MOS 的技术发展始终围绕 “缩尺寸、提性能、降功耗” 三大目标，历经半个多世纪的持续迭代。20 世纪 60 年代初，首代平面型 MOS 诞生，采用铝栅极与二氧化硅绝缘层，工艺节点只微米级，开关速度与...

IGBT模块的封装技术对其散热性能与可靠性至关重要，不同封装形式在结构设计与适用场景上差异明显。传统IGBT模块采用陶瓷基板（如Al₂O₃、AlN）与铜基板结合的结构，通过键合线实现芯片与外部引脚的连...

MOSFET的静态特性测试是评估器件性能的基础，需通过专业设备（如半导体参数分析仪）测量关键参数，确保器件符合设计规范。静态特性测试主要包括阈值电压Vth测试、导通电阻Rds（on）测试与转移特性...

IGBT 的核心竞争力源于其在 “高压、大电流、高效控制” 场景下的综合性能优势，关键参数直接决定其适配能力。首先是高耐压与大电流能力：IGBT 的集电极 - 发射极耐压范围覆盖 600V-6500V...

MOSFET的并联应用是解决大电流需求的常用方案，通过多器件并联可降低总导通电阻，提升电流承载能力，但需解决电流均衡问题，避免出现单个器件过载失效。并联MOSFET需满足参数一致性要求：首先是阈值...

在功率电子领域，功率MOSFET凭借高频、低损耗、易驱动的特性，成为开关电源、电机控制、新能源等场景的主要点器件。在开关电源（如手机充电器、PC电源）中，MOSFET作为高频开关管，工作频率可达几十k...

在新能源发电领域，IGBT 是实现 “光能 / 风能 - 电能” 高效转换与并网的关键器件。在光伏发电系统中，光伏逆变器需将光伏板产生的直流电转为交流电并入电网，IGBT 通过高频开关动作（1-20k...

MOS 的性能突破高度依赖材料升级与工艺革新，两者共同推动器件向 “更微、更快、更节能” 演进。基础材料方面，传统 MOS 以硅（Si）为衬底，硅材料成熟度高、性价比优，但存在击穿场强低、高频性能有限...

MOS 的重心结构由四部分构成：栅极（G）、源极（S）、漏极（D）与半导体衬底（Sub），整体呈层状堆叠设计。栅极通常由金属或多晶硅制成，通过一层极薄的氧化物绝缘层（传统为二氧化硅，厚度只纳米级）与衬...

IGBT有四层结构，P-N-P-N，包括发射极、栅极、集电极。栅极通过绝缘层（二氧化硅）与沟道隔离，这是MOSFET的部分，控制输入阻抗高。然后内部有一个P型层，形成双极结构，这是BJT的部分，允...

IGBT的热循环失效是影响其寿命的重要因素，需通过深入分析失效机理并采取针对性措施延长寿命。热循环失效的主要点原因是IGBT工作时结温反复波动（如从50℃升至120℃），导致芯片、基板、焊接层等不同材...

MOSFET的驱动电路需满足“快速导通与关断”“稳定控制栅压”“保护器件安全”三大主要点需求，因栅极存在输入电容Ciss，驱动电路需提供足够的充放电电流，才能保证开关速度。首先，驱动电压需匹配器件特性...