表面的非破坏性检测技术。该技术通过空气耦合的方式,将超声波发射到被检物体表面,并接收反射回来的信号进行缺陷判断。空耦式无损检测适用于高温、高速运动或表面粗糙的物体检...
分层是复合材料中常见的缺陷,它可能由于制造过程中的工艺问题或使用过程中的外力作用而产生。分层无损检测技术对于确保复合材料的性能和安全性至关重要。通过超声波、红外热成像等方法,可以对复合材料进行全方面、...
半导体无损检测是专门针对半导体材料及其器件进行非破坏性检测的技术。半导体材料在现代电子产业中占据着举足轻重的地位,因此其质量和可靠性至关重要。半导体无损检测通过运用多种物理和化学方法,如超声波检测、X...
钻孔式无损检测和粘连无损检测是两种针对不同应用场景的非破坏性检测技术。钻孔式无损检测通过在被检物体上钻孔并插入检测探头,对物体内部进行精确检测。该技术适用于厚壁结构或难以接触部位的检测。而粘连无损检测...
裂缝是结构中常见的缺陷之一,其存在会严重削弱结构的强度。裂缝无损检测技术因此显得尤为重要。该技术利用声波、电磁波等物理原理,对结构表面和内部进行细致扫描,准确识别裂缝的位置、长度和深度。然而,裂缝检测...
无损检测标准是确保检测过程规范、结果准确的重要依据。这些标准详细规定了检测仪器的使用方法、检测程序、结果判定等各个方面,为检测人员提供了明确的操作指南。遵守无损检测标准,不只可以提高检测效率,还能有效...
空耦式无损检测是一种无需接触被检物体表面的非破坏性检测技术。该技术通过空气耦合的方式发射和接收超声波,实现对物体内部结构的检测。空耦式无损检测特别适用于高温、高速运动或表面不平整的物体检测。在钢铁、有...
空洞无损检测是一种用于检测物体内部空洞缺陷的非破坏性技术。在制造过程中,由于材料内部的气体未完全排出或外界气体侵入,可能会在物体内部形成空洞。这些空洞会影响物体的力学性能和密封性,甚至导致物体破裂。空...
孔洞无损检测是工业检测领域中的一项重要技术,它主要用于检测材料或构件内部的孔洞缺陷。这些孔洞可能是由于材料制造过程中的瑕疵、使用过程中的腐蚀或疲劳等因素造成的。孔洞的存在会严重影响材料或构件的强度和稳...
无损检测仪器,作为现代工业检测的“科技之眼”,能够穿透材料的表面,透明其内部结构,发现隐藏的缺陷。这些仪器种类繁多,如超声波检测仪、X射线探伤机、磁粉探伤仪等,它们各自拥有独特的检测原理和应用领域。超...
无损检测标准是确保检测质量和准确性的重要依据。在无损检测工程中,需要严格遵守相关标准和规范,确保检测过程的规范性和可追溯性。同时,还需要根据具体的工程实践和需求,制定合理的检测方案和操作流程,以确保检...
水浸式无损检测是一种在水环境中进行的非破坏性检测技术。该技术主要利用超声波在水中的传播特性,对水下结构或部件进行全方面检测。在水浸式无损检测中,被检物体完全或部分浸没在水中,超声波探头则发射超声波并接...
无损检测技术作为一种非破坏性检测手段,在工业生产、科研实验、工程质量控制等领域发挥着重要作用。随着科技的进步和发展,无损检测技术不断得到创新和完善。从比较初的简单手工检测到现在的自动化、智能化检测,无...
解答2:多参量同步采集技术提升了缺陷定位精度。设备在采集反射波强度的同时,记录声波的相位、频率与衰减系数,通过多参数联合分析排除干扰信号。例如,检测复合材料时,纤维与树脂界面的反射波相位与纯树脂区域存...
在半导体制造领域,封装质量直接决定芯片的可靠性与使用寿命,而内部微小缺陷如空洞、裂纹等往往难以用常规光学设备检测。SAM 超声显微镜(扫描声学显微镜)的主要优势在于其高频超声探头,通常工作频率可达几十...
SAM 超声显微镜具备多种成像模式,其中 A 扫描与 B 扫描模式在缺陷检测中应用方方面面,可分别获取单点深度信息与纵向截面缺陷分布轨迹,满足不同检测需求。A 扫描模式是基础成像模式,通过向样品某一点...
太阳能晶锭内部缺陷影响电池转换效率,超声显微镜通过透射式扫描可检测晶格错位、微裂纹等隐患。某研究采用50MHz探头对单晶硅锭进行检测,发现0.1mm深隐裂,通过声速映射技术确认该缺陷导致局部少子寿命下...
Wafer晶圆超声显微镜在封装检测中的应用:在半导体行业封装领域,Wafer晶圆超声显微镜主要由通过反射式C-Scan模式,可精细定位塑封层、芯片粘接层及BGA底部填充胶中的分层缺陷。例如,某国产设备...
相控阵超声显微镜的技术升级方向正朝着 “阵列化 + 智能化” 发展,其多元素换能器与全数字波束形成技术为 AI 算法的应用奠定了基础。在复合材料检测中,传统方法只能识别缺陷存在,而该设备可通过采集缺陷...