车载电源PMIC、升降压芯片、BMS采集芯片市场需求持续走高,车规AEC-Q100标准对多通道电压电流同步测试、数字IO电源复用、多路PPMU并行供电提出硬性要求,传统单通道测试设备并行效...
半导体设备自主可控不止单一板卡国产化,整套测试系统全链路国产供应链协同是长期趋势。过去很多国产测试模块只能搭配进口机箱、控制器,依然存在供应链短板。杭州国磊GI系列测试板卡完美兼容国内主流...
消费电子是芯片应用*****的领域,市场迭代速度快、产品生命周期短,对应的辅助IC、驱动IC、触控芯片等品类,需要高频次改版、快速迭代,抢占市场窗口期。该类芯片单轮试样量小、迭代频次高,需...
手机、笔记本快充功率突破200W,快充SOC芯片集成升降压控制、协议识别、多路功率管驱动,工作电压比较高60V,多路功率轨同步测试、动态负载瞬态响应、短路保护、待机功耗是主要测试项。很多快...
量产测试产线**大痛点在于单工位单次只能测试一颗芯片,设备利用率偏低,随着订单增长,只能持续新增测试工位,厂房、设备、人力成本持续攀升。采用多DUT并行测试方案,是提升产能**直接有效的方...
芯片产品从研发试样到大规模量产,必然会经历小规模试产过渡阶段,这个阶段批次体量适中、迭代频次高,需要持续稳定的FT测试服务积累良率数据、优化测试方案、验证工艺稳定性。但大型测试工厂优先保障...
芯片设计图纸、测试程序、参数数据、良率报表均属于企业主要知识产权,直接决定产品主要竞争力,因此FT测试过程中的数据保密、样品安全是企业选择服务商的主要考量。多数大型测试工厂人员流动大、项目...
封测代工业务比较大的痛点就是客户需求碎片化,不同客户送来的芯片规格千差万别,时而电源芯片,时而多路驱动器件,产线需要频繁切换产品。不少设备换产流程复杂,硬件改动繁琐,调试耗时久,直接拉低产...
消费电子是芯片应用*****的领域,市场迭代速度快、产品生命周期短,对应的辅助IC、驱动IC、触控芯片等品类,需要高频次改版、快速迭代,抢占市场窗口期。该类芯片单轮试样量小、迭代频次高,需...
工业机器人与新能源汽车产业带动电机驱动IC需求暴涨,多通道电机驱动、栅极驱动芯片***用于伺服电机、步进电机、BLDC无刷电机控制,测试比较大难点在于多通道信号同步性,通道时序偏差过大就无...
MiniLED背光技术在车载显示、高精电视、笔记本电脑领域加速渗透,驱动芯片采用大量LVDS高速差分接口与多通道恒流输出,高速图像数据传输、时序同步、多通道电流一致性测试对数字IO通道速率...
电源管理IC、功率半导体器件是新能源、工控、智能家居终端的主要元器件,普遍存在迭代频次高、单次试样量小、参数精度要求严苛的特点。FT测试过程需要精细检测阈值电压、静态功耗、导通特性、负载参...
消费电子是芯片应用*****的领域,市场迭代速度快、产品生命周期短,对应的辅助IC、驱动IC、触控芯片等品类,需要高频次改版、快速迭代,抢占市场窗口期。该类芯片单轮试样量小、迭代频次高,需...
芯片研发全量量产测试项目繁多、耗时较长,整体测试成本偏高,但研发前期只需验证主要功能与关键参数,无需执行全部量产测试项,冗余测试流程会大幅增加研发试错成本。目前市面通用测试服务商均采用固定...
长三角是国内集成电路创新高地,汇聚大量Fabless芯片设计企业,以中小规模科创团队为主,新品迭代节奏快、试样频次高,单次封装样品数量普遍偏小。FT测试具备极强属地服务属性,就近送测不只缩...
随着物联网、穿戴设备快速发展,低功耗MCU、无源传感芯片、RRAM存储器件量产测试,对nA级、pA级微弱电流测量提出严苛要求。市面上很多通用SMU模块本底噪声偏高,无法精细区分休眠功耗差异...
很多设计公司ADC项目属于阶段性项目,项目周期结束之后,设备如果只能测ADC,就会长期闲置。科普,专项ATE主机平台具备通用能力,通过更换板卡,就可以承接其他模拟芯片测试,提升设备整体利用...
消费电子是芯片应用*****的领域,市场迭代速度快、产品生命周期短,对应的辅助IC、驱动IC、触控芯片等品类,需要高频次改版、快速迭代,抢占市场窗口期。该类芯片单轮试样量小、迭代频次高,需...
数模混合SoC、音频处理IC、触控MCU、工业采集芯片同时集成模拟电源轨、数字逻辑、高速波形接口、时序电路,单一功能板卡无法覆盖完整测试需求,企业需采购多套进口测试设备,系统集成复杂、采购...
芯片样品属于精密微电子器件,对静电、震动、温湿度极为敏感,长途物流转运、多次中转极易造成静电损伤、引脚破损、样品混料等问题,导致测试良率失真,误导研发判断,不只浪费试样成本,还会延误研发周...
电压基准、电流基准、计量ADC、高精度仪表芯片对测试基准源稳定性、温漂、噪声指标要求严苛,普通SMU模块基准漂移大,无法满足ppm级高精度校准测试需求,行业研发与量产校准环节普遍依赖进口*...
后摩尔时代,Chiplet多Die异构集成成为提升芯片性能的**路径,测试从传统单芯片电性测试升级为多Die、多协议、多层堆叠、多物理场耦合的系统级测试,成为制约良率、成本、量产的**瓶颈。很...
异地芯片研发团队受地域限制,无法频繁往返测试现场调试测试程序、核对测试参数,跨地域沟通存在信息滞后、调试效率低、迭代周期长等问题,极大影响新品NPI导入进度。针对异地客户痛点,杭州国磊半导...
很多实验室与产线长期存在一个共性问题:不同日期、不同温区下芯片测试数据重复性差,排除DUT本身因素后,根源在于测试系统缺乏稳定基准,普通SMU内置基准温漂较大,长时间测试出现参数偏移。在计...
现在很多企业导入国产ATE,比较大顾虑不是硬件指标,而是设备能不能适配未来新产品迭代,担心设备买回来,芯片一改规格机器就直接淘汰。科普,评判一台ATE平台生命周期,重点看板卡扩展能力,主机...
封测代工业务比较大的痛点就是客户需求碎片化,不同客户送来的芯片规格千差万别,时而电源芯片,时而多路驱动器件,产线需要频繁切换产品。不少设备换产流程复杂,硬件改动繁琐,调试耗时久,直接拉低产...
芯片高温反偏HTRB、高温工作HTOL、低温存储等可靠性老化测试,需要多通道稳定电压电流激励、多路DUT自动切换、长期连续稳定输出,进口老化测试系统通道固定、扩容成本高,单套设备*支持少量...
消费电子是芯片应用*****的领域,市场迭代速度快、产品生命周期短,对应的辅助IC、驱动IC、触控芯片等品类,需要高频次改版、快速迭代,抢占市场窗口期。该类芯片单轮试样量小、迭代频次高,需...
芯片研发全量量产测试项目繁多、耗时较长,整体测试成本偏高,但研发前期只需验证主要功能与关键参数,无需执行全部量产测试项,冗余测试流程会大幅增加研发试错成本。目前市面通用测试服务商均采用固定...
芯片从研发试样迈向大规模量产,必然需要经历小规模预量产过渡阶段。预量产批次体量适中、持续迭代调整,需要多次FT测试积累良率数据,持续优化测试判定标准,验证设计与封装工艺长期稳定性。大型封测...