上海PCB测试系统工艺

    国磊全系列ATE设备具备极强的场景通用性与产品适配性，可通用覆盖消费电子、工业控制、新能源汽车、云端算力、医疗电子、智能传感、物联网七大主要半导体应用领域，适配全品类半导体芯片测试需求。单台设备可灵活切换通用模拟芯片、电源管理芯片、数模混合SoC、MCU/MPU处理器、AI算力芯片、医疗高精度芯片、车规芯片等多品类测试方案，彻底解决传统设备品类单一、适配场景有限的问题，大幅提升企业产线设备利用率。针对消费电子侧重低成本、高效率量产的需求，可实现高速批量测试；针对车载、医疗领域侧重高精度、高可靠性、可追溯的需求，可满足严苛的测试标准与可靠性要求；针对工业、算力领域侧重高稳定性、复杂工况适配的需求，可完成全场景应力测试与性能验证。一机多用、全场景适配的主要优势，让设备适配企业多元化产品布局与多领域业务拓展需求。 国磊 ATE 完整覆盖 DAC 数模转换芯片量产测试，纯净波形激励源可输出多频段标准信号。上海PCB测试系统工艺

    电源类混合信号芯片是现代电子系统的能源心脏和控制神经，他们构成了数字世界的底层基石，也构筑着一个国家在技术**和产业安全方面的生命线。从通信到汽车行业，它们都担当着产业升级的关键赋能者和能源效率**的推动者这样的双重角色。其中，PMIC和BMS芯片通常是系统里能源转换和分配的**担当，起到了不可或缺的作用。PMIC芯片的作用在于为SoC、CPU、内存等关键器件提供精细、高效的供电方案，直接影响整个系统的性能和续航时间；而BMS芯片，作为电动汽车或者储能系统的“电池大脑”，管理着系统的充放电安全、系统寿命和续航时间。另一方面，驱动类芯片和Charger芯片构成了系统里智能化控制的执行枢纽。驱动类芯片构建起了数字世界和真实物理世界之间的接口，将数字化的指令转化为实际的物理动作；而Charger芯片通过实现快充协议握手和电能高效传输，日益成为用户体验的关键环节。虽然电源类混合信号芯片的应用场景不同，但在ATE测试中，它们面临着一系列高度重叠的**挑战：高精度、高动态范围的模拟参数测试，包括电压、电流、功率、效率等。因而，它们对ATE的精密测量单元和电源模块的精度、稳定性和噪声水平提出了较高的要求。 国产替代CAF测试系统参考价国磊G97-ADC 覆盖研发验证→小批量试产→大规模量产，高精度、模块化、低成本替代，价格海外设备 1/3 左右。

    国磊GT600ATE通用适配8位、32位通用MCU单片机的全功能测试需求，覆盖消费电子、智能家居、物联网、小家电等全场景通用MCU，构建了一站式、自动化、高性价比的量产测试体系。设备可完整测试MCU芯片内核逻辑运算功能、片上存储读写性能、片上ADC/DAC模拟模块精度、多路电源域供电稳定性，同时全覆盖GPIO、SPI、I2C、PWM、串口等所有外设接口的功能与时序测试。内置BIST自检测试模块，可快速完成芯片存储、逻辑电路的自诊断测试，精细定位硬件缺陷。针对量产场景，设备支持多Site并行测试与自动化流程运行，可一键完成芯片全参数测试、不良品筛选、数据记录归档，大幅提升MCU量产测试效率。针对研发场景，可精细捕捉芯片逻辑漏洞、外设异常、模拟参数漂移、电源稳定性不足等问题，为MCU性能优化、方案迭代提供精细数据支撑。设备操作简洁、适配性广、运维成本低，是通用MCU芯片企业研发与量产的主要标配测试装备。

    国磊半导体实现ATE设备整机硬件、主要测试板卡、操作软件、测试算法多角度自研自产，区别于行业组装式设备，具备更强的产品稳定性、定制化能力与售后保障能力，可为芯片设计企业、封测厂商、终端整机企业提供一站式测试解决方案。企业可享受设备整机一体化交付、测试方案定制开发、产线适配调试、员工技术培训、设备运维升级的全链条本地化服务。针对客户个性化芯片测试需求，可快速完成硬件改造、软件定制、方案优化，灵活适配各类新型芯片、特殊工况、专属产线的测试要求。本地化售后团队可实现快速响应、现场调试、故障排查、定期维保，彻底解决进口设备售后响应慢、运维成本高、定制难度大的痛点。从前期方案对接、中期设备落地、后期运维迭代，多角度为客户解决芯片测试落地难题，助力客户快速实现芯片研发迭代与规模化量产。 国磊G97-ADC 可导出 STDF、CSV 标准测试报告，可对接分选机、探针台全自动 CP/FT 产线。

    国磊GT600ATE具备强的硬件扩展能力，比较高可扩展2048路高速数字管脚，搭配数百路高精度模拟激励与采集资源，构建了大吞吐量、高并行的混合信号SoC量产测试体系，专为多媒体处理、AI视觉、智能控制等复杂数模混合SoC大批量量产场景打造。设备支持多Site并行同步测试，可同时完成数十至上百颗混合信号芯片的数字逻辑、模拟性能、接口时序、电源功耗等全参数测试，相较于传统单路测试设备，量产测试效率提升数倍，大幅降低单颗芯片的测试成本，完美适配芯片企业规模化量产降本需求。同时设备搭载智能测试调度算法，可自动优化测试流程、规避通道干扰，保障多工位并行测试时的参数测量精度，杜绝并行测试带来的串扰、误差问题。兼容晶圆CP探针测试、封装成品FT测试全流程，搭配自动化产线对接模块，可实现无人值守全自动量产测试，是中高精混合信号SoC规模化量产的比较好测试方案之一。 国磊 ATE 可分段采集芯片待机、推理、训练多阶段动态功耗曲线，量化分析多级电源域，优化端侧设备续航性能。GEN3 AUTOCAF测试设备研发

针对传感器信号调理模拟芯片，国磊 ATE 可自定义生成工业杂波、电磁干扰波形，滤波电路抗干扰能力。上海PCB测试系统工艺

    针对AI端侧设备、智能穿戴、物联网微型终端搭载的低功耗微型模拟芯片，国磊ATE采用全浮动源架构设计，从硬件底层解决传统测试设备地回路干扰、漏电测量不准的痛点，实现行业前列的微弱信号与低功耗测试能力。设备可精细实现nA级静态漏电流、微瓦级动态功耗的高精度测量，多角度捕捉微型模拟芯片待机、工作、休眠全状态的功耗数据，精细排查微小漏电、功耗异常等隐性缺陷，助力芯片研发团队优化低功耗架构，比较大化提升终端设备续航能力。同时设备可精细测试微型芯片的信号精度、噪声系数、线性度等主要性能参数，适配微型运放、低功耗基准源、微型信号调理芯片等器件的测试需求。支持低压小信号专项测试模式，可模拟终端设备低电压工作工况，验证芯片低压启动、低压稳定运行能力。无论是研发阶段的性能精细化表征，还是量产阶段的低功耗参数批量筛选，都能精细适配，通用满足轻量化、低功耗智能终端的芯片测试标准。上海PCB测试系统工艺