blum测头

在半导体的生产环节中，圆晶减薄是其中一个关键的生产环节。实际上，由于芯片已在圆晶上成形，减薄操作的任何失误都可能影响芯片成品率和成本。在减薄加工中，可用接触式或非接触式传感器测量，甚至可在去离子水中测量，进行严格在线控制。马波斯传感器甚至可检测到砂轮与圆晶接触的瞬间或检查任何过载。另外，马波斯传感器可控制的厚度从4µm到900µm（单侧测量），智能处理厚度数据，可正常控制超薄厚度和记录数据（黑盒功能）。马波斯已经开发出精度、灵敏度很高的泄漏测试解决方案，以满足工业部门日益严格的要求。blum测头

对于光学测量不到的特征，G25是一个完美的互补。这些测量特征通常包括：•键槽深度，角度，对称度•孔•平面的形位特征•轴向跳动。接触式轴向测头通过智能集成的轴向接触式测头，可进一步拓展Optoquick的功能。这使得Optoquick能够实现以下附加功能：•小公差的轴向跳动度•用户定义半径处的轴向长度•穿过工件轴线的测量•光学测量不到的区域。通过将光学与接触式技术，以及完整的马波斯设计结合起来，Optoquick可提供高于行业标准的扩展测量功能。通过此独特的技术集成，Optoquick可快速测量规定半径处的轴向单跳动和全跳动。线上和线下测量解决方案马波斯可保证多种并发测试技术的有效性和可靠性，如无损检测、机器视觉和泄漏检测。

在超高精度加工设备的行业，OptoflashXS可以满足超高精度加工行业的要求。例如，Optoflash可以测量半径小于0.1mm的倒角和圆弧，或者沿轴向很小的直径变化。在医疗用品行业，柔性，是Optoflash能够应用在医疗植入物和加工刀具行业里，十分重要的优势。适合多品种，小批量的检测，性价比高。对于塑料注塑件和高精度的牙科植入件，OptoflashXS检测的速度更快，精度更高。测量过程中的品种切换只需要在用户屏幕上点击一下即可。Optoflash测量系统特别易于使用：开放式的装载区域，符合人机工程学原理的尾架系统，可方便地夹紧待测工件。基于触屏显示器的软件用户界面—可为用户提供良好的操作体验。

描述凡是使用有机电解液的电芯，均可通过这项技术来检测（纽扣电芯、圆柱电芯、方形电芯或软包电芯）。这项技术可跟踪锂离子电芯中常用的多种不同成分，例如碳酸二甲酯（DMC），碳酸二乙酯（DEC），碳酸甲乙酯（EMC），丙酸丙酯（PP）等。这项技术可在不同工艺阶段检测电芯：如，注液和密封后检测，化成后检测，degassing和**终密封后检测，还可在EOL测试中检测。测试期间电芯置于真空箱内。如果电芯外壳泄漏，电解液部分成分将气化，逸出电芯进入真空箱内。这项检测的基本原理就是：用四极质谱仪示踪电解液蒸汽，以此测量泄漏情况。此检测方法可用于大批量生产的生产线，检测速度快且全程自动化，满足电芯生产的高节拍要求。我们针对这项检测开发了一系列不同的工艺方式（专利申请中），可以有效缩短周期。根据电芯的类型（纽扣、圆柱、方形或软包）及尺寸不同，可对真空箱的尺寸和形状、真空箱内的电芯数量、测试周期等进行定制化设计。首页图片为采用电解液示踪技术自动检测电芯泄漏的方案，，该方案运用于纽扣电芯的自动化高节拍量产。为避免电芯污染真空箱，首先需要进行了一次大漏测试，以排除有明显泄漏缺陷的电芯。高速变速箱的组装过程通常需要确定并验证垫片选择是否正确,以防止可能造成的噪音或变速箱功能失效。

玻璃是**古老的材料之一。玻璃的历史可以追溯到公元**500年。埃及人于公元前1500年制造了***个中空玻璃容器。公元前一世纪，吹管技术的发明引发了一次技术**，而真正的**来自于20世纪初迈克尔·欧文斯（MichaelOwens）在美国发明的***台自动吹瓶机。它支持每小时生产2.500个容器，使得工业规模的玻璃容器生产成为可能。该技术在1925年得到了进一步的改进，这是***台使用blow&blow或press&blow制技术的IS（**工段）机器，该机器至今仍在使用。玻璃是惰性的：没有东西可以通过玻璃进入产品，反之亦然。玻璃符合可持续发展（100％可回收）。与塑料和铝等其他包装材料相比，玻璃很漂亮，并且可以提高产品的感知价值和质量。Marposs可以提供测试方案,用于在线或离线的定子绝缘质量检测。电机外壳气密性检测

马波斯在泄漏测试方案领域拥有丰富的经验,方案可集成不同技术,确保可以为整个电驱动产品组件提供解决方案。blum测头

Optoflash能够保证紧固件的质量控制。螺栓、销钉和铆钉都可以通过Optoflash实现快速测量。标准的测量选项里包括螺纹测量功能：螺纹大径、螺纹小径、螺纹中径、螺距、啮合角度、螺纹总长度、螺纹起始点角向、螺纹轴线、螺纹同轴度等。基于2D图像采集技术，Optoflash是测量涡轮增压器的完美解决方案比较大的优势在于，Optoflash可通过一张2D图像采集到整个工件轮廓，所以能够用更快的速度测量到整个叶片的轮廓（而不是数个截面），并且更加精确可靠。Optoflash的测量速度是传统线扫描光学系统的两倍。blum测头