湖北离子迁移绝缘电阻测试系统解决方案

必须重视和加快发展元器件的可靠性分析工作，通过分析确定失效机理，找出失效原因，反馈给设计、制造和使用，共同研究和实施纠正措施，提高电子元器件的可靠性。电子元器件失效分析的目的是借助各种测试分析技术和分析程序确认电子元器件的失效现象，分辨其失效模式和失效机理，确认结果的失效原因，提出改进设计和制造工艺的建议，防止失效的重复出现，提高元器件可靠性。电迁移的发生不仅同离子有关，它需要离子，电压差，导体，传输通道，湿气以及温度等各种因素综合作用，在长期累积下产生的失效。所以，通过在样品上施加各类综合应力来评估产品后期使用的电迁移风险就显得异常重要。服务华为、小米等科技企业，以及清华大学等科研机构，在 新能源汽车、医疗电子、高密 PCB 领域经验深厚。湖北离子迁移绝缘电阻测试系统解决方案

    环境或自身产生的高温对多数元器件将产生严重影响，进而引起整个电子设备的故障。一方面，电子元件的“10度法则”指出，电子元件的故障发生率随工作温度的提高呈指数增长，温度每升高10℃，失效率增加一倍；这个法则本质上来源于反应动力学上的阿伦尼乌斯方程和范特霍夫规则估计。另一方面，热失效是电子设备失效的**主要原因，电子设备失效有55%是因为温度过高引起。对于高频高速PCB基板而言，一方面，基板是承载电阻、电容、芯片等产生热量的元件的主要工具。另一方面，高频高速电信号在导线和介质传输时基板自身会产生热量（如高频信号损耗）。若上述热量无法及时导出，会导致局部升温，影响信号完整性，甚至引发分层或焊点失效。而高热导率基材比起传统基板可以快速散热，维持电气参数稳定，因此导热率的评估对高频高速基板非常重要。例如，对于5G毫米波相控阵封装天线，将高低频混压基板与高集成芯片结合，用于20GHz~40GHz频段是目前低成本**优解决方案，能够有效地解决辐射、互联、散热和供电等需求。如图2所示，IBM和高通的5G毫米波封装天线解决方案采用高集成芯片和标准化印制板工艺。（引自：[孙磊.毫米波相控阵封装天线技术综述[J].现代雷达,2020,42(09):.）。 湖北离子迁移绝缘电阻测试系统解决方案绝缘失效、漏电、焊点开裂、热应力损坏等，电子产品的使用寿命和性能，适用汽车电子、航空航天等领域。

热冲击模式可收录温度循环中的低温区/高温区中各1点数据。该模式***于使用温湿度模块时。(a)由于，温湿度箱和测试系统是用不同的传感器测量温度的，因此，多少会产生温度偏差。（同一位置传感器的偏差在±2℃以内）(b)测试值以高温限定值和低温限定值的设定值为基点，在任意设定的收录待机时间后，在各温度下，测量1次，（将高温及低温作为1个循环，各测1次）各限定值的基准以5℃左右内为目标进行设定，而不是温湿度箱的设定温度。另外，将各试验时间（高温时间、低温时间）的一半作为目标设定收录待机时间。

有一个轻微的偏差，因为板没有固定，并有不同的方向相对于气流确保在测试期间SIR测试模块上没有明显的冷凝现象。根据IPC标准，通过测试的模块，在整个测试过程中，其电阻都高于108Ω。测试结果将根据这个限定值判定为通过或失败。相关研究的目的是描述不同回流曲线对助焊剂残留物的影响。在以前的工作中，据说曾经观察到与回流工艺产出的组件相比，使用电烙铁加热和更快冷却速度的返工工位完成的组件显示出更高的离子残留物水平。SIR和局部萃取的结果是通过或失败。判定标准分别基于电路电阻率和萃取液电阻率。为了便于参考，附录中包含了详细的结果。如表1所示，通过被编码为绿色，失败被编码为橙色。结果显示了一个清晰的定义：即所有未清洗的测试模块都没有通过测试，所有清洗过的测试模块都通过了测试。采用单独恒压源输出和超微型电流表 ， 确保测试数据的高精度与稳 定性。

广州维柯信息技术有限公司。GWHR 系列产品以 “速度 + 精度 + 稳定性” 三重优势领跑行业：20ms 极速扫描全通道，远超同业 5 秒 / 通道的传统方案；5000V 超高压测试电压（可选配外电源系统），满足航空航天、高压器件等严苛场景需求，电压输出精度≤±0.5% FS（500-5000VDC）；标配山特 UPS 电源与耐高温特氟龙屏蔽线（200℃耐温，绝缘电阻≥10¹⁴Ω），确保高温高湿环境下数据稳定无干扰。从消费电子 PCB 绝缘检测到新能源汽车高压组件可靠性验证，我们以 1%+10pA 的电流测量精度，为每一次测试结果注入 “工业级可靠” 基因采用 64 通道并行扫描架构，全通道测试完成时间快≤1分钟，较同类产品效率提升 50% 以上。湖北离子迁移绝缘电阻测试系统解决方案

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    -**RTC测试**：通常指**可靠性温度循环测试**（ReliabilityThermalCycling），模拟产品在极端温度变化下的性能。通过高低温循环（如-40°C至125°C）检测材料膨胀系数差异、焊点疲劳等问题，属于机械与环境可靠性测试。2.**测试条件与方法**-**CAF/SIR测试**：-需要高温高湿环境（如85°C/85%RH）及持续电压加载（如50V），实时监控电阻值变化。-使用多通道实时监控系统（如维柯GWHR-256）进行在线数据采集。-**RTC测试**：-通过冷热冲击试验箱或温湿度循环箱，模拟温度快速变化（如每小时10次循环），结合机械应力检测结构稳定性。3.**应用场景**-**CAF/SIR**：适用于高密度PCB、高频电路板或需长期在潮湿环境中工作的产品（如汽车电子、医疗设备）。-**RTC**：用于验证产品在极端温度环境下的耐久性，如航空航天、户外电子设备等。 湖北离子迁移绝缘电阻测试系统解决方案