光束质量光斑分析仪操作

Dimension-Labs维度光电重磅推出Beamhere光斑分析仪系列产品,配合通用软件实现完整的光束质量分析功能。 光斑能量分布与光東发散角、M2因子是激光光東质量检测中的组成部分,高效的测量与分析是充分利用激光的前提。Beamhere系列产品功能完善,能够对光束整形、聚焦光斑与光束准直等场景进行检验评估,并提供符ISO11146标准所规定的光斑参数,如光東宽度、峰值中心与椭圆率等。系列产品均可选配M2因子测试模块,实现光東传播方向上的束腰位置、光東发散角与M2因子的测量。BeamHere把对于激光光束的评价进行量化,并由软件一键输出测试报告,且高效的完成光束分析。如何评判激光质量的好坏？光束质量光斑分析仪操作

Dimension-Labs 突破性推出 Beamhere 智能光斑分析平台，通过模块化设计实现光束质量全参数检测。该系统采用高灵敏度传感器阵列，可实时测绘光斑能量分布，同步计算发散角及 M² 因子等指标。针对光束整形、聚焦优化等场景，系统提供专业分析模板，支持 ISO11146 标准参数输出。可选配的 M² 测试模块通过滑轨式扫描技术，实现光束传播特性的三维重建，终由 AI 算法自动生成包含能量集中度、椭圆率等 20 + 参数的测试报告。 产品优势： 满足测试需求的全系列产品 适配所有Beamhere光斑分析仪的M M2因子测试模块 精心设计的分析软件。 软件真正做到交互友好，简单易用，一键输出测试报告。激光光斑分析仪光斑分析仪维护成本？维度光电远程指导维修，降低 80% 人工成本。

维度光电致力于激光领域的应用，将展示一系列针对千瓦级高功率、微米级小光斑以及脉冲激光的光束质量测量解决方案。在此次展示中，我们将拆解光斑分析仪的全系列产品，深度剖析其技术，从光学原理到智能算法，为您层层揭秘。通过实际操作演示，直观展现产品在复杂工况下的良好的稳定性和超高测量精度。 我们将详细介绍光斑分析仪的工作原理，包括其光学系统的设计、信号处理技术以及数据处理算法等环节。同时，我们还将展示光斑分析仪在不同应用场景中的表现，例如在工业生产、科研探索以及质量检测等方面的实际应用案例。通过这些案例，您可以了解到光斑分析仪如何在各种复杂环境下保持高稳定性和高测量精度。 此外，针对工业生产和科研探索的不同需求，我们还将分享一系列精心打造的一站式完备方案。这些方案不仅包括光斑分析仪，还涵盖了其他相关设备和软件，旨在为您提供专业的技术支持和服务。我们的目标是帮助您突破技术瓶颈，在激光领域取得新的突破，从而推动整个行业的发展。

维度光电-光斑分析仪的使用 科研场景 将 BeamHere 安装在飞秒激光实验平台，使用触发模式同步采集单脉冲光斑。 通过软件 "时间序列分析" 功能，观察脉冲序列中光斑形态变化。 调用 "光束质量评估" 模块，计算啁啾脉冲的 M² 因子演变曲线。 在 "用户自定义" 界面添加波长、脉宽等实验参数，生成带批注的报告。 工业场景 在激光切割设备光路中插入 BeamHere，选择 "在线监测" 模式。 实时显示光斑椭圆率、能量分布均匀性等参数。 当检测到光斑漂移超过阈值时，软件自动触发警报并记录异常数据。 每日生成生产质量报表，统计良品率与设备稳定性趋势。高功率激光光束质量怎么测？

Dimension-Labs 针对高功率激光检测难题推出 BeamHere 大功率光束取样系统，突破传统面阵传感器在 10μW/cm² 饱和阈值的限制，通过创新狭缝物理衰减机制实现 10W 级激光直接测量，配合可叠加的单次（DL-LBA-1）与双次（DL-LBA-2）取样配件形成多级衰减方案，衰减达 10⁻⁸，可测功率超 1000W。该系统采用 45° 倾斜设计的单次取样配件支持 4%-5% 取样率，双次配件内置双片透镜实现 0.16%-0.25% 取样率，均配备 C 口通用接口和锁紧环结构，支持任意角度入射光束检测。其优化设计的 68mm（单次）和 53mm（双次）取样光程确保聚焦光斑完整投射至传感器，解决传统外搭光路光程不足问题，紧凑结构减少 70% 空间占用。系统覆盖 190-2500nm 宽光谱范围，通过 CE/FCC 认证，可在 - 40℃至 85℃环境稳定工作，已成功应用于工业激光加工（热影响区≤30μm）、科研超快激光（皮秒脉冲分析）及医疗设备校准（能量均匀性误差＜2%），帮助客户提升 3 倍检测效率并降** 30% 检测成本。Z-block 器件生产检验中的光斑分析仪质量检测。维度科技光斑分析仪光斑测试

发散较大，怎么测量光束质量？光束质量光斑分析仪操作

在激光应用领域，高功率光束检测一直是个难题。传统面阵传感器十分灵敏，在每平方厘米约 10μW 的功率水平下就会饱和，常规激光器功率远超此强度，不衰减光束不仅无法测量光斑信息，还可能损坏设备。维度光电为此推出 BeamHere 光斑分析仪系列及适配的高功率光束取样系统。其扫描狭缝式光斑分析仪采用创新的狭缝物理衰减机制，可直接测量近 10W 的高功率激光，无需额外衰减片。在此基础上，还推出单次取样与双次取样两款衰减配件，可组装叠加形成多次取样系统。与合适衰减片搭配，可测功率超 1000W。单次取样配件型号 DL - LBA - 1，45° 倾斜设计，取样率 4% - 5%，有 C 口安装方式和锁紧环结构，能测量任意角度入射激光；双次取样配件型号 DL - LBA - 2，内部紧凑安装两片取样透镜，取样率 0.16% - 0.25%，可应对 400W 功率光束，多面体结构有多个支撑安装孔位。组合安装配件可进一步衰减更高功率激光，大衰减程度达 10⁻⁸。而且其紧凑结构的取样光程能满足聚焦光斑测量需求，单次取样 68mm，双次取样 53mm，为各类激光应用场景的检测提供了方案。光束质量光斑分析仪操作