beam here光斑分析仪制造商

相机式与狭缝式光斑分析仪对比指南 光斑分析仪的选择需基于应用场景的光斑尺寸、功率、脉冲特性及形态复杂度： 1. 光斑尺寸 相机式：受限于 sensor 尺寸（≤10mm），小光斑为 55μm（10 倍 5.5μm 像元）。 狭缝式：刀口模式可测小 2.5μm 光斑，适合亚微米级检测。 2. 功率范围 相机式： 6 片衰减片（BeamHere 标配），可测 1W，需控制功率 < 10μW/cm²。 狭缝式：狭缝物理衰减机制支持近 10W 直接测量，无需外置衰减片。 3. 脉冲激光 相机式：触发模式同步捕获完整单脉冲光斑，兼容性强。 狭缝式：需匹配扫描频率与激光重频，易丢失脉冲信息。 4. 光斑形态 相机式：面阵传感器保留非高斯光束（如贝塞尔光束）及高阶横模细节。 狭缝式：狭缝累加导致复杂光斑失真，适合高斯或规则光斑。 选择建议 狭缝式：亚微米光斑、高功率或高斯光斑检测。 相机式：大光斑、脉冲激光或复杂非高斯光束分析。 维度光电 BeamHere 系列提供两种技术方案，适配实验室与工业场景的全场景需求。用于千瓦光斑测量的大功率配件。beam here光斑分析仪制造商

使用 BeamHere 光斑分析仪测量光斑与光束质量的流程 1. 成像原理 BeamHere 采用背照式 CMOS 传感器，量子效率达 95%（500-1000nm），配合非球面透镜组实现无畸变成像。 2. 信号处理 采集到的模拟信号经 16 位 ADC 转换，通过数字滤波算法消除噪声，确保弱光信号（SNR>40dB）还原。 3. 参数计算 光斑尺寸：基于高斯拟合与阈值分割法 M² 因子：采用 ISO 11146-1:2005 标准的二阶矩法 发散角：通过不同位置光斑尺寸计算斜率 4. 校准流程 内置波长校准模块（400-1700nm），每年需用标准光源进行增益校准，确保测量精度 ±1.5%。 5. 数据安全 测量数据自动加密存储于本地数据库，支持云端备份，符合 GDPR 数据保护法规。准直器生产光斑分析仪网站可用于自动化设备集成的光斑质量分析仪。

Dimension-Labs 针对高功率激光检测难题推出 BeamHere 大功率光束取样系统，突破传统面阵传感器在 10μW/cm² 饱和阈值的限制，通过创新狭缝物理衰减机制实现 10W 级激光直接测量，配合可叠加的单次（DL-LBA-1）与双次（DL-LBA-2）取样配件形成多级衰减方案，衰减达 10⁻⁸，可测功率超 1000W。该系统采用 45° 倾斜设计的单次取样配件支持 4%-5% 取样率，双次配件内置双片透镜实现 0.16%-0.25% 取样率，均配备 C 口通用接口和锁紧环结构，支持任意角度入射光束检测。其优化设计的 68mm（单次）和 53mm（双次）取样光程确保聚焦光斑完整投射至传感器，解决传统外搭光路光程不足问题，紧凑结构减少 70% 空间占用。系统覆盖 190-2500nm 宽光谱范围，通过 CE/FCC 认证，可在 - 40℃至 85℃环境稳定工作，已成功应用于工业激光加工（热影响区≤30μm）、科研超快激光（皮秒脉冲分析）及医疗设备校准（能量均匀性误差＜2%），帮助客户提升 3 倍检测效率并降** 30% 检测成本。

如何使用光斑分析仪 Step 1 准备设备 将 BeamHere 光斑分析仪固定在光具座上，调整高度使激光束中心与 sensor 靶面重合。用 Type-C 线连接分析仪与电脑，打开 BeamHere 软件等待设备识别。 Step 2 采集数据 开启激光器预热 10 分钟，点击软件 "开始采集" 按钮。实时观察 2D 成像界面，确保光斑无过曝或欠曝，可通过转轮调节衰减片至合适状态。 Step 3 分析参数 在 "高级分析" 模块勾选所需参数，软件自动计算光斑尺寸（±0.5μm 精度）、能量均匀性（CV 值）及光束质量因子。3D 视图支持手势缩放，便于观察高阶横模分布。 Step 4 验证结果 切换至 "历史记录" 对比多次测量数据，使用 "统计分析" 功能生成标准差曲线。若发现异常，可调用 "单点测量" 工具检查特定位置能量值。 Step 5 导出报告 在 "报告模板" 中选择 "科研版" 或 "工业版"，自动生成带水印的 PDF 报告，包含光斑图像、参数表格、趋势图表及 QC 判定结果。M²因子测量模块，兼顾光斑与光束质量一站式测试。

维度光电深刻认识到高功率光束检测在激光应用中的性和难度。大多数光斑分析仪使用的面阵传感器在**功率下就会饱和，而常规激光器功率普遍较高，这使得大功率光束检测成为激光应用的难点。为解决这一问题，维度光电推出 BeamHere 光斑分析仪系列和大功率光束取样系统。扫描狭缝式光斑分析仪凭借创新的狭缝物理衰减机制，可直接测量近 10W 高功率激光，保障了测试过程的安全与高效。为应对更高功率，又推出单次和双次取样配件，可叠加使用形成多次取样系统。搭配合适衰减片，可测功率超 1000W。单次取样配件 DL - LBA - 1，取样率 4% - 5%，采用 45° 倾斜设计和 C 口安装，有锁紧环可固定在任意方向测量不同角度入射激光；双次取样配件 DL - LBA - 2，取样率 0.16% - 0.25%，内部两片取样透镜紧凑安装，能应对 400W 功率光束，多面体结构便于工业或实验环境安装。组合安装配件可获得高衰减程度，实现更高功率激光测量。同时，其紧凑结构设计的取样光程满足聚焦光斑测量，单次 68mm，双次 53mm，为激光生产提供了强大的检测支持。如何评判激光质量的好坏？准直器生产光斑分析仪软件

光斑分析仪能测束腰位置吗？beam here光斑分析仪制造商

维度光电BeamHere 光斑分析仪系列，提供全场景激光光束质量分析解决方案。产品覆盖 190-2700nm 光谱，包括扫描狭缝式和相机式技术，实现亚微米至毫米级光斑测量。扫描狭缝式支持 2.5μm-10mm 光斑检测，具备 0.1μm 分辨率，适用于高功率激光。相机式提供 400-1700nm 响应，实现 2D/3D 成像分析，测量功率范围 1μW-1W。M² 因子测试模块基于 ISO 11146 标准，评估光束质量。软件提供自动化分析和标准化报告。技术创新包括正交狭缝转动轮结构和适应复杂光斑的面阵传感器。产品适用于光束整形检验、光镊系统检测和准直监测。结构设计优化，通过 CE/FCC 认证，应用于多个领域，助力光束质量分析和工艺优化。beam here光斑分析仪制造商