光学平台的平面度在使用时,实际意义不大。我们以完全平整的台面(实际上是不可能的)来看,若长×宽×厚为:2000×1000×200mm,通常调整水平时,水平仪的小刻度为±30′,若假设实际过程中,水平方...
对于平台上的光学元件来说,平面度引起的高度差,通常可以忽略不计,若确有必要考虑高度差,则完全可以通过卓立精密调整的位移台来实现。综上所述,光学平台的平面度,同光学平台的隔振性能不相关,只能做为光学平台...
硅光芯片耦合测试系统应用到硅光芯片,我们一起来了解硅光芯片的重要性。为什么未来需要硅光芯片,这是由于随着5G时代的到来,芯片对传输速率和稳定性要求更高,硅光芯片相比传统硅芯的性能更好,在通信器件的高级...
由于软玻璃材料并不像硅一样易形成管状,普通的堆管制作预制棒的方法不适用,利用直接挤压形成预制棒的新技术则能制作这类材料的光子晶体光纤耦合系统预制棒。通过堆叠、冲压和钻孔的方法可以比较好地制作聚合物材料...
光子晶体光纤耦合系统与普通单模光纤的低损耗熔接是影响光子晶体光纤耦合系统实用化的重要技术。针对自行设计的光子晶体光纤耦合系统,对其与普通单模光纤的熔接损耗机制进行了理论和实验研究。首先分析了影响熔接损...
空间激光通信技术是以激光光束为载波进行空间信息传输的技术。相比传统微波通信,具有频带宽、保密性强、抗电磁干扰和无需申请频段等特点。空间激光载波通常以光学天线为接收终端,将空间光耦合进入单模或多模光纤进...
只要在确认耦合不过的前提下,可依次排除B壳天线、KB板和同轴线的故障进行维修。若以上一一排除,则是主板参数校准的问题,或者说是主板硬件存在故障。耦合天线的种类比较多,有塔式、平板式、套筒式,常用的是自...
光纤耦合系统及耦合方法涉及光纤耦合技术领域,解决了有效工作范围小,耦合对准精度低,受大气湍流干扰严重的问题,系统包括一种光纤耦合系统,包括光斑追踪快反镜,追踪镜驱动器,分光片,成像透镜组,光斑位置探测...
在爆轰与冲击波实验中,瞬态速度的测量将为实验提供极为重要的参数。采用全光纤位移干涉技术的激光干涉测速系统由于高精度,结构紧凑、体积小、重量轻等诸多优势,成为冲击波与爆轰试验中速度测量系统的重要发展方向...
我们提供,纳米级升级精密耦合时不用人手参与,耦合稳定性较大提高,间接提升了耦合效率;用户操作时更加得心应手,将整个耦合较耗时耗力的部分变得轻松和效率,较大节省用户人力和精力,又与传统的自动耦合单一化死...
采用球形光纤端面不只可以提高光纤与光纤之间的耦合效率,而且利于实验光路调试。但是采用这样一种较为简单的耦合方法存在一些比较严重的问题:烧制过程中不易把握温度及用力大小,比较难烧制出所需的球形;采用球形...
光子带隙型光子晶体光纤耦合系统有着更大的发展空间。可能比普通光纤有更低的传输损耗,使得它们有可能成为未来通信传输系统的生力军;比普通光纤有更高的损伤阈值,使得它们适合以激光加工和焊接为目的的强激光传输...
自动耦合光纤耦合系统:应用于平面光光纤(PLC)分路器封装的新一代手动耦合系统:具有体积小、精度高、操作简单和性价比高等优点。该系统中,在耦合工艺中扮演重要角色的高精运动平台方面,保证了平台的高稳定性...
自动耦合系统简单来说,这台自动高精度耦合设备,聚集了高精度,高稳定性,高效率,高性价比,培训时间短,上手快,以及优越的适用性等优点,能够兼容水平和垂直耦合,满足光通信无源器件和有源器件的耦合测试;特别...
在爆轰与冲击波实验中,瞬态速度的测量将为实验提供极为重要的参数。采用全光纤位移干涉技术的激光干涉测速系统由于高精度,结构紧凑、体积小、重量轻等诸多优势,成为冲击波与爆轰试验中速度测量系统的重要发展方向...
硅光芯片耦合测试系统耦合掉电,是在耦合的过程中断电致使设备连接不上的情况,如果电池电量不足或者使用程控电源时供电电压过低、5V触发电压未接触好、测试连接线不良等都会导致耦合掉电的现象。与此相似的耦合充...
硅光芯片耦合测试系统是什么?硅光芯片耦合测试系统主要是用整机模拟一个实际使用的环境,测试设备在无线环境下的射频性能,重点集中在天线附近一块,即检测天线与主板之间的匹配性。因为在天线硅光芯片耦合测试系统...
在光芯片领域,芯片耦合封装问题是光子芯片实用化过程中的关键问题,芯片性能的测试也是至关重要的一步骤,现有的硅光芯片耦合测试系统是将光芯片的输入输出端光纤置于显微镜下靠人工手工移动微调架转轴进行调光,并...
硅光芯片耦合测试系统是一种应用双波长的微波光子频率测量设备,以及一种微波光子频率测量设备的校正方法和基于此设备的微波频率测量方法。在微波光子频率测量设备中,本发明采用独特的双环耦合硅基光子芯片结构,可...
基于设计版图对硅光芯片进行光耦合测试的方法及系统进行介绍,该方法包括:读取并解析设计版图,得到用于构建芯片图形的坐标簇数据,驱动左侧光纤对准第1测试点,获取与第1测试点相对应的测试点图形的第1选中信息...
硅光芯片耦合测试系统是由激光器与硅光芯片集成结构,结构包括:激光器芯片,激光器芯片包括第1波导;硅光芯片,硅光芯片包括第二波导,第二波导及第1波导将激光器芯片发出的光耦合至硅光芯片内;第1波导包括依次...
我们分析了一种可以有效消除偏振相关性的偏振分级方案,并提出了两种新型结构以实现该方案中的两种关键元件。通过理论分析以及实验验证,一个基于一维光栅的偏振分束器被证明能够实现两种偏振光的有效分离。该分束器...
硅光芯片耦合测试系统测试时说到功率飘忽不定,耦合直通率低一直是影响产能的重要的因素,功率飘通常与耦合板的位置有关,因此在耦合时一定要固定好相应的位置,不可随便移动,此外部分机型需要使用专属版本,又或者...
在光芯片领域,芯片耦合封装问题是光子芯片实用化过程中的关键问题,芯片性能的测试也是至关重要的一步骤,现有的硅光芯片耦合测试系统系统是将光芯片的输入输出端光纤置于显微镜下靠人工手工移动微调架转轴进行调光...
测试站包含自动硅光芯片耦合测试系统客户端程序,其程序流程如下:首先向自动耦合台发送耦合请求信息,并且信息包括待耦合芯片的通道号,然后根据自动耦合台返回的相应反馈信息进入自动耦合等待挂起,直到收到自动耦...
硅光芯片耦合测试系统的应用技术领域,公开了光子集成芯片的新型测试系统及方法,包括测试设备和集成芯片放置设备,测试设备包括电耦合测试设备和光耦合测试设备中的一种或两种,电耦合测试设备和光耦合测试设备可拆...
硅硅光芯片耦合测试系统中硅光耦合结构需要具备:硅光半导体元件,在其上表面具有发硅光受硅光部,且在下表面侧被安装于基板;硅光传输路,其具有以规定的角度与硅光半导体元件的硅光轴交叉的硅光轴,且与基板的安装...
硅光芯片耦合测试系统是一种应用双波长的微波光子频率测量设备,以及一种微波光子频率测量设备的校正方法和基于此设备的微波频率测量方法。在微波光子频率测量设备中,本发明采用独特的双环耦合硅基光子芯片结构,可...
硅光芯片耦合测试系统硅光阵列微调设备,微调设备包括有垂直设置的第1角度调节机构与第二角度调节机构,微调设备可带动设置于微调设备上的硅光阵列在垂直的两个方向实现角度微调。本发明还提供一种光子芯片测试系统...
基于设计版图对硅光芯片进行光耦合测试的方法及系统进行介绍,该方法包括:读取并解析设计版图,得到用于构建芯片图形的坐标簇数据,驱动左侧光纤对准第1测试点,获取与第1测试点相对应的测试点图形的第1选中信息...