功率类芯片国产化进程加快,工业电源、新能源相关器件对ATE测试提出高压大电流的严苛要求。普通量产设备板卡耐压、载流能力不足,做功率芯片测试容易出现通道损坏,甚至损伤待测芯片。科普,功率芯片测试不能只依靠软件保护,板卡硬件层面必须具备耐压防护、硬件过压过流切断机制,硬件保护优先级高于软件,保障设备与芯片安全。杭州国磊半导体G97‑X600测试机,大产能量产ATE平台,支持选配高压大电流**测试板卡。更换对应板卡,即可适配高压功率IC、大功率电源管理芯片量产FT、CP测试。硬件内置多级防护机制,降低测试过程烧毁风险,同时兼顾普通模拟芯片测试需求。设备并行测试能力强,优化测试节拍,压缩单颗芯片测试时长,降低量产测试成本。支持对接探针台、高低温箱,满足车规、工业芯片全温区测试需求。本土交付与售后,助力功率芯片企业搭建稳定可控的国产量产测试产线。 国磊 ATE 支持 BMS 电池管理模拟芯片全套车规测试,高压浮动板卡实现电芯采集均衡、充放电保护。广州PCB测试系统厂家直销

高校、科研院所的半导体实验室,经常需要做多类芯片课题实验,电源芯片、驱动器件、信号转换芯片都要做测试,但科研经费有限,很难采购多台ATE设备。科普,科研场景ATE不需要大产能并行,更看重设备灵活度,依靠可替换板卡,单台设备完成多种芯片实验验证,节约经费与场地。杭州国磊半导体G97‑S测试机,紧凑型桌面ATE,适配科研实验室场景。机身小巧,部署便捷,通过更换不同测试板卡,就可以完成各类模拟芯片样品实验测试,实现参数采集、失效现象复现、边界条件研究。设备操作门槛低,方便学生、科研人员上手使用,软硬件开放,支持二次开发,便于开展测试相关课题研究。本土售后提供技术指导,板卡按需选配,经费可以分步投入。用一台设备覆盖多类芯片科研测试需求,节约实验室经费与宝贵实验场地,是科研机构半导体测试工位的高性价比选择。 浙江高阻测试系统价位国磊G97-X200支持 pA 级微弱漏电、宽范围交直流参数,完美满足工业级、车规级模拟芯片高可靠性测试需求。

储能行业进入爆发期,工商业储能与户用储能装机量持续攀升,储能BMS主控芯片需要同时管理数十串甚至上百串电芯,测试涉及多通道电压采集、大电流均衡、高速通讯、复杂保护逻辑验证。很多储能BMS企业面临量产测试效率瓶颈:单颗BMS主控测试项目繁多,单工位测试时长达数十秒,产线吞吐能力不足;多串电芯模拟需要大量单独电压通道,通用ATE模拟通道数量不够,需要多台设备级联;大电流均衡测试对设备功率输出能力要求高,普通SMU无法提供足够电流。科普,储能BMS量产测试主要在于"多通道并行+大电流输出",电芯串数越多,需要的单独电压通道就越多,而均衡电流可达安培级,必须使用具备大电流输出能力的**板卡,同时通过多工位并行压缩测试节拍。杭州国磊半导体G97-X600大规模量产ATE平台,支持多组GI-SMUMV04四路±60VSMU板卡级联,可扩展至数十路单独电压通道,精细模拟多串电芯电压;搭配GI-DMUMS32数字板卡提供大电流DPS功率源输出,完成大电流均衡测试;GI-CBIT120120路继电器板卡实现多工位自动切换,大幅提升产线并行效率。更换不同板卡,即可适配储能BMS主控、AFE前端、电池保护IC等多品类储能芯片,帮助储能企业建立高吞吐、可扩展的量产测试产线。
物联网终端设备爆发式增长,低功耗MCU、蓝牙SoC、NB-IoT芯片对静态功耗、待机电流、睡眠电流要求达到nA级,设备需要在芯片多种工作模式间快速切换并精细测量微安甚至纳安级电流。很多物联网芯片企业面临功耗测试难题:普通SMU模块小电流测量分辨率不足,nA级睡眠电流测量误差大,无法准确评估芯片低功耗性能;芯片在工作、睡眠、深度睡眠模式间快速切换,电流变化跨度达数个数量级,普通设备量程切换慢,无法捕捉瞬态电流波形;进口低功耗**测试设备价格昂贵。科普,物联网低功耗芯片测试主要在于"宽量程快速切换+nA级电流分辨率",芯片不同工作模式电流差异可达6个数量级以上,设备必须支持自动量程快速切换,且**小量程分辨率达到nA级,才能准确测量深度睡眠电流,这直接决定物联网终端电池续航能力。杭州国磊半导体GI-SMUBV044路精密浮动±10V源测量模块,毫伏级电压、纳安级电流测量分辨率,极低本底噪声,专为低压低功耗芯片静态功耗、待机电流、睡眠电流测试设计,四路单独通道可同步对比多颗芯片功耗一致性。搭载于G97-S紧凑型桌面ATE,支持自动量程快速切换,可捕捉芯片模式切换瞬间的瞬态电流波形,完整绘制芯片功耗模式曲线。更换不同板卡。 国磊 ATE 完整覆盖 DAC 数模转换芯片量产测试,纯净波形激励源可输出多频段标准信号。

DDI显示驱动芯片负责屏幕Gamma电压、灰阶、Vcom基准电压输出,终端点灯画面质量直接由芯片参数决定,ATE测试需要同步输出多通道高精度模拟电压,联动点灯治具验证画面灰阶、色彩均匀性,多通道电压同步性是测试精细度主要指标。普通模拟ATE多通道电压输出同步性差,通道间压差超标,点灯测试出现色彩失真、灰阶跳变误判;设备与点灯治具配套兼容性差,通讯卡顿频繁中断自动化流程;量产长时间满载运行后模拟通道温漂增大,批量测试参数离散度升高;进口DDI**测试设备价格昂贵,中小屏厂、封测厂采购预算不足;设备故障后海外售后响应周期7-15天,产线长期停机造成订单延误。G97-X200搭载高密度同步模拟输出板卡,多通道电压同步输出误差<,完美匹配Gamma、Vcom高精度测试需求;预留标准化点灯治具通讯接口,一键联动自动点灯校验灰阶、色彩均匀度,全程无人值守;全通道主动恒温散热设计,24小时连续量产温漂稳定可控;杭州总部建立完整备件仓,故障报修后4小时内本地工程师上门检修,比较大限度压缩停机时长;软硬件全流程适配手机OLED、LCD、车载大屏全品类DDI芯片,采购及维保综合成本只进口设备一半,兼顾消费电子量产与车规严苛品质管控标准。国磊G97-X200:通用模拟混合信号平台,覆盖运放、LDO、DAC、电源 IC、传感器。长沙PCB测试系统按需定制
国磊处理器测试平台内置128M 向量存储深度,适配 MPU 逻辑功能测试,定位时序违规、运算异常等隐性缺陷。广州PCB测试系统厂家直销
车规级模拟芯片需求持续上涨,车规器件对测试一致性、温漂控制要求严苛,很多现有设备板卡温漂大,高低温条件下测试数据波动,无法满足AEC‑Q100相关验证需求。科普,车规芯片测试,板卡元器件选型、屏蔽设计、温度补偿算法缺一不可,微小温漂就会造成参数误判,带来严重质量隐患。杭州国磊半导体G97‑X300测试机,工程与中批量量产ATE,支持选配车规优化版本测试板卡。更换对应板卡,就可以完成车规电源、驱动IC的常温与高低温环境测试,对接高低温箱完成全温度区间参数验证。设备通道一致性优异,长时间运行数据稳定,降低误判漏判风险。全系列统一软件,工程师学习成本低,本土备件供货快,减少产线停机。既可以完成车规芯片研发验证,也可以承接中等规模量产筛选,助力国内企业车规模拟芯片国产化落地,为工业、汽车领域芯片提供可靠国产ATE硬件支撑。 广州PCB测试系统厂家直销