半导体芯片缺陷检测

Optoflash具有以下特点。一、易于使用简单直观的用户界面降低了操作人员培训的成本。智能结果显示、工件细节图像、图形设置等各项功能一应俱全。任何人员都能轻松使用Optoflash测量系统，并能对新的测量数据进行设置。二、新功能在测量数据存档后，操作人员可利用智能搜索功能，通过图像和统计趋势显示查看零件的详细信息。三、高级设置的柔性测量系统能够通过简单的操作满足各种应用要求。除此之外，Optoflash测量系统配备了马波斯软件用户界面。马波斯关于电池pack组装的方案集中在如下关键工序成品电池pack和冷却回路的泄漏测试。半导体芯片缺陷检测

MARPOSS嗅探氦气泄漏测试方案能够测量10-2-10-4SCC/sec的泄漏。该技术在此漏率范围内取得了非常好的测试结果，并且方案简单可靠。通过空气泄漏测试方法（压降法或质量流量法）检查组装好的冷却回路。从优势的角度来看，嗅探氦气泄漏测试方案检测泄漏精度高达10-4SCC/sec，该方法不受待测产品和环境温度影响适用于大体积和外壳会变形的产品的测试识别泄漏位置，使用多个机器人嗅探以优化测试节拍按照客户的规格要求定制方案或通用化解决方案结构坚固部件易于获得，易于进行保养。半导体芯片缺陷检测2020年7月马波斯收购了e.d.c，由此可以提供包括用于生产车间以及实验室环境的电机及其部件检测的解决方案。

Optoquick可直观的测量验证，测量报告易于理解，通过清晰的图像,显示超出公差范围的结果，用于简单分析的真实工件图像。OptoquickL系列是大型重型工件测量的比较好选择。可通过手动或机器人自动模式将工件装载在Optoquick上。尾架为自动化移动式,能够全自动夹紧工件和实现换型。智能控制界面使得生产管理者能通过简单的指令与Optoquick互动。Optoquick支持多个工件的测量程序。因此,可通过简单的指令按顺序测量不同的工件。它可在数秒之内从一个程序切换到另一个程序,以消除新生产批次设置中的任何延迟情况。

在齿轮切削滚齿过程监控方面，齿轮零件的机加工对滚齿刀具和滚齿工艺提出了很高的要求。GENIORMODULAR系统可以在早期就监测到异常和工艺变化。这可以避免故障零件流入到装配段或检查段。在齿轮磨削与砂轮动平衡方面，能源使用效率在各个领域都很重要,尤其在电动汽车领域,其对扩大汽车的行驶里程至关重要。齿轮和机械部件的外表面和几何尺寸质量是这一技术变革成功的关键。借助Marposs砂轮动平衡和消空程技术,磨削工艺始终能以比较好方式进行,比较大限度地提高量产质量。马波斯产品提供电性能测试应用程序，包括手动和自动方案，该方案可以对定子进行的功能和电性能测试。

在半导体的生产环节中，圆晶减薄是其中一个关键的生产环节。实际上，由于芯片已在圆晶上成形，减薄操作的任何失误都可能影响芯片成品率和成本。在减薄加工中，可用接触式或非接触式传感器测量，甚至可在去离子水中测量，进行严格在线控制。马波斯传感器甚至可检测到砂轮与圆晶接触的瞬间或检查任何过载。另外，马波斯传感器可控制的厚度从4µm到900µm（单侧测量），智能处理厚度数据，可正常控制超薄厚度和记录数据（黑盒功能）。作为标准与同轴电缆零件的A/C软管用双腔机。测量原理是采用质谱仪进行整体测试。半导体芯片缺陷检测

高速变速箱的组装过程通常需要确定并验证垫片选择是否正确,以防止可能造成的噪音或变速箱功能失效。半导体芯片缺陷检测

Optoflash是世界上轴向可以采用多个光学传感器的测量系统。这意味着可以通过不同的光学传感器分别获取图像，然后将所有图像完美地结合在一起，从而生成一幅单一的工件合成图像，并可确保合成边缘毫无任何断点和缺口。得益于这一独特的设计，Optoflash测量系统无需光学系统或工件本身进行任何轴向运动,就可以覆盖长度达300mm的测量范围。当前，作为世界上前列的轴向可以采用多个光学传感器的测量系统。Optoflash的总测量时间可达5.6秒!半导体芯片缺陷检测