面向自动驾驶域控制器、车载中控、车身控制等场景的车规级MPU主控芯片,国磊ATE严格按照AEC-Q100车规测试标准,打造了高可靠、可追溯的专业化测试方案,完美适配车载芯片严苛的测试与品质要求。设备支持高低温全温区联动测试,可模拟车载-40℃~125℃极端温度工况,验证MPU芯片在高低温环境下的模拟采集精度、数字总线通信稳定性、电源域保护逻辑、时序运算准确性。可同步测试车载MPU多路模拟信号采集、高速数字接**互、功耗控制、故障自检、异常保护等主要功能,多角度排查车载工况下芯片容易出现的参数漂移、通信失效、运算异常、保护失灵等安全隐患。同时设备具备完整的测试数据全程记录、分类归档、溯源管理能力,可满足车规芯片终身品质追溯的行业要求。自动化标准化测试流程,可适配车规MPU小批量研发验证与大批量量产筛选,为车载主控芯片国产化替代筑牢品质测试防线。 国磊GT600:SoC/HBM 车规级全功能 ATE,超大通道、超高并行,面向复杂数模混合大芯片。南京导电阳极丝测试系统厂家直销

国磊G97-S桌面紧凑型ATE专为芯片设计实验室研发验证、芯片性能对标测试场景打造,轻量化机身集成全套高精度模拟测试资源,兼顾便携性与专业级测试精度,完美适配中小规模设计公司、实验室的芯片研发需求。设备搭载与高精量产机型同源的高精度SMU、AWG、采集单元,可精细完成各类通用模拟芯片、小型信号链芯片的参数表征、性能调试、缺陷定位工作,覆盖失调、增益、噪声、线性度、功耗等全主要参数测试。主要优势在于支持国产模拟芯片与TI、ADI等海外进口同类芯片的横向对标测试,可输出量化、精细的性能对比数据,助力研发人员精细定位国产芯片性能差距,针对性优化电路设计、迭代产品方案,大幅缩短国产模拟芯片研发迭代周期。设备操作简洁、部署灵活,无需复杂产线配套,开机即可测试,同时支持测试方案快速迭代,可灵活适配各类新型模拟芯片的研发测试需求,是国产模拟芯片技术突破、进口替代的轻量化主要装备。 高性能GEN测试系统批发国磊G97-ADC GI-SMU 系列浮动源表:±40V 中压 / 1000V 高压多版本,四象限精密源测,纳安级漏电检测。

针对SAR、Sigma-Delta、Pipeline等全架构ADC模数转换芯片,国磊G97-ADC ATE搭载24bit超高精度高速Digitizer采集单元与ps级时序测量模块,构建了全套专业化、高精度测试体系,完美适配AI感知、工业传感、车载信号采集等**场景ADC测试需求。设备可一站式完成ADC芯片**性能参数测试,涵盖积分非线性、微分非线性、信噪比、总谐波失真、无杂散动态范围、采样抖动、通道串扰、建立时间等全维度指标,解决了传统仪器测试参数零散、精度不足、时序校准不准的问题。依托**失真激励输出能力,可输出纯净标准测试波形,规避激励信号杂波导致的测试误差,精细还原芯片真实转换性能。同时支持多通道同步采样测试,可有效验证多传感器融合场景下ADC的信号同步性与一致性,助力企业快速排查芯片失真、采样偏移、噪声异常等隐性问题,大幅提升**ADC芯片的研发效率与量产良率,成为国产高精度ADC芯片国产化替代的**测试支撑。
国磊数模混合ATE搭载自研开放式GTFY智能编程软件平台,摒弃传统测试设备封闭化系统弊端,支持C++语言二次开发与自定义测试方案搭建,具备极强的灵活性与扩展性,可快速适配各类新型异构、堆叠、数模混合芯片的前沿测试需求。针对AI芯粒、光电集成芯片、新型混合信号SoC等迭代速度快、测试需求个性化强的芯片品类,工程师可基于平台内置的标准化测试模板,快速修改、迭代、定制专属测试程序,无需依赖设备原厂开发,大幅缩短新芯片测试方案落地周期。软件支持测试参数自定义配置、测试流程自由编排、失效机制精细定位,可深度适配研发阶段精细化调试、问题定位与量产阶段标准化批量测试。同时系统兼容主流测试数据格式,可无缝对接企业MES、品质管理系统,实现测试数据智能化管理。依托开放式架构,设备可长期适配芯片技术迭代,避免设备快速淘汰,极大提升企业设备投资回报率。 国磊G97-ADC不同槽位可以插入所有类型的板卡,以极大的系统配置灵活性,充分满足各类ADC芯片的测试需求。

针对AI端侧设备、智能穿戴、物联网微型终端搭载的低功耗微型模拟芯片,国磊ATE采用全浮动源架构设计,从硬件底层解决传统测试设备地回路干扰、漏电测量不准的痛点,实现行业前列的微弱信号与低功耗测试能力。设备可精细实现nA级静态漏电流、微瓦级动态功耗的高精度测量,多角度捕捉微型模拟芯片待机、工作、休眠全状态的功耗数据,精细排查微小漏电、功耗异常等隐性缺陷,助力芯片研发团队优化低功耗架构,比较大化提升终端设备续航能力。同时设备可精细测试微型芯片的信号精度、噪声系数、线性度等主要性能参数,适配微型运放、低功耗基准源、微型信号调理芯片等器件的测试需求。支持低压小信号专项测试模式,可模拟终端设备低电压工作工况,验证芯片低压启动、低压稳定运行能力。无论是研发阶段的性能精细化表征,还是量产阶段的低功耗参数批量筛选,都能精细适配,通用满足轻量化、低功耗智能终端的芯片测试标准。国磊G97-ADC G97-H(72 槽)高并行大规模量产产线,多 site 并行测试,降低单颗芯片测试成本。湖州PCB测试系统哪家好
国磊G97-ADC 全系 PXIe 总线架构,槽位通用、板卡互通,方案可无缝迁移。南京导电阳极丝测试系统厂家直销
在AI智能感知、工业物联网、自动驾驶场景中,传感器信号调理模拟芯片的抗干扰能力直接决定终端设备识别精度,国磊ATE针对性打造了闭环抗干扰测试体系,完美适配各类传感放大、滤波、信号调理芯片测试。设备支持自定义生成工业电磁干扰、高频杂波、电压波动、环境噪声等各类干扰波形,可多角度模拟工业现场、车载环境、户外场景的复杂电磁环境,真实还原芯片实际工作工况。通过闭环测试模式,精细验证信号调理芯片的信号放大精度、滤波降噪能力、抗干扰稳定性、信号失真控制效果,有效排查干扰环境下芯片信号偏移、噪声放大、波形失真等问题,从源头降低AI视觉、毫米波雷达、温度压力传感器等终端设备的识别误判、数据异常风险。设备可精细测量微弱传感信号的采集与调理精度,适配低功耗、高精度传感芯片的研发迭代,同时支持量产阶段抗干扰性能批量筛选,保障终端感知设备的稳定性与精细度,助力工业AI、智能传感产业高质量发展。 南京导电阳极丝测试系统厂家直销