近期,广州维柯信息技术有限公司完成GWHR256多通道SIR/CAF实时监控测试系统的重大交付项目,几十套产品同时批量交付,客户包括国际**检测机构SGS在深圳和苏州的分支机构。这一里程碑事件不仅彰显了公司在**测试设备领域的核心竞争力,更体现了中国智造在全球产业链中的技术突破。作为行业**的测试解决方案,GWHR256系统严格遵循国际IPCLTM-650标准,其创新性的多通道设计可实现材料性能的精细评估与实时监控,系统凭借完全自主知识产权的技术、智能化数据分析平台和模块化扩展架构,已成功应用于集成电路、新能源材料、智能终端等战略性新兴PCB/FPC产业。 配置 16 台多通道 SIR/CAF 测试系统,实现 4000 + 通道同时量测,绝缘电阻精度达飞安级。湖北SIR绝缘电阻测试方法
参考标准 IEC 60068-2-14 试验方法 N:温度变化中的 Nc。实现方式为吊篮式,将产品放置在吊篮中按照要求浸入不同的温度液体中。则适用于玻璃-金属密封及类似产品,因此电器产品中不予考核该项目。IEC 60068-2-14,Na 以及 ISO 16750-4 5.3.2 冷热冲击试验中推荐的循环数为 5,实际应用中过少,推荐使用表 3 参数。IEC 60068-2-14、ISO 16750-4 、MIL-STD-810F 及 GJB150 中对于冷热冲击的要求循环数都为 5 个循环以内。该三类标准对此试验的定义为:确定装备能否经受其周围大气温度的急剧变化,而不产生物理损坏或性能下降,模拟的情况为:产品的航空运输、航空下投以及其它产品从不同温度区域转移的情况。对于汽车类产品,执行此标准时,因为我们考核的模拟情况不一样,故参数需要进行变动,主要变动参数为:循环数增加(因应用到汽车电器产品中为加速老化试验,故其循环数一般超过 100)。东莞离子迁移电阻测试方法电子制造业:测试 PCB / 材料绝缘,保障产品良率。

必须重视和加快发展元器件的可靠性分析工作,通过分析确定失效机理,找出失效原因,反馈给设计、制造和使用,共同研究和实施纠正措施,提高电子元器件的可靠性。电子元器件失效分析的目的是借助各种测试分析技术和分析程序确认电子元器件的失效现象,分辨其失效模式和失效机理,确认结果的失效原因,提出改进设计和制造工艺的建议,防止失效的重复出现,提高元器件可靠性。电迁移的发生不仅同离子有关,它需要离子,电压差,导体,传输通道,湿气以及温度等各种因素综合作用,在长期累积下产生的失效。所以,通过在样品上施加各类综合应力来评估产品后期使用的电迁移风险就显得异常重要。
PCB基本结构:绝缘基板是PCB基础,常用FR4材料,起支撑和绝缘作用铜箔是导电he心,通过蚀刻形成电路图案,实现电气连接过孔用于层间连接,有通孔、盲孔和埋孔三种类型,PCB组成材料:基材决定PCB的基本性能,常见的有FR4、CEM-3等半固化片(PP)在多层PCB中起粘合和绝缘作用阻焊层防止焊接时短路,通常为绿色,还有其他颜色可选丝印层用于标注元件符号、编号等信息,方便装配和维修。市场规模与技术格局:市场规模中国PCB行业预计2024年市场规模将达3300-3469亿元,全球占比超54%,高可靠性PCB年复合增长率约8%-12%。技术竞争:生益电子借助PCB-ERT技术,预计2024年将因高可靠性多层板需求增长扭亏为盈,净利润达3.58亿元。区域分布L:中国珠三角、长三角集中了70%以上的PCB产能,内陆地区(如江西、湖北)因成本优势逐步承接产业转移。 可模拟汽车电子、航空航天等极端环境下的热应力场景。

(1)CAF、SIR等测试是IPC、IEC等国际标准的**内容,为PCB企业进入**市场(如医疗设备、5G基站)提供资质保障。(2)IPC-TM-650、IEC61189等标准将CAF、SIR等纳入可靠性测试框架,推动行业规范化。许多企业已建立高于行业标准的企业标准,以建立企业技术竞争优势。(3)中国《“十四五”信息通信行业发展规划》和《新能源汽车产业发展规划》明确支持高频高速、高可靠性PCB研发,2024年**工作报告强调“人工智能+”行动,进一步刺激AI服务器PCB需求。绿色制造推动,无卤素基材、环保工艺的测试需求推动行业向低碳化转型,符合全球环保法规(如RoHS)。绝缘失效、漏电、焊点开裂、热应力损坏等,电子产品的使用寿命和性能,适用汽车电子、航空航天等领域。湖南SIR和CAF电阻测试服务
温度循环从低温开始还是从高温开始,根据温度临界值和测试开始时的温度(来自温度传感器表面温度)来判断。湖北SIR绝缘电阻测试方法
助焊剂会涂敷在下图1所示的标准测试板上。标准测试板是交错梳状设计,并模拟微电子学**小电气间隙要求。然后按照助焊剂不同类型的要求进行加热。为了能通过测试,高活性的助焊剂在测试前需要被清洗掉。清洗不要在密闭的空间进行。随后带有助焊剂残留的样板放置在潮湿的箱体内,以促进梳状线路之间枝晶的生长。分别测试实验开始和结束时的不同模块线路的绝缘电阻值。第二次和***次测量值衰减低于10倍时,测试结果视为通过。也就是说,通常测试阻值为10XΩ,X值必须保持不变。这个方法概括了几种不同的助焊剂和工艺测试条件。当金属纤维丝在线路板表面以下生长时,称为导电阳极丝或CAF,本文中不会讨论这种情况,但这也是一个热门话题。当电化学迁移发生在线路板的表面时,它会导致线路之间的金属枝晶状生长,比较好使用表面绝缘电阻(SIR)进行测试。湖北SIR绝缘电阻测试方法