CAF测试系统行价

杭州国磊半导体设备有限公司推出的GM8800导电阳极丝（CAF）测试系统是实现**绝缘材料与PCB可靠性评价国产化的关键设备。该系统具备强大的多通道并发测试能力，**多可支持256个测试点同步施加偏置电压并监测其绝缘电阻变化，电阻测量范围覆盖10^6Ω至10^14Ω，能够精细捕捉因离子迁移导致的微小漏电流与电阻劣化趋势。GM8800提供从1.0V到3000V的宽范围测试电压，内置电源精度高达±0.05V，并支持外接高压源以满足更严苛的测试条件，其电压上升速率快至100V/2ms，且测试电压稳定时间可在1~600秒间灵活设置，确保测试条件的准确性与重复性。系统集成温湿度监测模块，并结合低阻、电压超限、断电、软件异常等多重报警机制，***保障测试过程的安全与数据的有效性。相较于英国GEN3设备，GM8800不仅在**性能参数上实现对标，更在通道数量、数据采集速度以及本土化定制服务方面展现出明显优势，其极具竞争力的价格策略使其成为国内集成电路封装、新能源汽车电控单元、光伏逆变器以及**通信设备制造商进行绝缘可靠性验证与质量控制的理想选择，有力推动了国内**测试仪器的自主可控进程。国磊GT600SoC测试机DPS板卡支持动态Force输出，可用于HBM电源上电时序（PowerSequencing）验证。CAF测试系统行价

每一部智能手机的**都是一颗名为SoC的“超级大脑”。以苹果为例，每一代iPhone都搭载自研的A系列或M系列芯片（如A18、M4）。这颗芯片集成了CPU、GPU、NPU、ISP、基带、内存控制器等数十个模块。但这颗芯片在量产前，必须经历SoC测试机成千上万次的测试。比如功能验证：检查芯片的每一个逻辑门是否正常工作。当你用iPhone拍照时，ISP是否能正确处理图像？A18芯片的NPU是否能准确识别人脸？国磊GT600芯片测试机会模拟各种使用场景，输入测试向量，验证输出结果。性能筛选：国磊GT600SoC芯片测试机会进行速度分级测试，将芯片分为不同等级。只有通过最高速度测试的芯片，才会被用于旗舰机型。功耗与漏电检测：手机续航至关重要。国磊GT600芯片测试机的PPMU能精确测量芯片的静态电流（Iddq），确保待机时不“偷电”，避免手机“一天三充”。可靠性保障：在极端温度、电压下运行芯片，筛选出可能早期失效的“弱鸡芯片”。国磊GT600芯片测试机支持老化测试，确保每一颗装进iPhone的芯片都经得起长期使用。混合信号测试：现代SoC不仅有数字电路，还有大量模拟模块（如音频编解码、电源管理）。国磊GT600芯片测试机可选配AWG和TMU，精确测试这些模拟功能，确保通话清晰、充电稳定。国磊导电阳极丝测试系统制作坚持创新，持续为客户创造价值是我们的价值观。

杭州国磊半导体设备有限公司自主研发的GM8800多通道绝缘电阻测试系统**了国内在电化学迁移与绝缘可靠性测试领域的比较高水平。该系统凭借其256通道的强大并行处理能力，可在8秒内完成全部测点的扫描与电阻运算，单通道测试时间低于15ms，支持10^4~10^14Ω的超宽阻值检测，并可根据用户设定进行1~600分钟可自由配置的测试间隔，**长持续测试时间高达9999小时，满足包括IPC-TM-650 2.6.25在内的多项国际标准对CAF试验的严苛要求。GM8800集成高精度电压输出与传感单元，提供0.01V@0-100V、0.1V@100-500V、1V@500-3000V的步进调节精度，配合±0.05V（≤100VDC）与±0.5V（>100VDC）的电压精度，确保测试条件的高度稳定与可重复。系统实时监测电流、温度、湿度等多维度参数，并通过完全屏蔽的低噪声线缆传输信号，有效保障了测量结果的准确性与抗干扰能力。面向新能源汽车、储能系统、**消费电子等快速增长的市场，GM8800在性能上可比肩甚至超越英国GEN3产品，同时凭借更低的采购成本、更便捷的本土服务与技术支持，正助力越来越多中国企业加速实现**测试仪器的自主可控与进口替代。

杭州国磊半导体设备有限公司GM8800多通道绝缘电阻测试系统是专为应对复杂电化学迁移现象而研制的高精度分析仪器。该系统以16通道为基本单元，可灵活扩展至256通道，实现大规模并行测试，***提升测试效率，其电阻测量范围宽至10^4~10^14Ω，测量精度根据区间不同控制在±3%至±10%的高水准。GM8800支持0V~±100V内置精密电压源与1V~3000V外置偏置电压的无缝切换，步进电压可精细至0.01V，并具备100V/2ms的快速电压爬升能力，能够精确模拟各种实际工作电压应力，有效加速绝缘材料的劣化过程以便于观察CAF效应。系统数据采集功能***，实时记录采样时间、运行时间、电阻值、电流值、施加电压、环境温度与湿度，并通过功能强大的软件平台进行数据处理与趋势分析，用户还可通过远程监控功能实时掌握测试状态。相比进口品牌如英国GEN3，GM8800在提供同等甚至更优测试性能的同时，凭借其更低的购置成本、更快的售后响应速度以及深度定制化能力，完美契合国内PCB板厂、半导体封装厂、学术研究机构及第三方检测实验室对高性能、高性价比CAF测试设备的迫切需求，是国产**测试装备实现进口替代的典范之作。国磊GT600SoC测试机有灵活的硬件配置和开放的软件平台，适配多种工艺节点、封装形式和功能架构的SoC。

杭州国磊半导体设备有限公司深刻洞察国内产业对CAF测试装备的迫切需求，成功研发了GM8800导电阳极丝（CAF）测试系统。该系统具备强大的256通道并行测试能力，电阻测量范围高达10^14Ω，测量精度优异，能够精细评估PCB内部、封装材料、基板等在不同偏压和湿热条件下的绝缘电阻变化趋势，有效预警因导电阳极丝生长导致的短路风险。GM8800提供高度灵活的电压输出配置，内置精密源表单元（0V~±100V），外接偏置电压可达3000V，电压控制精度高，上升速度快，且测试电压稳定时间可自由设定（1~600秒），完美适配各种加速测试方案。系统***集成数据采集功能，实时记录时间、电阻、电流、电压、温度、湿度等参数，并通过专业软件进行自动化数据分析和可视化展示，支持远程监控功能。其设计注重安全与可靠性，配备多层次报警系统（低阻、停机、环境参数、电源、软件状态）和断电保护机制。与英国GEN3等进口产品相比，GM8800在**性能指标上达到国际先进水平，同时拥有更优的通道性价比、更低的运维成本和更便捷的本土化服务支持，已成为国内**的PCB制造商、芯片封装厂、汽车电子供应商及科研机构进行产品可靠性研究与品质管控的可靠伙伴，助力中国智造迈向新高。国磊GT600在400MHz速率下测试SerDes、GPIO、I2C、SPI、UART等接口的通信功能完成高速接口功能验证。高性能CAF测试系统研发公司

国磊半导体，推动测试技术的进步与创新。CAF测试系统行价

“风华3号”兼容DirectX、OpenGL、Vulkan等主流图形生态，其图形管线包含顶点处理、光栅化、着色器执行等复杂阶段，测试需覆盖多种渲染模式与状态转换。国磊GT600测试机支持C++编程与VisualStudio开发环境，便于实现定制化图形功能测试算法，如Shader指令序列验证、Z-Buffer精度测试、纹理映射完整性检查等。其128M向量响应存储深度可捕获长周期图形输出行为，支持对帧率稳定性、画面撕裂等异常进行回溯分析。国磊GT600测试机还支持STDF、CSV等标准数据格式输出，便于良率追踪与测试数据与EDA仿真结果的对比验证。CAF测试系统行价