大兴安岭非接触式红外测温仪

思捷光电单色测温仪采用了一系列先进的抗干扰技术。对探测器实施 PID 恒温控制，能有效消除环境温度波动对测量结果的干扰，确保在不同环境温度下都能稳定测量。特殊设计的窄带红外滤片，大幅降低检测器受发射率变化的影响，即便被测物体表面材质复杂、发射率不稳定，也能准确测量温度。在电磁干扰强烈的工业环境，如电力变电站、大型电机附近，其通过软硬件看门狗、硬件 EMI 滤波等设计，提高系统稳定性，可抗 2500VDC 脉冲群干扰，保证测量数据的准确性与可靠性，为工业现场复杂环境下的温度测量提供坚实保障。快速高效，1-3 秒即可完成测量。大兴安岭非接触式红外测温仪

钢材连铸是钢铁生产的关键环节，需实时监测结晶器、二次冷却区及铸坯表面温度，避免因温度波动导致铸坯裂纹、缩孔等缺陷。思捷光电针对连铸场景，提供以STRONG系列双色红外测温仪的定制解决方案，适配连铸全流程需求。在结晶器出口（800℃~1400℃），采用STRONG-SR-7026双色测温仪（700℃~2600℃），200:1距离系数可远距离监测铸坯表面温度，5ms响应时间捕捉铸坯快速移动时的温度变化，双色模式不受结晶器蒸汽与灰尘干扰，即使信号衰减95%仍保持精度。二次冷却区（400℃~800℃）选用STRONG-GR-3514（350℃~1400℃），叠层铟镓砷探测器适配中低温段测量，镜头吹扫装置（压力0.1MPa，流量6L/min）防止冷却水雾污染，确保数据稳定。连铸坯成品检测（600℃~1200℃）则用STRONG-SR-6016，60:1距离系数适配成品检测线布局，支持RS485组网，将温度数据实时上传至连铸控制系统。某钢铁厂应用后，铸坯合格率提升3.2%，设备故障率下降20%。长春光纤式测温仪使用方法掌握关键技术，拥有自主知识产权，品质有保障。

常州思捷光电的单色测温仪在精度方面表现优异，测温精度可达 0.5%，重复精度达 2℃。这一高精度特性，使得其在工业生产的众多环节发挥关键作用。例如在热处理工艺中，对金属材料的加热、冷却温度把控要求极为严格，思捷单色测温仪能准确测量温度，确保金属获得理想的组织结构与力学性能。其高精度得益于先进的探测器技术以及对探测器的 PID 恒温控制，有效降低环境温度对测量的干扰，特殊设计的窄带红外滤片，很大程度减少发射率变化带来的影响，从硬件与软件算法多方面保障测量精度，为生产过程提供可靠的温度数据支撑，助力企业提升产品质量，减少次品率。

非接触式红外测温仪与其他测温设备区别还是比较大。和热电偶比，热电偶接触测温，适合高温静态物体，精度高但是响应慢；非接触式响应快，测动态物体，但精度的受环境影响。与热像仪相比，热像仪生成温度分布图，能看整体温度分布，适合检测设备整体发热情况，价格高；非接触式红外测温仪测单点温度，价格低，便携性好，适合单点快速测温。和红外热像仪的简化版相比，功能更单一，专注单点测温，操作更简单，适合普通用户日常使用。镜头清洁即能用，红外测温仪易维护。

光伏单晶硅生产中，从铸锭、拉晶到切片，温度控制直接影响硅料纯度与晶体结构，进而决定光伏组件转换效率。思捷光电针对单晶硅生产全流程，提供多系列红外测温仪解决方案，覆盖各关键环节。单晶硅铸锭炉（800℃~1600℃）采用STRONG-SR-6016双色测温仪，60:1距离系数适配炉体结构，双色模式不受炉内硅蒸汽与石墨粉尘干扰，测量精度±0.5%T，确保铸锭过程温度均匀，减少硅料浪费。单晶炉拉晶环节（1400℃~2000℃）选用MARS-G-3530单色测温仪（获“常州市高新技术产品”认定，编号202304JK004），InGaAs探测器适配中高温段，100:1距离系数准确测量硅熔体界面温度，5ms响应捕捉拉晶速度变化时的温度波动，保障晶体生长稳定。晶圆加工的薄膜沉积工艺（300℃~800℃）则用STRONG-GR-2512，250℃~1200℃量程适配低温段，窄带红外滤片减少薄膜材料发射率变化影响。整套方案支持数据存储与曲线分析，某光伏企业应用后，单晶硅片转换效率提升0.3%，原料损耗降低2.5%。红外测温仪，为生产温度把控关。石家庄单色红外测温仪价格

双色测温技术可抗水汽、烟雾等环境干扰。大兴安岭非接触式红外测温仪

非接触式红外测温仪优势明显。首要的是安全性，在测高温物体如熔炉时，无需靠近，避免人员烫伤；测传染性强的物体，能减少交叉传染，医疗领域尤为重要。其次是高效性，响应快，1 - 3 秒出结果，在车站等人流密集处快速筛查体温，远超接触式。且能测移动或难以接触的物体，如高速运转的电机。另外，适用范围广，测温区间从 - 50℃到 3000℃以上，可满足工业、医疗等多领域需求。还能减少对被测物的影响，测高温塑料时不会因接触改变其温度和形态。大兴安岭非接触式红外测温仪