SKYSCAN1272SampleDimensionsMµm):2mm(insideFOV)/5mm(truncated)Largestrepresentativesamplediameterforvarioussamplesat100kVGeomaterials:20mmRocksamplesupto10mmgivegoodresults.Metals:5mmElectronics:10–20mmMetalparts(highdensity)requireverylongmeasuringtimesifadecentresolutionisneededLow-densematerials:40mmScannedat50kVPixelsize:0.85µmObservationoftheindividualfibersColor-codedbytheorientationangleD配备基于全新的6 MP大尺寸平板探测器,具有更大的动态范围,实现更高的对比度。重庆电子三维模型显微CT哪里好
SKYSCAN2214是布鲁克推出的新纳米断层扫描系统,是显微CT技术领域的先行者,在为用户带来了终级分辨率的同时,提供非常好的用户体验。SKYSCAN2214的每个组件都融入的新的技术,使其成为当今市场上性能很强、适用性很广的系统。•多用途系统,样品尺寸可达300mm,分辨率(像素尺寸)可达60纳米•金刚石窗口x射线源,焦斑尺寸<500nm•创新的探测器模块化设计,可支持4个探测器、可现场升级。•全球速度很快的3D重建软件(InstaRecon®)。•支持精确的螺旋扫描重建算法。•近似免维护的系统,缩短停机时间并降低拥有成本。重庆电子三维模型显微CT哪里好封闭式X射线管支持全天候工作,不存在因更换破损的灯丝而停机的情况,为您节约大量时间和成本。
超高速度、质量图像SKYSCAN1275专为快速扫描多种样品而设计。该系统采用一个功能强大的广角X射线源(100kV)和高效的大型平板探测器,可以轻松实现大尺寸样品扫描。由于X射线源到探测器的距离较短以及快速的探测器读出能力,SKYSCAN1275可以显著提高工作效率——从几小时缩短至几分钟,并保证不降低图像质量。SKYSCAN1275如此迅速,甚至可以实现四维动态成像。Push-Button-CT™让操作变得极为简单您只需选择手动或自动插入一个样品,就可以自动获得完整的三维容积,无需其他操作。Push-Button-CT包含了所有工作流程:自动样品尺寸检测、样品扫描、三维重建以及三维可视化。选配自动进样器,SKYSCAN1275可以全天候工作。
BrukerMicro-CT提供完整的分析软件包,涵盖CT分析所需的所有软件,并可长久free升级。§系统控制和数据采集软件系统控制软件用于控制设备、设定参数并获得X-射线图像以进行后续的三维重建。它包括光源和探测器的控制,获取阴影图像以及一系列可用于重建的不同角度投影图像。采集参数的控制(多种采集策略可选),以获得比较好的采集效果。同时也包括待测样品的控制(通过样品台的自由度),以及样品腔内光学相机的控制,以便于将样品调整至比较好位置,并开始所有以下的重建和后处理程序。整个过程完全可以通过易于使用的图形化用户界面来完成。XRM可用于微米大小的片上期间、完整的电路板和组装完整的产品可视化。
主要特点及技术指标:§很大程度上保护样品:无需制备样品,无损三维重现§对样品的细节检测能力(分辨率)比较高可达:450nm§比较大扫描样品直径:75mm;比较大扫描样品长度:70mm§自动可变扫描几何系统:根据用户设定的放大倍率,仪器可自动优化扫描几何,找到快的测试方案,用短时间,得到高质量数据§全新的100kV度微焦斑X射线光源,提供更高的光通量和更好的光束稳定性,完全免维护§全新的1100万像素CCD探测器,4000x2670像素,大面积、高灵敏度,1:1偶合无束锥比§6位自动滤片转换器,针对不同样品,可自由选择不同能量,以得到比较好化的实验条件§集成的高精度微调样品台可方便系统获得样品,尤其是小样品的比较好位置§样品腔内置500万像素彩色光学相机可更方便地实时观察样品位置,并随时保存图像§16位自动进样器(可选),可连续测量16个样品。样品会自动被转移到样品台上进行逐个扫描,每个样品可以按照相同的或者特定的策略进行扫描§二维/三维数据分析,面/体绘制软件实现三维可视化,终结果可输出到手机或者平板电脑上(iOSandAndroid),并导出STL文件用于3D打印布鲁克的材料试验台可以进行比较大4400 N的压缩试验和比较大440 N的拉伸试验。重庆电子三维模型显微CT哪里好
SKYSCAN 1272 CMOS XRM可以无损地实现泡沫内部结构的三维可视化。重庆电子三维模型显微CT哪里好
ROIShrink-wrap功能可以完美的解决复杂形态ROI的自动选取,并且可以与CTAn的另一个功能PrimitiveROI相结合,可以ROI包含我们感兴趣的边界。高分辨率X射线三维成像系统可以应用在多孔介质渗流特性的研究中,与入口和出口表面相连通的孔隙在其中起到关键作用,高精度三维成像系统如何在错综复杂的孔隙网络中选取其中起关键作用的区域对于多孔介质渗流机理的研究就至关重要了。下图展示了X射线三维纳米显微镜中ROIShrink-wrap与PrimitiveROI相结合所获取与上下表面相通的孔隙网络。重庆电子三维模型显微CT哪里好