全场非接触应变测量

技术特点非接触性：避免接触式测量（如应变片）对被测物体的力学干扰，尤其适用于柔软材料、高温 / 低温环境、高速运动物体；高精度：应变测量精度可达 10⁻⁶~10⁻⁹量级，位移精度可达纳米级（激光干涉法）或微米级（DIC）；全场测量：可同时获取被测物体表面任意点的应变 / 位移数据，而非单点测量，便于分析整体变形规律；适应性强：可用于高温、低温、高压、强腐蚀、高速运动等恶劣工况，兼容金属、复合材料、塑料、橡胶等多种材料。研索仪器光学非接触应变测量系统具有亚微米级位移分辨率，应变测量精度达0.005%。全场非接触应变测量

光学非接触应变测量的关键优势源于其创新原理与技术特性。与接触式测量相比，该技术通过光学系统采集物体表面图像信息进行分析，全程无需与被测对象产生机械交互，从根本上避免了加载干扰、样品损伤等问题。其中，数字图像相关（DIC）技术作为主流实现方式，通过三大关键步骤完成精密测量：首先在物体表面制作随机散斑图案作为特征标记，可采用人工喷涂或利用自然纹理；随后通过高分辨率相机在变形过程中连续采集图像序列；借助相关匹配算法追踪散斑灰度模式变化，计算得到三维位移场与应变场数据。这种测量方式不仅实现了从 "单点测量" 到 "全场分析" 的跨越，更将位移测量精度提升至 0.01 像素级别，为细微变形检测提供了可能。广东光学数字图像相关变形测量光学非接触应变测量认准研索仪器！

针对特殊测试场景，研索仪器提供了定制化解决方案。在介观尺度测量领域，µTS 介观尺度原位加载系统填补了纳米压头与宏观加载设备之间的技术空白，通过 DIC 技术与显微镜结合，可获取局部应变场的精细数据；面对极端环境需求，MML 极端环境微纳米力学测试系统能在真空环境下 - 100℃至 1000℃的温度范围内实现纳米级力学测试，攻克了恶劣条件下的测量难题。此外，红外 3D 温度场耦合 DIC 系统、3D Micro-DIC 显微测量系统等特色产品，进一步拓展了测量技术的应用边界。

研索仪器基于 DIC 技术构建的产品矩阵，展现了光学非接触测量的全场景适配能力。作为美国 Correlated Solutions 公司（全球 DIC 技术创始者）的中国区合作伙伴，研索仪器引入的 VIC 系列产品涵盖从平面到立体、从静态到动态的全维度测量需求。VIC-2D 平面应变场测量系统以超过 1,000,000 数据点 / 秒的处理速度，支持光学畸变与 SEM 漂移校正，成为材料平面力学测试的高效工具；VIC-3D 表面应变场测量系统则实现了多尺度、多物理场的综合测量，其行业前沿的精度与可重复性，可满足从微观材料到大型结构的复杂测试需求。光学三维应变测量技术达到了非接触性、无破坏性、精度和分辨率高以及测量速度快等特点。

在材料力学性能评估、结构可靠性验证的科研与工业场景中，应变测量始终是关键技术支撑。传统接触式测量依赖应变片、引伸计等器件的物理接触，不仅易干扰测试载荷分布、损伤精密样品，更受限于 "单点采样" 的先天缺陷，难以捕捉复杂结构的全场变形规律。随着制造对测试精度的要求迈入微米级甚至纳米级，光学非接触应变测量技术凭借其独特优势实现跨越式发展。研索仪器科技（上海）有限公司（ACQTEC）深耕该领域十余年，以数字图像相关（DIC）技术为关键，构建起覆盖多尺度、全场景的测量解决方案体系，成为连接国际先进技术与中国产业需求的桥梁。研索仪器光学非接触应变测量，捕捉材料细微形变动态。新疆VIC-2D数字图像相关应变测量系统

无需接触被测物，研索光学应变测量规避干扰，获取更真实材料力学响应。全场非接触应变测量

相位调制机制光波在传播过程中，材料变形引起的光程差会改变其相位分布。以干涉测量为例，两束相干光在变形表面反射后产生干涉条纹，条纹位移量与表面变形呈线性关系。通过相位解包裹算法，可将干涉条纹转化为连续相位场，进而计算应变分布。相位调制技术具有亚波长级灵敏度，但需严格控温以消除空气折射率波动干扰。频率调制机制多普勒效应是频率调制的典型体现。当激光照射到运动或变形表面时，反射光频率会发生偏移，偏移量与表面速度成正比。激光多普勒测振仪（LDV）通过检测频率偏移实现振动速度测量，而集成多普勒效应的应变测量系统则可进一步通过速度梯度计算应变率。此类技术适用于高速动态过程分析，但设备成本较高且对被测表面反射率敏感。全场非接触应变测量