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湖南Psylotech试验机代理商

来源: 发布时间:2023年03月29日

扫描电镜原位加载设备的相关应用:1、进行动态观察:如果在样品室内装有加热、冷却、弯曲、拉伸和离子刻蚀等附件,则可以观察相变、断烈等动态的变化过程。2、从试样表面形貌获得多方面资料:因为扫描电子象不是同时记录的,它是分解为近百万个逐次依此记录构成的。使得扫描电镜除了观察表面形貌外还能进行成分和元素的分析,以及通过电子通道花样进行结晶学分析,选区尺寸可以从10μm到3μm。现在扫描电镜已大范围的用于材料科学(金属材料、非金属材料、纳米材料)、冶金、生物学、医学、半导体材料与器件、地质勘探、病虫害的防治、灾害(火灾、失效分析)鉴定、刑事侦察、宝石鉴定、工业生产中的产品质量鉴定及生产工艺控制等。原位加载设备系统双轴单独控制,可实现双轴比例加载、双轴非比例加载、单轴单独加载。湖南Psylotech试验机代理商

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原位加载扫描电镜的扩展技术:扫描电镜原位加载技术是观测材料在拉伸作用下断裂破坏行为很方便、直观的观测设备,但是,该技术也存在一定的缺陷,如:由于SEM的成本太高,实验系统难以大量普及;SEM加载腔的有限尺寸使得原位拉伸台必须通过精密的加工工艺材料生产与组装,又进一步提高了实验装置的成本;加载腔的尺寸限制还增大了集成多种加载装置的困难,难以对高延伸率的样品进行观测,更难以实现对材料在不同温度载荷作用下细观损伤破坏过程的研究;此外,SEM的观测往往还需对样品进行喷金处理,观测过程要抽真空,使得高感度的危险材料、含水材料、含易挥发物质的材料等的观测形成了困难。贵州uTS原位加载设备销售公司SEM原位加载设备扫描电子显微镜,简称为扫描电镜。

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uTS原位加载系统:光学显微镜和DIC数字图像相关技术的结合,可以满足纳米级精度测量需求。光学显微镜受可见光波长限制分辨率只能达到250nm,由于DIC技术具有强大图像处理能力可以准确实现0.1像素位移测量,因此uTS显微测试系统的分辨率可达到25nm。在光学显微镜下材料的原位加载实验中,较大挑战在于加载过程产生的离面位移,高分辨率位移场需要高放大倍数显微镜,意味着景深很小,几微米的离面位移就会造成显微镜失焦。uTS显微测试系统针对离面位移有特殊的设计,有效地控制了离面位移对实验结果影响。

SEM原位加载设备的基本构造和成像原理:组成部件:电子设备、电子透镜、扫描系统、电子收集系统(形貌分析)、成像荧光屏、X射线接收系统。由电子设备发出的电子束在电场的作用下加速,经过三个透镜聚焦成直径为5nm或更细的电子束。该电子束在样品表面进行逐行扫描,激发样品产生出各种物理信号。信号探测器收集这些并按顺序、成比例地转换为视频信号。通过对其中某种信号的捡测,视频放大和信号处理,之后在显示屏上获得能反映样品表面特征的扫描图象。原位加载系统是指材料在进行拉伸/压缩试验的同时,对受测试样进行实时观测,并记录应力-应变曲线。

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CT原位加载系统:由液压油通过活塞对试样施加载荷,或者直接对试样施加围压载荷。加载同时X射线照射罐体中试样,得到试样CT扫描图像。为得到不同角度的CT扫描图像,加载装置在加载同时缓慢转动。如果加载过程中信号采用有线形式传输,在加载过程中会出现导线缠绕的问题,跨过罐体上下端的导线还会影响CT扫描图像的效果,因此系统方案设计中考虑信号的传输采用无线传输形式。另外,为防止射线泄露,工业CT主机放置在用硫酸钡砖砌成的CT屏蔽室内,因而无线信号也无法穿透墙体,到达隔壁的CT监控室。鉴于以上特殊情况,设计了如图1所示的系统方案。整个系统由安装在加载装置上的下位机、放置于CT屏蔽室的无线路由器、放置于CT监控室的PC上位机三部分组成。利用原位拉伸扫描电镜研究了新型环氧树脂复合材料在拉伸与剪切等作用下的细观损伤过程。安徽原位加载试验机

在光学显微镜下材料的原位加载实验中,较大挑战在于加载过程产生的离面位移。湖南Psylotech试验机代理商

扫描电镜原位加载设备的相关知识点:1.光学显微镜以可见光为介质,电子显微镜以电子束为介质,由于电子束波长远较可见光小,故电子显微镜分辨率远比光学显微镜高。光学显微镜放大倍率较高只有约1500倍,扫描式显微镜可放大到10000倍以上。2.根据deBroglie波动理论,电子的波长单与加速电压有关。3.扫描式显微镜有一重要特色是具有超大的景深(depthoffield),约为光学显微镜的300倍,使得扫描式显微镜比光学显微镜更适合观察表面起伏程度较大的样品。湖南Psylotech试验机代理商

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