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EX-SMART-F 系列双色红外测温仪与单色测温仪，抗干扰能力是两者本质的区别。单色测温仪在多尘、高湿环境中，镜头污染会导致发射率降低，测量温度偏低；目标未充满视场时，易受背景高温影响，出现测量偏差。双色测温仪则因两个波段信号同步衰减，比值不变，可忽略灰尘、水汽、目标遮挡的影响，且无需严格要求目标充满视场，安装灵活性更高。例如在钢铁厂线材轧制场景，线材快速移动且存在抖动，单色测温仪易因目标未充满视场导致数据波动，而双色测温仪能稳定捕捉真实温度。玻璃熔炉、钢化加工需用思捷玻璃行业红外测温仪。温度传感器高温计现货

思捷 STRONG-SR 系列双色红外测温仪是针对高温工况研发的关键产品，测温范围覆盖 600℃~3200℃（分段），适配高温炉、石墨炉、真空炉及半导体制造等严苛场景。该系列采用 Si/Si 叠层硅探测器，测温波长为 (0.7~1.08)μm/1.08μm 或 (0.9~1.7)μm/1.7μm，测量精度达 ±0.5% T（T 为测量温度值），分辨率 0.1℃，重复精度 ±2℃，可捕捉高温环境下的细微温度变化。其优势在于双色测温技术：即使检测环境存在灰尘、水汽或目标部分遮挡，信号衰减 95% 仍不影响测温结果，完美解决传统单色测温仪受环境干扰大的痛点。距离系数涵盖 60:1、100:1 至 200:1，例如 STRONG-SR-7032 型号距离系数 200:1，150mm~5000mm 测量距离内光斑只有 0.75mm~25mm，适配小目标高温测量。产品支持 PID 恒温控制，探测器温度稳定在 40℃，全量程温度补偿避免环境温度（带水冷 - 20℃~+200℃）波动影响，搭配高亮度绿色 LED、目镜或彩视频瞄准（所见即所测），是钢铁、半导体等高温行业的理想选择。天津品牌高温计国内品牌准确测温，红外仪帮你把好关！

思捷MARS-F系列光纤单色红外测温仪，聚焦高污染、强电磁干扰的工业场景，如铸造、感应加热、半导体单晶炉等，通过光纤传导光学信号，实现抗干扰与耐高温双重突破。该系列测温范围600℃~3000℃（分段），探测器分为Si硅光电池（工作波长0.85~1.1μm）与InGaAs铟镓砷（工作波长1.45~1.7μm），测量精度±0.5%T，分辨率0.1℃，重复精度±2℃，满足工业级准确测温需求。产品采用耐高温光纤设计，镜头及光纤可在-20℃~+250℃环境下工作，配合吹扫装置（压力0.1MPa，流量6L/min），有效防止灰尘、水汽污染镜头。距离系数100:1或200:1，例如MARS-FS型号距离系数200:1，测量距离150mm~5000mm时，光斑0.75mm~25mm，适配小目标测量。此外，产品具备PID恒温控制与全量程温度补偿，内置EMI滤波器抗2500VDC脉冲群干扰，工业级OLED屏显示清晰，支持RS485通讯与光耦继电器输出，可无缝接入工业自动化系统，为恶劣环境下的设备安全与工艺优化提供稳定温度数据。

第三代半导体（如碳化硅、氮化镓）长晶过程对温度精度要求极高，长晶炉内温度需控制在1500℃~2500℃，温差超±5℃即影响晶体质量。思捷STRONG-SR系列双色红外测温仪，凭借高精度、抗干扰特性，成为长晶炉测温的关键设备。该系列采用叠层硅探测器，测温精度±0.5%T，分辨率0.1℃，可实现长晶炉内温度的微差监测。双色测温技术消除炉内惰性气体（如氩气）、粉尘及晶体挥发物对测量的干扰，即使光学通道存在轻微污染，仍保持数据准确。产品支持PID恒温控制，探测器温度稳定在40℃，全量程温度补偿避免环境温度（带水冷-20℃~+200℃）波动影响，确保长期测量精度。此外，视频瞄准功能可清晰观察炉内晶体生长状态，所见即所测，便于准确定位测温点；RS485通讯接口将温度数据实时传输至长晶控制系统，实现温度自动调节。某半导体企业应用后，碳化硅晶体缺陷率下降18%，长晶周期缩短10%，充分体现其技术优势。恶劣环境不怕，红外测温仪耐造！

在低温环境（如冷库、冷链运输）中，红外高温计也能发挥作用，但需选对型号并注意使用方法。普通红外高温计在 - 20℃以下环境中，可能出现电池耗电快、显示屏反应慢的问题，需选低温适配款 —— 这类产品通常采用耐低温电池和元器件，能在 - 40℃的环境中正常工作。测量时要注意：低温物体的红外辐射较弱，需缩短测量距离（建议 5-10 厘米），并确保镜头不结霜（可提前用保温套包裹仪器，避免镜头温度骤降）。在冷链物流中，它能快速测冷藏车厢内的温度，或冻品表面温度，比传统温度计更高效，也减少了开门测温导致的冷气流失。测量精度较高，满足多数日常及工业需求。保定在线式红外高温计零售价格

0.5% 测温精度，2℃重复精度，严苛工业标准下，思捷测温仪准确作答。温度传感器高温计现货

思捷光电STRONG-SR系列双色红外测温仪，是针对高温工业场景研发的产品，测温范围覆盖600℃~3200℃（分段），适配高温炉、石墨炉、真空炉及半导体制造等严苛工况。该系列采用Si/Si叠层硅探测器，测温波长为(0.7~1.08)μm/1.08μm，测量精度达±0.5%T（T为测量温度值），分辨率0.1℃，重复精度±2℃，确保高温环境下的准确数据输出。其优势在于双色测温技术——即使检测环境存在灰尘、水汽或目标部分遮挡，信号衰减95%仍不影响测温结果，完美解决传统单色测温仪受环境干扰大的痛点。距离系数涵盖60:1、100:1至200:1，可根据测量距离与目标大小灵活选择，例如距离系数200:1时，150mm~5000mm测量距离内，光斑只有0.75mm~25mm，适配小目标高温测量。此外，产品支持PID恒温控制与全量程温度补偿，避免环境温度（-20℃~+200℃带水冷）对精度的影响，搭配高亮度绿色LED、目镜或视频瞄准（所见即所测），安装调试便捷，是钢铁、半导体等高温行业的理想选择。温度传感器高温计现货