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光斑位置光斑分析仪怎么选型

来源: 发布时间:2025年04月28日

光斑分析仪通过检测光斑形态、尺寸及能量分布评估光束质量,由光学传感器与数据处理系统构成。Dimension-Labs 推出两大系列产品:扫描狭缝式覆盖 200-2600nm 宽光谱,支持 2.5μm 至 10mm 光斑测量,可测千万级功率;相机式则通过高灵敏度传感器实现实时成像。全系产品集成 M² 因子测试模块与分析软件,提供光斑椭圆率、发散角等 20+ISO 11146 标准参数,覆盖光通信、医疗、工业等多场景需求。 产品优势: 满足测试需求的全系列产品 适配所有Beamhere光斑分析仪的M M2因子测试模块 精心设计的分析软件 软件真正做到交互友好,简单易用,一键输出测试报告。Z-block 器件生产检验中的光斑分析仪质量检测。光斑位置光斑分析仪怎么选型

光斑分析仪

光斑分析仪通过光学传感器将光斑能量分布转化为电信号,结合算法分析实现光束质量评估。其传感器采用量子阱材料设计,响应速度达 0.1μs,可捕捉皮秒级激光脉冲。Dimension-Labs 产品采用双技术路线:扫描狭缝式通过 0.1μm 超窄狭缝逐行扫描,实现 2.5μm 至 10mm 光斑的高精度测量,配合动态增益补偿技术,在千万级功率下仍保持线性响应;相机式则利用面阵传感器实时成像,支持 200-2600nm 全光谱覆盖,像素分辨率达 1280×1024,动态范围达 60dB。全系标配 M² 因子测试模块,结合 BeamHere 软件,可自动计算发散角、椭圆率等参数,并通过高斯拟合算法将测量误差控制在 ±0.8% 以内,终生成符合 ISO 11146 标准的测试报告。激光聚焦直径光斑分析仪是什么光斑分析仪都有哪些类型?

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在激光应用领域,高功率光束检测一直是个难题。传统面阵传感器十分灵敏,在每平方厘米约 10μW 的功率水平下就会饱和,常规激光器功率远超此强度,不衰减光束不仅无法测量光斑信息,还可能损坏设备。维度光电为此推出 BeamHere 光斑分析仪系列及适配的高功率光束取样系统。其扫描狭缝式光斑分析仪采用创新的狭缝物理衰减机制,可直接测量近 10W 的高功率激光,无需额外衰减片。在此基础上,还推出单次取样与双次取样两款衰减配件,可组装叠加形成多次取样系统。与合适衰减片搭配,可测功率超 1000W。单次取样配件型号 DL - LBA - 1,45° 倾斜设计,取样率 4% - 5%,有 C 口安装方式和锁紧环结构,能测量任意角度入射激光;双次取样配件型号 DL - LBA - 2,内部紧凑安装两片取样透镜,取样率 0.16% - 0.25%,可应对 400W 功率光束,多面体结构有多个支撑安装孔位。组合安装配件可进一步衰减更高功率激光,大衰减程度达 10⁻⁸。而且其紧凑结构的取样光程能满足聚焦光斑测量需求,单次取样 68mm,双次取样 53mm,为各类激光应用场景的检测提供了方案。

维度光电的BeamHere光斑分析仪系列品类齐全。从精细的微小光斑分析到大面积的宏观光斑探测,从**能量到高能量密度的光斑测量,无一不在其覆盖范围之内。无论是科研实验中对微小光斑现象的,需要超高分辨率的光斑分析;还是工业生产里对大功率激光加工光束质量的把控,涉及高能量密度光斑的监测,BeamHere光斑分析仪都能出色胜任。 其应用方案更是丰富多样。在激光加工领域,可助力企业优化切割、焊接工艺,确保光斑能量均匀分布,提高加工精度与效率;于生物医学成像方面,能够帮助科研人员清晰解析光学成像系统中的光斑特性,提升成像质量与诊断性;在光通信行业,为光信号的传输质量检测提供有力保障,确保数据传输的高速与稳定。M² 因子测量模块怎么选?维度光电 M² 因子测量模块,搭配光斑分析仪,测量激光光束质量。

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维度光电Dimension-Labs BeamHere 系列作为全光谱光束分析解决方案,致力于为激光技术应用提供 "一站式" 质量管控工具。产品矩阵覆盖 190-2700nm 超宽光谱,融合扫描狭缝式(2.5μm-10mm 光斑)与相机式(400-1700nm 成像)两大技术平台,形成从亚微米级高功率检测到毫米级动态监测的立体覆盖。通过 ISO 11146 认证的 M² 因子测试模块,结合 AI 算法,实现光束质量的量化评估与预测。模块化设计支持设备功能动态扩展,适配激光加工、医疗、科研等多场景需求,助力客户构建智能化光束检测体系。半导体行业激光光束质量检测方案。光斑位置光斑分析仪怎么收费

扫描狭缝光斑分析仪有国产的吗?光斑位置光斑分析仪怎么选型

使用维度光电BeamHere 光斑分析仪开展光斑与光束质量测量的流程 系统搭建:将 BeamHere 相机式光斑分析仪的传感器置于激光束路径,通过支架调节位置确保光斑完整覆盖 sensor。使用 USB 3.0 数据线连接设备与电脑,安装 BeamHere V3.2 软件并完成驱动校准。 数据采集:开启半导体激光器至稳定输出状态,软件选择 "连续采集" 模式,设置曝光时间 50μs,帧率 100fps,同步触发激光器确保单脉冲捕捉。 参数提取:软件自动识别光斑区域,计算 FWHM 直径(XY 轴)、椭圆率、能量集中度等 12 项基础参数,同时基于 ISO 11146 标准算法生成 M² 因子、瑞利长度等光束质量指标。 可视化分析:切换至 3D 视图旋转观察能量分布,通过 "刀边法" 验证光斑对称性,标记异常区域进行局部放大分析。 报告输出:点击 "生成报告" 按钮,自动插入测试日期、激光器参数、测量曲线等内容,支持 PDF/A4 排版或自定义 LOGO 导出。光斑位置光斑分析仪怎么选型

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