福建便携式光谱仪

X-MET8000是日立高科技公司生产的一款手持式光谱仪，采用的是XRF技术，与Vulcan手持激光光谱仪有相同的形状，同样坚固和多功能性。X-MET光谱仪为各种合金提供精确的化学成分和牌号ID，包括钢，镍合金，铜合金，铝合金等。通过可选的保护性Hero窗口膜，可用于测量高达400°C的样品。这使得可以在加工热金属、高温设备以及玻璃等物质的生产线上进行现场测试，质量保证和控制非常方便。然而当在元素周期表上分析镁以下的元素时，需要OES技术，而流行的选择是PMI-MasterSmart直读光谱仪，日立的便携式OES解决方案。由于碳和氮等元素的检测水平非常低，可用于提高钢的硬度和其他物理因素，因此非常适用于金属行业的高精度PMI。它也是认证金属部件的优先仪器，例如化工厂，石化和发电厂的压缩和储罐，管道和管材。在材料必须耐高温和高压以及腐蚀性物质的情况下，100％PMI是必不可少的，而这就是PMI-masterSmart直读光谱仪的设计宗旨。无论何种金属，无论处于哪个工艺阶段，日立分析仪的产品都将是您**有价值的分析工具。福建便携式光谱仪

便携式X射线荧光光谱仪可以快速进行多元素实时分析,在富钴结壳资源勘查中有广阔的应用前景,但是现有仪器的分辨率和稳定性有待进一步提高,特别是现场原位分析法的应用有待研究。本文针对富钴结壳中目标元素含量相对较高的特点，采用松散粉末法制样，建立了手持式X射线荧光光谱仪快速测定太平洋富钴结壳样品中Mn、Fe、Co、Ni、Cu和Zn的分析方法。该方法用多金属结核和富钴结壳国家标准物质进行验证,测定值的相对标准偏差(RSD)在0.2%～3.0%之间,测定值与标准值的相对误差为92.9%～107.6%。样品现场分析和实验室分析的数据对比表明，除了低含量Cu略有超差外，Mn、Fe、Co、Ni、Zn和品位均无超差，完全满足该类矿产资源勘查规程的要求。本法简单、高效,适用于对野外富钴结壳资源作出快速的初步评价。宁波尼通光谱仪参数便携式光谱仪确保现场材质鉴定。

当英国GT公司测试日立手持Vulcan激光诱导击穿（LIBS）光谱仪时，他们对准确识别牌号和分辨标签错误的样品的速度印象深刻，标签错误可能对其业务造成灾难性的后果。现在有了日立手持Vulcan激光诱导击穿（LIBS）光谱仪，他们可以绕过昂贵的第三方测试，避免使用不可靠的供应商，同时又可以确保其产品的质量和安全性。作为用于固定货物的棘轮带制造商，GT深知产品故障对健康、安全和 商誉的影响。他们也知道他们的声誉建立在一致的产品标准和零部件的质量上。越来越多的事例表明，包括钢材在内的金属被贴错标签，或者供应商将将一个牌号当作另一种牌号出售，这可能会导致严重的后果。GT工厂的零部件测试有时由成本高昂的第三方公司进行，有时也在内部进行。

激光技术几乎是一种无损检测技术，样品表面*会留下一个很小的烧伤痕迹（4mm长，0.5μm宽/深），只会消耗微量的材料。烧伤痕迹的可见度取决于被分析的材料（例如铝或不锈钢）。许多客户认为LIBS烧伤痕迹*相当于表面粗糙度，而非产品缺陷。激光光谱仪校准范围大，涵盖所有常见的合金类型，包括铝合金、不锈钢、低合金钢、镍合金等。内置超过1500种合金的牌号库，在需要时提供可靠的牌号鉴别。激光光谱仪没有复杂的设置，在测量小零件时也无需使用台式支架或防护罩。与使用XRF光谱仪不同，测量时可将样品安全地拿在手中。4.3英寸的屏幕方便阅读，长达8-10小时的电池续航能力意味着它可以全天使用，为数千个样品提供准确的测量结果。海秦治实业有限公司是日立分析仪器中国区战略合作伙伴，是手持光谱仪中国区***代理商。

全球**的家用电器制造商为不锈钢灶具开发了性的防污保护镀层。如果此创新镀层需要防污性能，则施加的镀层厚度必须符合定义的规格。为了确保生产过程中使用正确镀层，该设备制造商将日立高科技的X-MET手持式XRF（X射线荧光）光谱仪引入了在美国的质量控制计划中。XRF对产品进行非破坏性测试，传统的不锈钢器具在其使用寿命期间通常会显示污迹，污渍和指纹，从而降低了器具的美学价值。在炉灶上，由于高温，钢材在燃烧器周围变色是很常见的。制造商发现，这些设备上的透明镀层可以消除日常使用中的污迹，污渍和指纹。为了使这种镀层达到其独特的性能，所施加的镀层厚度必须符合预定的规格。为了确保生产过程中使用正确镀层厚度，他们将日立的X-MET光谱仪引入了质量控制程序。有不同品牌、不同型号，每一款仪器操作都不一样手持光谱仪一般操作简单点对准样品照一下检测结果就出来了。金华手持合金光谱仪技术

X-MET手持式X荧光光谱合金分析仪10秒就能快速准确的测出铝合金中的Mg镁的含量值。福建便携式光谱仪

使用手持式X-MET8000光谱仪从金刚石锯片切割的岩石表面进行了代表性的稀土元素分析，以获得每个样品的“标准”表面稀土元素含量，这是获得良好结果所必需的。岩石样品可能非常不均匀，因此化学成分在岩石的不同点上可能变化很大，需要多个测量点来获得代表性的结果。为了验证切割岩石表面的XRF（X射线荧光）结果，在经过认证的实验室中使用ICP-MS（电感耦合等离子体质谱仪）分析了相同的岩石样品，二个结果非常接近。要获得***的总体结果，必须对异质样品进行多次测量。由于岩石基质的异质性，单次测量的变化可能很大，随着测量次数的增加，平均结果的准确性得以提高福建便携式光谱仪

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