杭州辐照度测量系统欢迎选购

Brolight博源光电生产的测量系统产品包括：【BIX-8801,LD/LED光源测量系统】应用于激光二极管测试研究;垂直腔面发射激光器测试;单波长发光二极管测试;宽带光源光谱特性测试研究。【BIX-8805,辐照度测量系统】应用于紫外标准检测计量;LED光辐射安全测量;植物生长/PAR/植物光生物学;紫外线固化系统的表征;光稳定性测量;光谱反射率/吸光度/透过率测量;荧光测量。【SIX-8001,红外辐射测量系统】应用于电路板热分析；微米级元器件检测；材料应力温升分析；化学反应温度分析；化工工艺温度监测。【BIX-8811,反射率测量系统】应用于物质/材料的镜面反射测量；物质/材料的漫反射测量；物质/材料的颜色测量。【BIX-8812,透过率测量系统】应用于滤光片的衰减性能测量；玻璃等材料的透光性能测量；材料对特定波长的吸收性能测量。【BIX-8813,吸光度测量系统】应用于物质的吸光度测量研究、浓度的定量测量、吸收特性测量分析。【BIX-8814,荧光测量系统】应用于生化领域组分分析荧光测量；医药领域的定量分析测量；矿物材料等的荧光光谱特性测量。【BIX-8815,拉曼测量系统】应用于珠宝、文物贵重物品鉴定;药品成分检测分析;瓜果蔬菜等食品快速检测;化工环保监察监测。吸光度测量系统，基于朗伯比尔定律，分析物质对光吸收，科研化学分析不可或缺。杭州辐照度测量系统欢迎选购

Brolight杭州博源光电科技有限公司专业生产测量系统：BEX-8210组合式光栅单色仪实验装置是一款开放的组合式光栅单色仪实验装置。装置包含全套的光源、狭缝、镜片、光栅、固定结构等光机配件，方便学生直观了解光栅光谱仪和单色仪的光路组成及区别，并可通过实际装调深入理解光栅光谱仪和单色仪的工作原理。系统搭建的经典C-T（Czerny-Turner）结构，由于其灵活性、紧凑性和相对较小的像差，广泛应用于大多数商用光谱仪。基于实验装置标配的手动转台和出射狭缝，通过调节转台上光栅角度，就可在出射狭缝后获得特定波长单色光。如果选配光电探测器配合测试，还可以测绘出光源的光谱分布图。【特征】：1、经典的Czerny-Turner光路结构，贴合应用。2、既能进行光栅光谱仪实验，也可进行单色仪实验。3、可扩展实现光源光谱分布测量。4、既可以进行教学实验，也可以进行科研实验。【实验】：1、光栅光谱仪的光路调节及色散现象。2、光栅单色仪的调节与波长选择。3、光源发射光谱的分布测量。4、固态样品透过率测量。杭州辐照度测量系统欢迎选购SIX-8001红外辐射测量系统特点：桌面在线式设计，可调焦式设计，镜头分辨力50微米，热显微成像。

Brolight生产的CRS-900X激光加热过程材料特性测量系统是专门针对材料研究客户打造的一类开放性、可配置的研究工具系统。系统提供了：加热单元激光器（功率、波长、脉冲/连续等）、运动单元（位移台、光束扫描振镜等）、监控单元（高温计、可见光相机、红外相机）、物质特性单元（高温拉曼光谱等）。通过激光加热过程或维持某个特定的温度下，通过测量单元实时监控和采集材料过程特性变化数据，在平台化软件的帮助下，可以对多传感数据进行同步分析，了解各参数间的内在关联，并反向指导工艺参数的优化改进。【应用】：相变研究；热降解分析；激光-材料相互作用研究；加工-结构-性能关联性分析。【特点】：实时监测激光加热过程中的材料特性变化；多传感器数据同步与分析；基于参数反馈的闭环工艺优化。

博源光电的测量系统产品型号：【BIX-8801,LD/LED光源测量系统】应用于激光二极管测试研究;垂直腔面发射激光器测试;单波长发光二极管测试;宽带光源光谱特性测试研究。【BIX-8805,辐照度测量系统】应用于紫外标准检测计量;LED光辐射安全测量;植物生长/PAR/植物光生物学;紫外线固化系统的表征;光稳定性测量;光谱反射率/吸光度/透过率测量;荧光测量。【SIX-8001,红外辐射测量系统】应用于电路板热分析；微米级元器件检测；材料应力温升分析；化学反应温度分析；化工工艺温度监测。【BIX-8811,反射率测量系统】应用于物质/材料的镜面反射测量；物质/材料的漫反射测量；物质/材料的颜色测量。【BIX-8812,透过率测量系统】应用于滤光片的衰减性能测量；玻璃等材料的透光性能测量；材料对特定波长的吸收性能测量。【BIX-8813,吸光度测量系统】应用于物质的吸光度测量研究、浓度的定量测量、吸收特性测量分析。【BIX-8814,荧光测量系统】应用于生化领域组分分析荧光测量；医药领域的定量分析测量；矿物材料等的荧光光谱特性测量。【BIX-8815,拉曼测量系统】应用于珠宝、文物贵重物品鉴定;药品成分检测分析;瓜果蔬菜等食品快速检测;化工环保监察监测。科研光通信研究，辐照度测量系统优化光信号传输强度，提升通信质量。

杭州博源光电科技有限公司专业提供测量系统产品：【BIX-8801,LD/LED光源测量系统】应用于激光二极管测试研究;垂直腔面发射激光器测试;单波长发光二极管测试;宽带光源光谱特性测试研究。【BIX-8805,辐照度测量系统】应用于紫外标准检测计量;LED光辐射安全测量;植物生长/PAR/植物光生物学;紫外线固化系统的表征;光稳定性测量;光谱反射率/吸光度/透过率测量;荧光测量。【SIX-8001,红外辐射测量系统】应用于电路板热分析；微米级元器件检测；材料应力温升分析；化学反应温度分析；化工工艺温度监测。【BIX-8811,反射率测量系统】应用于物质/材料的镜面反射测量；物质/材料的漫反射测量；物质/材料的颜色测量。【BIX-8812,透过率测量系统】应用于滤光片的衰减性能测量；玻璃等材料的透光性能测量；材料对特定波长的吸收性能测量。【BIX-8813,吸光度测量系统】应用于物质的吸光度测量研究、浓度的定量测量、吸收特性测量分析。【BIX-8814,荧光测量系统】应用于生化领域组分分析荧光测量；医药领域的定量分析测量；矿物材料等的荧光光谱特性测量。【BIX-8815,拉曼测量系统】应用于珠宝、文物贵重物品鉴定;药品成分检测分析;瓜果蔬菜等食品快速检测;化工环保监察监测。透过率测量系统，借助光传播特性，测量光线透过物质程度，在光学镜片制造应用多。杭州辐照度测量系统欢迎选购

红外辐射测量系统在工业设备故障诊断中，通过检测异常热辐射，快速定位问题。杭州辐照度测量系统欢迎选购

Brolight杭州博源光电科技有限公司专业提供测量系统：BEX-8210组合式光栅单色仪实验装置是一款开放的组合式光栅单色仪实验装置。装置包含全套的光源、狭缝、镜片、光栅、固定结构等光机配件，方便学生直观了解光栅光谱仪和单色仪的光路组成及区别，并可通过实际装调深入理解光栅光谱仪和单色仪的工作原理。系统搭建的经典C-T（Czerny-Turner）结构，由于其灵活性、紧凑性和相对较小的像差，广泛应用于大多数商用光谱仪。基于实验装置标配的手动转台和出射狭缝，通过调节转台上光栅角度，就可在出射狭缝后获得特定波长单色光。如果选配光电探测器配合测试，还可以测绘出光源的光谱分布图。【特征】：1、经典的Czerny-Turner光路结构，贴合应用。2、既能进行光栅光谱仪实验，也可进行单色仪实验。3、可扩展实现光源光谱分布测量。4、既可以进行教学实验，也可以进行科研实验。【实验】：1、光栅光谱仪的光路调节及色散现象。2、光栅单色仪的调节与波长选择。3、光源发射光谱的分布测量。4、固态样品透过率测量。杭州辐照度测量系统欢迎选购