海南pcb板电阻测试系统

必须重视和加快发展元器件的可靠性分析工作，通过分析确定失效机理，找出失效原因，反馈给设计、制造和使用，共同研究和实施纠正措施，提高电子元器件的可靠性。电子元器件失效分析的目的是借助各种测试分析技术和分析程序确认电子元器件的失效现象，分辨其失效模式和失效机理，确认结果的失效原因，提出改进设计和制造工艺的建议，防止失效的重复出现，提高元器件可靠性。电迁移的发生不仅同离子有关，它需要离子，电压差，导体，传输通道，湿气以及温度等各种因素综合作用，在长期累积下产生的失效。所以，通过在样品上施加各类综合应力来评估产品后期使用的电迁移风险就显得异常重要。采用单独恒压源输出和超微型电流表 ， 确保测试数据的高精度与稳 定性。海南pcb板电阻测试系统

    并行扫描架构：GWLR-256采用了独特的并行扫描架构，整个系统被巧妙地设计为4组并行扫描结构，每组包含64个通道，且每组通道都能**运行。这种设计极大地提高了测试效率。同时，系统还集成了智能预检功能，该功能能够在测试开始前，自动识别开通通道，有效杜绝了漏测和误测现象的出现。在大规模的电子元器件测试中，传统的依次测试方式效率低下，而GWLR-256的并行扫描架构和智能预检功能，使得测试过程更加高效、准确，能够快速完成大量通道的测试任务，为企业的生产和质量检测节省了大量时间。宽温域兼容性设计：为了满足航空航天、新能源等特殊行业在极端环境下的测试需求，GWLR-256特别配备了宽温域兼容性设计。系统可选配-70℃~+200℃温度监测模块，该模块的温度测量精度可达±1℃。同时，搭配特佛龙耐高温镀银铜线，确保在极端温度环境下，信号传输依然稳定无衰减。在航空航天领域，电子设备需要在高空低温和发动机高温等极端环境下可靠运行，GWLR-256的宽温域兼容性设计，能够模拟这些极端环境，对相关电子元器件进行导通电阻测试，为航空航天设备的可靠性提供了重要的测试数据支持。 海南pcb板电阻测试系统维柯产品： 提供高达5KV的 测试电压。 国外同行： 测试电压以低电 压为主 ， 高电压不到3KV。

在特定时间内进行快速温度变化，转换时间一般设定为手动2～3分钟，自动少于30秒，小试件则少于10秒。冷热冲击试验是一个加速试验，模拟车辆中大量的慢温度循环。对应实际车辆温度循环，用较快的温度变化率及更宽的温度变化范围，加速是可行的。失效模式为因老化和不同的温度膨胀系数导致的材料裂化或密封失效。冷热冲击试验（气体）以气体为媒介，实现冷热冲击试验有两种方式：一种为手动转换，将产品在高温箱和低温箱之间进行转换；另一种为冲击试验箱，通过开关冷热室的循环风门或其它类似手段实现温度转换。其中温度上限、温度下限为产品的存储极限温度值。

    其次，GWLR-256的批量自动化检测能力极大地提高了焊点可靠性验证的效率。它支持256通道同时进行扫描测试，并且配合功能强大的Windows系统软件，能够实现整个测试流程的全自动化操作。从测试参数设置、数据采集到结果分析，都无需人工过多干预。在大规模的电子制造生产线上，每天需要检测的焊点数量数以万计，如果采用传统的人工检测或者单通道测试设备，不仅效率低下，而且容易出现人为误差。GWLR-256的批量自动化检测功能，使得单批次检测时间相较于人工操作大幅缩短80%以上。这不仅**提高了生产效率，还确保了测试结果的准确性和一致性，有效提升了产线的良品率。此外，GWLR-256还具备强大的数据处理和分析能力。在焊点测试过程中，它能够实时生成详细的电阻数据，并通过内置的算法对这些数据进行深入分析。例如，通过对大量焊点电阻数据的统计分析，系统可以发现潜在的工艺问题，如焊接温度不均匀、焊锡量不足等。这些问题可能在单个焊点的测试中不易被察觉，但通过对大量数据的综合分析，就能够清晰地呈现出来。企业可以根据这些分析结果，及时调整生产工艺，优化焊接参数，进一步提高焊点的质量和可靠性。 具备多项行业优势：采用 64 通道并行扫描架构，全通道测试完成时间≤1分钟，较同类产品效率提升 50% 以上。

测试每一种考验因素对系统的影响，通常以加速老化的方式来测试。这也就是说，测试环境比起正常老化的环境是要极端得多的。此文中的研究对象主要是各种测试电化学可靠性的方法。IPC将电化学迁移定义为：在直流偏压的影响下，印刷线路板上的导电金属纤维丝的生长。这种生长可能发生在外部表面、内部界面或穿过大多数复合材料本体。增长的金属纤维丝是含有金属离子的溶液经过电沉积形成的。电沉积过程是从阳极溶解电离子，由电场运输重新沉积在阴极上。这样的情况必须被排除，确保能够得到有意义的测试结果。虽然环境试验箱被要求能够提供并记录温度为65±2℃或85±2℃、相对湿度为87+3/-2%RH的环境，其相对湿度的波动时间越短越好，不允许超过5分钟。通过模拟极端环境，提前暴露潜在失效风险。海南pcb板电阻测试系统

电迁移（Electromigration, EM）是半导体器件失效的主要机理之一。海南pcb板电阻测试系统

    四线测试Four-Wire或4-WireTest，可以认为是二线开路测试的延伸版本，聚焦于PCB板每个网络Net开路Open的阻值。基本定义与原理四线测试4-WireTest通过分离激励电流与电压测量路径，彻底消除导线电阻和接触电阻的影响，实现毫欧mΩ级高精度测量。四线测试4-WireTest的**是基于欧姆定律(R=V/I)，但通过**回路设计确保测量结果*反映被测物的真实电阻值。如下图所示：通过测量被测元件R的阻值来判定对象R是否存在开路问题。R1和R2：连接被测元件或网络的导线的电阻R3和R4：电压表自带的电阻，用来平衡导线的电阻R：被测元件V：电压表A：电流表线法由来这种避免导线电阻引起误差的测量方法被称为开尔文法或四线法。特殊的连接夹称为开尔文夹，是为了便于这种连接跨越受试者电阻：。 海南pcb板电阻测试系统