光束质量光斑分析仪制造商

Dimension-Labs 推出的相机式光斑分析仪系列包含两个型号，覆盖 400-1700nm 宽光谱范围，实现可见光与近红外波段光斑的实时显示与分析。其优势如下： 宽光谱覆盖与动态分析 单台设备即可满足 400-1700nm 全波段测量需求，支持 2D 光斑实时成像与 3D 功率分布动态分析。高帧率连续测量模式下，可实时捕捉光斑变化并生成任意视角的 3D 视图，为光学系统调试、动态测试及时间监控提供直观数据支持。 复杂光斑适应性 基于面阵传感器的成像原理，可测量非高斯分布光束（如平顶、贝塞尔光束）及含高阶横模的复杂光斑，突破传统扫描式设备的局限性。 功率调节系统 标配 6 片不同衰减率的滤光片，通过独特的转轮结构实现功率范围扩展，可测功率提升 100 倍。一键切换滤光片设计简化操作流程，兼顾宽量程与高精度需求。 科研级功能拓展 采用模块化可拆卸设计，光斑分析相机与滤光片转轮可分离使用。拆卸后的相机兼容通用驱动软件，支持科研成像、光谱分析等扩展应用，实现工业检测与实验室的一机多用。如何评判激光质量的好坏？光束质量光斑分析仪制造商

维度光电-光斑分析仪的使用 科研场景 将 BeamHere 安装在飞秒激光实验平台，使用触发模式同步采集单脉冲光斑。 通过软件 "时间序列分析" 功能，观察脉冲序列中光斑形态变化。 调用 "光束质量评估" 模块，计算啁啾脉冲的 M² 因子演变曲线。 在 "用户自定义" 界面添加波长、脉宽等实验参数，生成带批注的报告。 工业场景 在激光切割设备光路中插入 BeamHere，选择 "在线监测" 模式。 实时显示光斑椭圆率、能量分布均匀性等参数。 当检测到光斑漂移超过阈值时，软件自动触发警报并记录异常数据。 每日生成生产质量报表，统计良品率与设备稳定性趋势。beam here光斑分析仪怎么收费M²因子测量模块，兼顾光斑与光束质量一站式测试。

Dimension-Labs 为激光设备与生产企业推出 Beamhere 光束质量管家。该系统通过智能检测模块，可快速完成光斑能量分布测绘、发散角计算及 M² 因子分析，帮助用户优化光束整形效果、提升聚焦精度。所有测试参数均符合 ISO11146 国际标准，包含光斑宽度、质心位置等指标。可选配的 M² 测试功能可动态分析光束传播特性，终由软件自动生成专业测试报告，将传统人工检测效率提升 80% 以上。 产品优势： 满足测试需求的全系列产品 适配所有Beamhere光斑分析仪的M M2因子测试模块 精心设计的分析软件 软件真正做到交互友好，简单易用，一键输出测试报告。

光斑分析仪通过光学传感器将光斑能量分布转化为电信号，结合算法分析实现光束质量评估。Dimension-Labs 产品采用双技术路线：扫描狭缝式通过 0.1μm 超窄狭缝逐行扫描，实现 2.5μm 至 10mm 光斑的高精度测量；相机式则利用面阵传感器实时成像，支持 200-2600nm 全光谱覆盖。全系标配 M² 因子测试模块，结合 BeamHere 软件，可自动计算发散角、椭圆率等参数，并生成符合 ISO 11146 标准的测试报告。 产品优势： 满足测试需求的全系列产品 适配所有Beamhere光斑分析仪的M M2因子测试模块 精心设计的分析软件 软件真正做到交互友好，简单易用，一键输出测试报告。脉冲激光光束质量怎么测检测？维度光电，超快激光器研发利器。

Dimension-Labs 维度光电相机式与狭缝式光斑分析仪的选择需基于应用场景的光斑尺寸、功率等级、脉冲特性及形态复杂度。相机式基于面阵传感器成像，可测大10mm 光斑（受限于 sensor 尺寸），小光斑为 55μm（10 倍 5.5μm 像元），结合 6 片衰减片（BeamHere 标配）实现 1W 功率测量，适合大光斑、脉冲激光（触发模式同步捕获单脉冲）及非高斯光束（如贝塞尔光束）检测，通过面阵实时反馈保留复杂形态细节。狭缝式采用正交狭缝扫描，刀口模式可测小 2.5μm 光斑，创新狭缝物理衰减机制允许直接测量近 10W 高功率激光，适合亚微米光斑、高功率及高斯光斑检测，但需严格匹配扫描频率与激光重频以避免脉冲丢失，且复杂光斑会因狭缝累加导致能量分布失真。维度光电 BeamHere 系列提供双技术方案，用户可根据光斑尺寸（亚微米选狭缝，大光斑选相机）、功率等级（高功率选狭缝，微瓦级选相机）及光斑类型（复杂形态选相机，高斯光斑选狭缝）灵活选择，实现光斑检测全场景覆盖。光斑分析仪培训服务？维度光电提供线上 + 线下技术培训，包教包会。光束质量光斑分析仪制造商

可用于产线检测的光斑分析仪。光束质量光斑分析仪制造商

维度光电光束质量测量解决方案基于两大技术平台： 扫描狭缝式系统：采用正交狭缝转动轮结构，通过 ±90° 旋转实现 XY 轴同步扫描，结合刀口 / 狭缝双模式切换，突破亚微米级光斑检测极限。光学系统集成高灵敏度光电探测器，配合高斯拟合算法，实现 0.1μm 分辨率与 ±0.8% 测量重复性。 相机式成像系统：搭载背照式 CMOS 传感器（量子效率 95%@500-1000nm），结合非球面透镜组消除畸变，支持皮秒级触发同步与全局快门技术，捕捉单脉冲光斑形态。算法通过二阶矩法计算 M² 因子，测量精度达 ±0.3%。 创新突破： 狭缝物理衰减机制实现 10W 级激光直接测量 面阵传感器动态范围扩展技术支持 1μW-1W 宽功率检测 AI 缺陷诊断模型自动识别光斑异常（率 97.2%）光束质量光斑分析仪制造商