对于半导体行业来说,圆晶测量和缺陷检测都是半导体生产的关键环节,检测和控制生产中的每一步生产质量。为了显微测量,马波斯提供2D光谱共焦线扫相机。在超高分辨率和超大景深应用中,可在Z轴上准确聚焦。因此,这是检测圆晶缺陷的理想选择,例如,圆晶沿的检测和封装期间的检测。这些传感器都允许集成在测量和检测设备中。马波斯和STIL在数十年的发展中积累了丰富的经验,可为用户提供量身定制解决方案和的光学设计。马波斯的小横向分辨率为0.4μm*0.4μm,大倾斜角为+/-45°,0.75数值孔径。Marposs为齿轮变速箱売体提供量身定制的泄漏测试解决方案,可满足行业内手动或全自动的多选项解决方案。定子局部放电检测设备方法
作为电机关键元件,轴和转子必须承受电机传递给下游部件的高速度和大转矩。因此,所有部件必须精确配合(公差小)。必须对每一个产品进行检查,以确保比较高水平的质量。根据电机的类型,使用不同的转子型号:永磁转子用于无刷同步电机.绕线转子用于外部励磁同步电机.鼠笼转子用于异步电机Marposs在整个制造环节提供各种产品和应用以进行过程控制。Marposs还提供各种方案和设备以进行质量检查、功能测试和转子成品装配。反电动势测试(BEMF)和永磁转子EOL功能测试都是十分可靠的解决方案。内蒙古转子检测设备马波斯Hetech一直致力于电动汽车发动机压铸外壳的泄漏检测系统的研发与制造,并获得了市场认可。
Optoquick可以快速、精细整个零件的质量测量只在数秒之间就可完成。其具有光学接触式测针马波斯专业测量经验轻松应对任何的测量挑战!另外,Optoquick柔性大,能够采用单个系统,兼容测量多个零件工业级在车间现场的性能较好。生产现场环境中的高精度测量因为Optoquick拥有前列的光电技术和马波斯设计,所以在测量性能、速度与柔性之间实现比较好的平衡。作为生产现场环境的比较好解决方案,它在准确性、重复性与稳定性方面体现出了稳定的测量性能。它可在恶劣环境条件下进行测试。即使现场温度变化大,它也能实现准确的动态温度补偿。
MARPOSS提供电池生产过程中所有阶段的泄漏测试和漏点探测解决方案,单个电芯的真空箱氦检,电池包组件(如冷却管&冷却板)的氦气泄漏和漏点探测解决方案,在组装完成后,通过压降法/流量法或示踪气体测试法,对大体积模组、电池包和外壳(包括电气元件)进行泄漏测试。在进行电池托盘,盖板和电池包的泄漏测试的过程中,安装完成的电池模组装到电池外壳内,并检测泄漏(漏率在10-3scc/s范围内)。当采用水/乙醇混合物作为冷却剂时泄漏率在10-3scc/s范围内,而采用气体作为冷却剂时泄漏率在10-5scc/s范围内。马波斯集团Hetech品牌一直致力于泄漏检测系统领域的研究,也是这一崭新市场生产商的有力合作伙伴。
Optoquick是世界上同类产品中一直面对挑战并结合了接触测量传感器和自动触针更换系统的解决方案。在相同的测量周期内,接触式感应针可自动换型,以便使用合适的针型进行任何特定的测量。通过这样的解决方案,Optoquick被定位为一个集多种功能于一体的柔性解决方案,因为它可以提供高级的测量功能,并使传统测量产品无法解决的测量成为可能。全新的Optoquick是传动轴测量的完美解决方案,其中花键、齿轮,如OBR,ODB,节距跳动都可被测量。进行氦气试漏的方法有多种,即对真空腔进行整体测试这体现的是优异与有效的选择。外径测量仪器
马波斯关于电池pack组装的方案集中在如下关键工序成品电池pack和冷却回路的泄漏测试。定子局部放电检测设备方法
Optoflash是世界上轴向可以采用多个光学传感器的测量系统。这意味着可以通过不同的光学传感器分别获取图像,然后将所有图像完美地结合在一起,从而生成一幅单一的工件合成图像,并可确保合成边缘毫无任何断点和缺口。得益于这一独特的设计,Optoflash测量系统无需光学系统或工件本身进行任何轴向运动,就可以覆盖长度达300mm的测量范围。当前,作为世界上前列的轴向可以采用多个光学传感器的测量系统。Optoflash的总测量时间可达5.6秒!定子局部放电检测设备方法