维度光电Dimension-Labs BeamHere 系列作为全光谱光束分析解决方案,致力于为激光技术应用提供 "一站式" 质量管控工具。产品矩阵覆盖 190-2700nm 超宽光谱,融合扫描狭缝式(2.5μm-10mm 光斑)与相机式(400-1700nm 成像)两大技术平台,形成从亚微米级高功率检测到毫米级动态监测的立体覆盖。通过 ISO 11146 认证的 M² 因子测试模块,结合 AI 算法,实现光束质量的量化评估与预测。模块化设计支持设备功能动态扩展,适配激光加工、医疗、科研等多场景需求,助力客户构建智能化光束检测体系。半导体行业激光光束质量检测方案。束腰半径光斑分析仪费用是多少
Dimension-Labs 推出 Beamhere 系列光斑分析仪,通过配套通用软件构建完整光束质量评估体系。该系统集成光斑能量分布测绘、发散角测量及 M² 因子计算三大功能,可有效分析光束整形、聚焦及准直效果。所有参数均符合 ISO11146 标准,包括光斑宽度、质心偏移量和椭圆率等指标。用户可选配 M² 测试模块,实现光束传播方向上的束腰定位、发散角测量及 M² 因子计算,终通过软件一键生成标准化测试报告。BeamHere把对于激光光束的评价进⾏量化,并由软件⼀键输出测试报告,精确且⾼效的完成光束分析。维度光斑分析仪操作光束发散角测量原理是什么?
在激光应用领域,高功率光束检测一直是个难题。传统面阵传感器十分灵敏,在每平方厘米约 10μW 的功率水平下就会饱和,常规激光器功率远超此强度,不衰减光束不仅无法测量光斑信息,还可能损坏设备。维度光电为此推出 BeamHere 光斑分析仪系列及适配的高功率光束取样系统。其扫描狭缝式光斑分析仪采用创新的狭缝物理衰减机制,可直接测量近 10W 的高功率激光,无需额外衰减片。在此基础上,还推出单次取样与双次取样两款衰减配件,可组装叠加形成多次取样系统。与合适衰减片搭配,可测功率超 1000W。单次取样配件型号 DL - LBA - 1,45° 倾斜设计,取样率 4% - 5%,有 C 口安装方式和锁紧环结构,能测量任意角度入射激光;双次取样配件型号 DL - LBA - 2,内部紧凑安装两片取样透镜,取样率 0.16% - 0.25%,可应对 400W 功率光束,多面体结构有多个支撑安装孔位。组合安装配件可进一步衰减更高功率激光,大衰减程度达 10⁻⁸。而且其紧凑结构的取样光程能满足聚焦光斑测量需求,单次取样 68mm,双次取样 53mm,为各类激光应用场景的检测提供了方案。
使用 BeamHere 光斑分析仪测量光斑与光束质量的流程 1. 成像原理 BeamHere 采用背照式 CMOS 传感器,量子效率达 95%(500-1000nm),配合非球面透镜组实现无畸变成像。 2. 信号处理 采集到的模拟信号经 16 位 ADC 转换,通过数字滤波算法消除噪声,确保弱光信号(SNR>40dB)还原。 3. 参数计算 光斑尺寸:基于高斯拟合与阈值分割法 M² 因子:采用 ISO 11146-1:2005 标准的二阶矩法 发散角:通过不同位置光斑尺寸计算斜率 4. 校准流程 内置波长校准模块(400-1700nm),每年需用标准光源进行增益校准,确保测量精度 ±1.5%。 5. 数据安全 测量数据自动加密存储于本地数据库,支持云端备份,符合 GDPR 数据保护法规。激光光束质量评判标准,测量仪器都有哪些。
使用 BeamHere 光斑分析仪测量激光光斑和质量,包括以下步骤: 准备:准备 BeamHere 光斑分析仪、激光器和数据处理软件。确保光斑传感器放置并连接到计算机。 数据采集:启动激光器,稳定照射传感器,实时传输图像信息到计算机。 数据分析:BeamHere 软件自动处理数据,计算光斑参数和光束质量参数,支持 2D/3D 视图。 结果展示:软件以图表和数值展示结果,一键生成包含所有数据的测试报告,便于导出和打印。 这些步骤帮助用户测量光斑和光束质量,支持激光技术。光斑分析仪以旧换新?维度光电推出设备升级计划。激光聚焦直径光斑分析仪光斑测试
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维度光电-光斑分析仪的使用 科研场景 将 BeamHere 安装在飞秒激光实验平台,使用触发模式同步采集单脉冲光斑。 通过软件 "时间序列分析" 功能,观察脉冲序列中光斑形态变化。 调用 "光束质量评估" 模块,计算啁啾脉冲的 M² 因子演变曲线。 在 "用户自定义" 界面添加波长、脉宽等实验参数,生成带批注的报告。 工业场景 在激光切割设备光路中插入 BeamHere,选择 "在线监测" 模式。 实时显示光斑椭圆率、能量分布均匀性等参数。 当检测到光斑漂移超过阈值时,软件自动触发警报并记录异常数据。 每日生成生产质量报表,统计良品率与设备稳定性趋势。束腰半径光斑分析仪费用是多少