国磊精密测试板卡

    随着物联网、穿戴设备快速发展，低功耗MCU、无源传感芯片、RRAM存储器件量产测试，对nA级、pA级微弱电流测量提出严苛要求。市面上很多通用SMU模块本底噪声偏高，无法精细区分休眠功耗差异，极易造成良品误筛、测试数据重复性差。杭州国磊GI-SMUBV04四路精密浮动±10V源测量模块专为低压小信号场景优化，硬件电路增加多级滤波降噪设计，极低本底噪声，稳定捕捉纳安级静态电流。搭配GI-SMUREF05精密参考源表，消除系统基准漂移带来的数据波动。针对低功耗芯片休眠、唤醒、间歇工作模式，支持长时间持续电流采集，完整记录功耗变化曲线。整套硬件适合蓝牙BLE芯片、MEMS传感器、阻变存储单元实验室表征与量产FT测试。板卡采用浮动隔离架构，规避地环路噪声干扰，搭配GI-CBIT120继电器切换回路，进一步抑制通道串扰。很多企业依靠进口低噪声源表，但货期长、单价高昂。国磊低噪声SMU性能对标进口机型，交付周期短，支持多板卡级联扩展并行工位。在三温高低温环境下依旧保持稳定测量精度，有效降低低功耗芯片误判率，提升良率筛选精细度，助力国产低功耗物联网芯片快速完成性能验证与量产落地。 杭州国磊半导体PXIe板卡SMU系列对标NI，支持LabVIEW、C/C++、Python开发，提供标准API，二次开发更便捷。国磊精密测试板卡

    晶圆CP测试是芯片制造前段关键工序，需要测试硬件与探针台精细联动，快速完成上万颗芯粒电学扫描，对通道切换速度、通讯兼容性、高压安全保护有着硬性标准。很多高压功率晶圆、模拟芯片厂商反馈，进口测试模块和国产探针台协议适配困难，调试周期漫长。杭州国磊GI系列测试板卡支持主流探针台通讯协议，可快速实现硬件联动。碳化硅、IGBT晶圆高压击穿测试，搭载GI-SMUHV011000V浮动SMU，硬件内置高压互锁保护，防止探针扎针异常造成晶圆损坏；通用模拟、MCU晶圆测试可组合GI-SMUMV04、GI-DMUMS32实现电源激励与数字逻辑同步测试。GI-CBIT120120路继电器驱动板卡，实现多路探针通道快速切换，缩短芯粒之间切换等待时间，提升晶圆探针吞吐效率。板卡支持连续批量扫描模式，自动记录每颗芯粒I-V参数，标记失效点位，输出晶圆Mapping数据。模块化架构灵活，研发阶段小规模晶圆测试可以少量配置通道；量产线大规模晶圆测试可多机箱级联扩容。相比整套进口晶圆测试系统，硬件采购成本明显降低，本土工程师驻场协助探针台联调，大幅缩短产线调试周期，帮助晶圆厂、Fabless企业高效完成CP晶圆筛选，提前剔除失效晶粒，节约后端封装成本。 盐城控制板卡市场价格杭州国磊半导体PXIe板卡DMUMS32适用于MCU、SoC、FPGA等功能验证与量产测试。

    各类模拟、功率、数字芯片量产分选测试中，多路DUT自动切换、探针台通道切换、负载回路切换依赖继电器驱动板，进口继电器模块通道数量少、单通道成本高、驱动响应速度慢，制约产线并行测试效率提升。杭州国磊GI-CBIT120120路继电器驱动控制板卡，单卡集成120路单独继电器控制通道，硬件高速驱动，切换响应微秒级，支持高压、低压、信号回路隔离切换，可联动全系SMU、AWG、数字IO板卡，搭建全自动多工位量产测试系统，无需人工更换测试负载。120路高密度通道设计大幅节省机箱插槽，相比进口32路继电器板卡，同等通道数量机箱占用空间减少70%，产线设备占地面积压缩，降低厂房投入成本。2026年国内封测厂持续扩产成熟制程芯片量产工位，降本增效成为主要诉求，进口继电器板卡备件采购周期长、维修费用高，国磊继电器板卡全本土生产，备件现货，售后技术团队24小时响应产线故障。针对功率芯片多路器件并行测试、模拟芯片多样品同步校准、存储芯片多颗粒老化切换场景，多块GI-CBIT120级联可扩展数百路切换通道，搭配三温分选机实现全自动无人值守量产测试，明显提升设备稼动率，降低单颗芯片测试人工与硬件成本。

    工业自动化、光伏储能大量使用隔离驱动芯片、隔离运算放大器、隔离采样IC，这类器件输入侧与输出侧电气隔离，普通非浮动测试模块极易产生回路干扰，造成隔离漏电流、传输特性测试结果失真，是行业普遍存在的测试难点。杭州国磊GI系列源测量模块全部采用精密浮动隔离架构，完美适配隔离器件专项测试。±100V工况选用GI-SMUHP01，±60V场景采用GI-SMUMV04，高压隔离器件搭配GI-SMUHV01。浮动电源**电位，输入侧、输出侧可以施加不同电压电位，真实复现隔离芯片实际工作工况，精细测量隔离阻抗、隔离漏电流、信号传输增益、相位失真。搭配GI-WRTLF02高精度AWG产生低频模拟激励，GI-TMUHA04测量信号传输延迟。整套硬件可以搭建隔离芯片晶圆CP测试平台，也可以用于封装成品FT量产筛选。很多企业长期使用普通台式源表测试隔离器件，数据重复性差，难以满足工业芯片认证标准。国磊浮动SMU从硬件架构层面解决地环路干扰问题，测试精度明显提升。模块化方案灵活组合，帮助国产隔离模拟芯片企业搭建标准化测试平台，加速工业隔离芯片国产化替代进程。 杭州国磊半导体PXIe板卡DMUMS32板卡对标NI，与PXIe机箱完美匹配，构建高可靠性测试系统。

    传统测试方案波形发生器、数字化采集器相互独立，两块仪器占用更多机箱插槽，限制系统通道扩展，机箱空间紧张成为很多产线改造常见难题。杭州国磊推出一体化波形测试板卡GI-WRTLF02（高精度2AWG+2DGT）与GI-WRTHF04（高速4AWG+2DGT），单块板卡同时集成激励波形输出与信号采集功能，一块板卡完成以往两块硬件的工作，明显节省PXI机箱插槽资源。节省出的插槽可以扩展更多SMU、数字IO或者继电器通道，同等机箱空间下拓展更多测试能力。高精度型号适配传感芯片、模拟运放低频小信号测试；高速型号面向存储器件、功率器件脉冲动态测试。两款AWG板卡可和GI全系SMU、数字板卡自由搭配，搭建混合信号测试平台。对于机箱数量受限、厂房空间紧张的封测厂和实验室，一体化板卡是优化硬件布局的推荐方案。硬件集成并未**性能，波形失真、采样速率、带宽指标保持行业主流水准，同时简化机箱内部布线、供电结构，降低系统噪声干扰。依靠一体化硬件精简平台规模，帮助客户在有限场地内搭建更高通道规模的测试系统。12.杭州国磊半导体PXIe板卡测试流程可审计、可追溯，满足金融等领域对数据安全的严苛要求。广东PXI/PXIe板卡供应商

杭州国磊半导体PXIe板卡SMU系列对标NI板卡，可广泛应用于功率半导体、传感器、电源模块的研发与量产测试。国磊精密测试板卡

    车载安全MCU、动力域主控芯片满足ISO26262功能安全标准，建立保持时间、通讯时序、故障响应延迟、多路信号同步性等时序指标强制要求，普通数字板卡时序测量精度不足，无法满足车规严苛时序验证标准。杭州国磊GI-TMUHA04四路高精度时间测试板卡，皮秒级时序测量分辨率，可同步采集多路CAN、LIN、SPI车载通讯信号时序，精细捕捉微小时序偏差，验证芯片功能安全时序合规性；配套GI-DMUMS32集成数字板卡输出多路车载控制IO、高压VPP存储激励，同步完成MCU数字逻辑、电源域、存储功能全套测试。整套硬件组合完整覆盖车规MCU功能安全时序、电气参数、存储可靠性三大测试模块，可出具标准化时序测试报告，满足车规芯片认证资料要求。2026年国内车企自研车载芯片加速落地，第三方车规认证实验室、封测厂急需合规高精度时序测试硬件，进口车规时序测试设备交付周期长、软件封闭，国磊时序板卡测试数据格式可直接对接车规认证流程，底层驱动完全开放，支持企业自主开发功能安全测试程序。搭配三温测试箱体完成-40℃至125℃全温区时序漂移测试，GI-CBIT120继电器实现多颗芯片自动循环筛选，大幅提升车规MCU认证测试效率，降低车载芯片功能安全测试设备投入。 国磊精密测试板卡