芯片研发制造过程链条漫长,很多重要工艺环节需进行精密检测以确保良率,降低生产成本。提高制造控制工艺,并通过不断研发迭代和测试,才能制造性能更优异的芯片,走向市场并逐渐应用到生活和工作的方方面面。由于芯片尺寸小,在温度循环下的应力,传统测试方法难以获取;高精度光学非接触应变测量技术的发展,打破了原先在微观尺寸测量领域的限制,特别是在半导体材料、芯片结构变化细微的测量条件下,三维应变测量技术分析尤为重要。光学非接触应变测量通过超前加工技术实现材料强度的可持续提高。云南VIC-Gauge 2D视频引伸计总代理

随着我国航空航天事业的飞速发展,新型飞行器的飞行速度越来越快,随之带来的是对其热防护结构的更高要求,由此热结构材料的高温力学性能成为热防护系统与飞行器结构设计的重要依据。数字图像相关法(DIC)是近年来新兴的一种光学非接触应变测量方法,相较于传统的变形测量方法,光学非接触应变测量具有适用范围广、环境适应性强、操作简单和测量精度高的优点,尤其是在高温实验的测量中具有独特的优势。某单位在模拟实验中采用两台高速相机拍摄风洞风载下垂尾模型的震颤研究状况,通过光学应变测量系统分析不同风速下各个位置(标记点)的振动和散斑(C区域)的变形状态,获得了该尾翼振动模态参数与振型。上海VIC-3D数字图像相关技术测量装置光学测量技术不只精度高,还能适应各种环境和条件,是现代建筑物变形监测的理想选择。

金属应变计的应变计因子通常约为2,通过传感器厂商或相关文档可获取应变计的实际应变计因子。实际上,应变测量的量很少大于几个毫应变(ex10⁻³)。因此,光学非接触应变测量时必需精确测量电阻极微小变化。例如,假设测试样本的实际应变为500me,应变计因子为2的应变计可检测的电阻变化为2(500x10⁻⁶)=0.1%。对于120Ω的应变计,变化值单为0.12Ω。为测量如此小的电阻变化,应变计配置基于惠斯通电桥的概念。常见的惠斯通电桥由四个相互连接的电阻臂和激励电压VEX组成。
对于一些小型的变压器来说,要是绕组遭到变形严重的时候,比如扭曲、鼓包等,这也许会造成匝间短路,对于中型变压器来说呢,还有可能会致使主绝缘击穿。因此,这就必须对变压器的绕组变形进行检测,这就可以让我们了解到它的变形情况如何,帮助我们去预防一些变压器事故的发生。对变压器进行绕组变形测量就是为了找到一个快速、有效的方法检测变压器绕组变形,尤其是在设备明明已经出现了一些如短路这样的故障了,但是在一些比较常规的试验中你却依然没有发现它有任何的异常,越在这种情况下,有效检测绕组变形就越必要。光学非接触应变测量认准研索仪器!

可以通过大变形拉伸实验,研究橡胶材料在拉伸应力作用下的变形情况,结合试验的方法对橡胶材料与金属材料的抗拉力学性能,结合有限元分析和实验结果,对特殊材质橡胶拉伸发生的应力、形变和位移进行测量,为提高橡胶材料综合力学性能提供数据依据。传统的位移和应变测量方法往往采用引伸计与应变片等接触式方法进行,精度较高,但应变片需直接粘贴于式样表面,并通过接线的方式与采集箱连接,使用繁琐且量程有限。如若针对于橡胶类材料的拉伸实验,由于材料本身的特殊性,不易黏贴应变片,再加之橡胶拉伸变形大,普通的引伸计和应变片量程不足,无法满足测量要求。光学非接触应变测量的设备和技术相对复杂,需要高水平的专业知识和技能进行操作和维护。西安三维全场非接触式应变测量系统
光学非接触应变测量可以实现非接触式的应变测量,具有普遍的应用前景。云南VIC-Gauge 2D视频引伸计总代理
针对特殊测试场景,研索仪器提供了定制化解决方案。在介观尺度测量领域,µTS 介观尺度原位加载系统填补了纳米压头与宏观加载设备之间的技术空白,通过 DIC 技术与显微镜结合,可获取局部应变场的精细数据;面对极端环境需求,MML 极端环境微纳米力学测试系统能在真空环境下 - 100℃至 1000℃的温度范围内实现纳米级力学测试,攻克了恶劣条件下的测量难题。此外,红外 3D 温度场耦合 DIC 系统、3D Micro-DIC 显微测量系统等特色产品,进一步拓展了测量技术的应用边界。云南VIC-Gauge 2D视频引伸计总代理